JP2006014781A - Radiation tomograph - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 55
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims abstract description 127
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 22
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 33
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 16
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 15
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N cadmium telluride Chemical compound [Te]=[Cd] RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
Description
本発明は、放射線断層撮影装置に関し、特に、放射線発生手段から被検体に照射され被検体を透過する放射線を検出して得られる投影データに基づいて、被検体の断層面の画像を生成する放射線断層撮影装置に関する。 The present invention relates to a radiation tomography apparatus, and in particular, radiation that generates an image of a tomographic plane of a subject based on projection data obtained by detecting radiation that is irradiated on the subject from a radiation generation means and passes through the subject. The present invention relates to a tomography apparatus.
放射線断層撮影装置として、放射線であるX線を用いて被検体の断層面の画像を生成するX線CT(Computed Tomography)装置が知られている。X線CT装置は、医療用途や産業用途などの広範な用途で利用されている。 As a radiation tomography apparatus, an X-ray CT (Computed Tomography) apparatus that generates an image of a tomographic plane of a subject using X-rays that are radiation is known. X-ray CT apparatuses are used in a wide range of applications such as medical applications and industrial applications.
X線CT装置は、X線管を用いて被検体にX線を照射する。そして、被検体を透過するX線をX線検出器で検出し、投影データを生成する。X線CT装置は、X線管とX線検出器とを被検体のスライス厚方向を軸に回転させ、被検体の周囲のビュー方向からX線を照射し、それぞれのビュー方向に対応する投影データを生成する。そして、各ビュー方向からの投影データに基づいて、被検体の断層面の画像を再構成して生成する。 The X-ray CT apparatus irradiates a subject with X-rays using an X-ray tube. Then, X-rays that pass through the subject are detected by an X-ray detector, and projection data is generated. The X-ray CT apparatus rotates an X-ray tube and an X-ray detector about the slice thickness direction of the subject, emits X-rays from the view direction around the subject, and projects corresponding to each view direction Generate data. Based on the projection data from each view direction, an image of the tomographic plane of the subject is reconstructed and generated.
上記のX線CT装置において、X線管は、X線を照射する際に高熱を発生し、高熱によって故障が発生する場合がある。このため、従来においては、設定したスキャン条件におけるX線管の温度を算出し、その算出結果がX線管の基準温度範囲を越える場合には、スキャンを待機する指示などをオペレータに示す(たとえば、特許文献1参照)。
しかしながら、スキャンを待機する指示などをオペレータが受ける際、そのスキャン条件によるX線管の状態が明確に示されていないために、オペレータは、判断基準がなく、作業を効率的にすることが困難であった。 However, when the operator receives an instruction to wait for scanning, the state of the X-ray tube according to the scanning condition is not clearly shown, so the operator has no judgment criteria and it is difficult to make the work efficient. Met.
したがって、本発明の目的は、オペレータが作業を効率的にすることが容易に可能な放射線断層撮影装置を提供することにある。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a radiation tomography apparatus that allows an operator to easily perform work efficiently.
上記目的を達成するため、本発明の放射線断層撮影装置は、放射線発生手段から被検体に照射され前記被検体を透過する放射線を検出して得られる投影データに基づいて、前記被検体の断層面の画像を生成する放射線断層撮影装置であって、前記放射線発生手段の温度推移を算出する算出部と、前記算出部により算出された前記放射線発生手段の温度推移を表示する表示部とを有する。 In order to achieve the above object, the radiation tomography apparatus of the present invention provides a tomographic plane of the subject based on projection data obtained by detecting radiation that is irradiated onto the subject from radiation generating means and passes through the subject. A radiation tomography apparatus that generates an image of the above, and includes a calculation unit that calculates a temperature transition of the radiation generation unit, and a display unit that displays the temperature transition of the radiation generation unit calculated by the calculation unit.
本発明の放射線断層撮影装置によれば、放射線発生手段の温度推移を算出部が算出し、その算出部により算出された放射線発生手段の温度推移を表示部が表示する。 According to the radiation tomography apparatus of the present invention, the calculation unit calculates the temperature transition of the radiation generation unit, and the display unit displays the temperature transition of the radiation generation unit calculated by the calculation unit.
本発明によれば、オペレータが作業を効率的にすることが容易に可能な放射線断層撮影装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a radiation tomography apparatus in which an operator can easily perform work efficiently.
