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ScreenshotOnFailureCollector

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object 中
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector

收集器，用于在测试用例失败时捕获并记录屏幕截图。

摘要

公共构造函数
`ScreenshotOnFailureCollector()`

公共方法
`void`	`onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 测试用例失败时的回调。
`void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData)` 测试运行开始时的回调。

public ScreenshotOnFailureCollector ()

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于保存测试用例数据的 `DeviceMetricData`。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：保存运行数据的 `DeviceMetricData`。