" id="screenshotonfailurecollector" tabindex="-1">ScreenshotOnFailureCollector<ph type="x-smartling-void-element"><br></ph>

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector.


テストケースが失敗したときにスクリーンショットをキャプチャしてログに記録するコレクタ。

概要

パブリック コンストラクタ

ScreenshotOnFailureCollector()

パブリック メソッド

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

テストケースが失敗した場合のコールバック。

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

テスト実行が開始されたときのコールバック。

パブリック コンストラクタ


" id="ScreenshotOnFailureCollector()" tabindex="-1">ScreenshotOnFailureCollector<ph type="x-smartling-void-element"><br></ph>

public ScreenshotOnFailureCollector ()

パブリック メソッド

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

テストケースが失敗した場合のコールバック。

パラメータ
testData DeviceMetricData: テストケースのデータを保持する DeviceMetricData

test TestDescription: 進行中のテストケースの TestDescription

例外
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

テスト実行が開始されたときのコールバック。

パラメータ
runData DeviceMetricData: 実行のデータを保持する DeviceMetricData