<実施形態1>
以下より、本発明にかかる実施形態1について説明する。
<
図1は、本発明にかかる実施形態1の放射線断層撮影装置としてのX線CT装置1の全体構成を示すブロック図であり、図2は、本発明にかかる実施形態のX線CT装置1の要部を示す構成図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of an
図1に示すように、本実施形態のX線CT装置1は、走査ガントリ2と操作コンソール3と撮影テーブル4とを有する。
As shown in FIG. 1, the
走査ガントリ2は、X線管20とX線管温度検知部20aとX線管移動部21とコリメータ22とX線検出器23とデータ収集部24とX線コントローラ25とコリメータコントローラ26と回転部27と回転コントローラ28とを有する。ここで、X線管20とX線検出器23とは、ボア29を挟んで対向して配置されている。
The scanning gantry 2 includes an
X線管20は、たとえば、回転陽極型であり、X線を照射する。X線管20は、図2に示すように、X線コントローラ25からの制御信号CTL251に基づいて、所定強度のX線を被検体6の撮影領域にコリメータ22を介して照射する。また、X線管20は、X線の照射による発熱によって、破損しないように予め基準温度範囲が定められている。
The
X線管温度検知部20aは、温度センサを含み、X線管20の温度を検知する。そして、X線管温度検知部20aは、X線管20の温度の検知データD1を中央処理装置30に出力する。
The X-ray tube
X線管移動部21は、図2に示すように、X線コントローラ25からの制御信号CTL252に基づいて、X線管20の放射中心を、走査ガントリ2におけるボア29内の撮影テーブル4に載置される被検体6のスライス厚方向zに移動させる。
As shown in FIG. 2, the X-ray
コリメータ22は、図1および図2に示すように、X線管20とX線検出器23との間に配置されている。コリメータ22は、たとえば、図2に示すように、チャネル方向xとスライス厚方向zとにそれぞれ2枚ずつ設けられた板により構成されている。コリメータ22は、コリメータコントローラ26からの制御信号CTL261に基づいて、各方向に設けられた2枚の板を独立して移動させ、X線管20から照射されたX線をそれぞれの方向において遮ってコーン状に成形し、X線の照射範囲を調整する。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
X線検出器23は、X線管20と共に回転部27によってスライス厚方向zを軸に回転し、被検体の周囲の複数のビュー方向ごとに被検体を透過するX線を検出して投影データを生成する。X線検出器23は、図2に示すように、X線検出モジュール23Aを有し、複数のX線検出モジュール23Aがチャネル方向xとスライス厚方向zとのそれぞれの方向に沿って配置され構成されている。X線検出器23は、X線検出モジュール23Aが、たとえば、チャネル方向xにJ個並ぶように配列され、また、スライス厚方向zにI個並ぶように配列されている。つまり、X線検出器23は、回転部27による回転方向に沿ったチャネル方向xと、回転部27による回転方向に対して略垂直な方向であるスライス厚方向zとに検出素子23aがアレイ状に2次元的に配列されている。
The
図3は、X線検出器23を構成するX線検出モジュール23Aを示す構成図である。図3に示すように、X線検出モジュール23Aは、X線を検出する検出素子23aがチャネル方向xとスライス厚方向zとにアレイ状に配列されている。2次元的に配列された複数の検出素子23aは、円筒凹面状に湾曲したX線入射面を全体として形成している。ここで、X線検出モジュール23Aは、たとえば、チャネル方向xにi個の検出素子23aが配列されており、スライス厚方向zにはj個の検出素子23aが配列されている。
FIG. 3 is a configuration diagram showing the
検出素子23aは、たとえば、検出したX線を光に変換するシンチレータ(図示なし)と、シンチレータが変換した光を電荷に変換するフォトダイオード(図示なし)とを有し、X線検出器23は固体検出器として構成されている。なお、検出素子23aは、これに限定されるものではなく、たとえば、カドミウム・テルル(CdTe)等を利用した半導体検出素子、あるいはキセノン(Xe)ガスを利用した電離箱型の検出素子23aであって良い。
The
図4および図5は、X線管20とコリメータ22とX線検出器23の相互関係を示す図である。図4において、図4(a)はスライス厚方向zを視線とした状態を示す図であり、図4(b)はチャネル方向xを視線とした状態を示す図である。また、図5は、図4(b)と同様にチャネル方向xを視線とした状態において、被検体6を撮影する様子を示す図である。
4 and 5 are diagrams showing the interrelationship among the
図4(a)および図4(b)に示すように、X線管20から放射されたX線は、コリメータ22によってコーン状に成形され、X線検出器23に照射される。そして、被検体6を撮影する場合においては、撮影テーブル4に被検体6を載置し、その載置された被検体6がボア29に搬入される。そして、図5に示すように、被検体6のスライス厚方向zを軸として被検体6の周囲の複数のビュー方向からX線を照射し、コリメータ22を介して、それぞれのビュー方向ごとに被検体6を透過するX線をX線検出器23で検出し被検体の投影データを生成する。
As shown in FIGS. 4A and 4B, the X-rays emitted from the
データ収集部24は、X線検出器23が検出した放射線によるデータを収集するために設けられている。データ収集部24は、X線検出器23のそれぞれの検出素子23aが検出したX線に基づいて被検体6の投影データを収集して、操作コンソール3に出力する。図2に示すように、データ収集部24は、選択・加算切換回路(MUX,ADD)241とアナログ−デジタル変換器(ADC)242とを有する。選択・加算切換回路241は、X線検出器23の検出素子23aによる投影データを、中央処理装置30からの制御信号CTL303に応じて選択し、あるいは組み合わせを変えて足し合わせ、その結果をアナログ−デジタル変換器242に出力する。アナログ−デジタル変換器242は、選択・加算切換回路241において選択あるいは任意の組み合わせで足し合わされた投影データをアナログ信号からデジタル信号に変換して中央処理装置30に出力する。
The
X線コントローラ25は、図2に示すように、中央処理装置30からの制御信号CTL301に応じて、X線管20に制御信号CTL251を出力し、X線の照射を制御する。X線コントローラ25は、たとえば、X線管20の管電流や照射時間などを制御する。また、X線コントローラ25は、中央処理装置30による制御信号CTL301に応じて、X線管移動部221に対し制御信号CTL252を出力し、X線管20の放射中心をスライス厚方向zに移動するように制御する。
As shown in FIG. 2, the
コリメータコントローラ26は、図2に示すように、中央処理装置30からの制御信号CTL302に応じてコリメータ22に制御信号CTL261を出力し、X線管20から放射されたX線を成形するようにコリメータ22を制御する。
As shown in FIG. 2, the
回転部27は、図1に示すように、回転コントローラ28からの制御信号CTL28に応じて、所定の方向に回転する。回転部27には、X線管20とX線管移動部21とコリメータ22とX線検出器23とデータ収集部24とX線コントローラ25とコリメータコントローラ26とが搭載されており、これらは、回転部27の回転に伴ってボア29に搬入される被検体6に対する位置が変化する。回転部27を回転させることにより、被検体6のスライス厚方向zを軸として複数のビュー方向からX線が照射され、被検体6を透過したX線が検出される。
As shown in FIG. 1, the rotating
回転コントローラ28は、図2に示すように、操作コンソール3の中央処理装置30による制御信号CTL304に基づいて、回転部27に制御信号CTL28を出力し、回転部27を回転するように制御する。
As shown in FIG. 2, the
操作コンソール3は、図1に示すように、中央処理装置30と入力装置31と表示装置32と記憶装置33とを有する。
As shown in FIG. 1, the
図6は、操作コンソール3の中央処理装置30の構成を示す構成図である。
FIG. 6 is a configuration diagram showing the configuration of the
中央処理装置30は、たとえば、コンピュータによって構成されており、図6に示すように、制御部41と、データ処理部51とを有する。
The
制御部41は、被検体6をスキャンするスキャン条件に基づいて、X線管20からX線を被検体6に照射し、被検体6を透過するX線をX線検出器23にて検出するように、各部を制御して走査を行う。具体的には、制御部41は、スキャン条件に基づいて制御信号CTL30aを各部に出力し、スキャンを実行させる。たとえば、制御部41は、撮影テーブル4に制御信号CTL30bを出力し、撮影テーブル4を走査ガントリ2のボア29に搬入または搬出させる。また、制御部41は、回転コントローラ28に制御信号CTL304を出力して、走査ガントリ2の回転部27を回転させる。また、制御部41は、X線管20からX線の照射するように、制御信号CTL301をX線コントローラ25に出力する。そして、制御部41は、制御信号CTL302をコリメータコントローラ26に出力し、コリメータ22を制御してX線を成形する。また、制御部42は、制御信号CTL303をデータ収集部24に出力し、X線検出器23の検出素子23aが得る投影データを収集するように制御する。
The
データ処理部51は、画像生成部61と、スキャン条件設定部71と、温度推移算出部81と、スキャン可能画像枚数算出部90と、スキャン条件変更部91とを有する。
The
画像生成部61は、データ収集部24が収集した投影データに基づいて、被検体の断層面の画像を再構成する。画像生成部61は、たとえば、アキシャルスキャンによる複数のビュー方向からの投影データに対して、感度補正、ビームハードニング補正などの前処理を実施後、フィルタ処理逆投影法によって再構成を行い、被検体6の断層面の画像を再構成して生成する。
The
スキャン条件設定部71は、オペレータによって入力装置31に入力された指令に基づいて、X線管20がX線を照射して被検体をスキャンするスキャン条件を設定する。スキャン条件設定部71は、たとえば、スキャン条件として、アキシャルスキャン方式やヘリカルスキャン方式などのスキャン方式、撮像画像枚数に対応したスキャン回数、X線管20の管電流値および管電圧値、X線照射時間、スライス位置、スライス厚などのスキャンパラメータを設定し、制御部41に出力する。また、スキャン条件設定部71は、オペレータによって入力装置31に入力された指令に基づいて、複数のスキャンをグループ化してスキャングループとし、そのスキャングループによるスキャンを複数行うようにスキャン条件を設定する。スキャン条件設定部71は、たとえば、5mmのスライス厚で3枚の撮像画像を得る条件のスキャンを第1スキャングループとし、2.5mmのスライス厚で3枚の撮像画像を得る条件のスキャンを第2スキャングループとして設定する。
The scan
温度推移算出部81は、X線管20の温度推移を算出する。温度推移算出部81は、X線管温度検知部20aからのX線管20の温度検知データD1を受け、その温度検知データD1の温度から変化する温度を時間に対応させて算出する。温度推移算出部81は、たとえば、X線管20の温度特性を実測して、その温度特性を示す演算式を予め取得し、X線管20の温度特性の演算式に基づいて、X線管20の温度推移を算出する。また、温度推移算出部81は、スキャン条件設定部71がスキャン条件を設定した場合には、温度推移として、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件におけるX線管20の第1の温度推移を算出する。また、温度推移算出部81は、後述するようにスキャン条件変更部91がX線管20の第1の温度推移に基づいて、予め定められた基準温度範囲内にX線管20がなるように、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更した場合には、スキャン条件変更部91により変更されたスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移を算出する。また、温度推移算出部81は、オペレータのよる指示に基づいて、入力装置31が、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件の変更の操作をした場合、温度推移として、入力装置31により変更されたスキャン条件におけるX線管の第2の温度推移を算出する。
The temperature transition calculation unit 81 calculates the temperature transition of the
スキャン可能画像枚数算出部90は、温度推移算出部81により算出されたX線管20の第1の温度推移に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件にてX線管20が基準温度範囲内になる画像枚数を算出する。スキャン可能画像枚数算出部82は、たとえば、スキャン条件設定部71によって200枚の画像を得るスキャン条件が設定された場合において、150枚を超えた時点でX線管20の基準温度範囲を超えることが、スキャン条件温度推移算出部81により算出されたX線管20の第1の温度推移にて判断される場合、150枚までをスキャンによって撮影可能な画像枚数として算出する。
Based on the first temperature transition of the
スキャン条件変更部91は、温度推移算出部81により算出されたX線管20の第1の温度推移に基づいて、予め定められた基準温度範囲内にX線管20がなるように、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。たとえば、スキャン条件変更部91は、X線管20の温度推移が基準温度範囲か否かを判定し、X線管20の温度推移が基準温度範囲外になる場合には、予め定められた基準温度範囲内にX線管20がなるように、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。たとえば、スキャン条件変更部91は、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になる待機時間を算出し、その算出された待機時間に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。たとえば、スキャン条件変更部91は、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるように、X線管20に供給する管電流を算出し、その算出された管電流に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。また、スキャン条件変更部91は、スキャン条件設定部71がスキャンを複数行うようにスキャン条件を設定した場合には、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるような複数のスキャン間の時間間隔を算出し、その算出した時間間隔に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。また、スキャン条件変更部91は、スキャン条件設定部71が複数のスキャンをグループ化してスキャングループとする共に、そのスキャングループによるスキャンを複数行うようにスキャン条件を設定した場合には、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるようなスキャングループ間の時間間隔を算出し、その算出された時間間隔に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。
Based on the first temperature transition of the
操作コンソール3の入力装置31は、たとえば、キーボードやマウスなどの入力デバイスにより構成されている。入力装置31は、オペレータの入力操作に基づいて、スキャン条件や被検体6の情報などの各種情報を中央処理装置30に入力する。また、入力装置31は、オペレータのよる指示に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件の変更の操作をする。
The
表示装置32は、中央処理装置30からの指令に基づき、画像生成部61が再構成した被検体の断層面の画像を表示する。また、表示装置32は、温度推移算出部81により算出されたX線管20の温度推移を表示する。本実施形態においては、表示装置32は、温度推移算出部81により算出された第1および第2の温度推移の両者をグラフで表示する。つまり、表示装置32は、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件におけるX線管20の第1の温度推移を表示する。そして、さらに、表示装置32は、スキャン条件変更部91がその第1の温度推移に基づいて予め定められた基準温度範囲内にX線管20がなるように、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更したスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移を表示する。また、オペレータによって入力装置31に入力された指令に基づいて、スキャン条件変更部91が、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更した場合においては、その変更したスキャン条件におけるX線管20の温度推移を同様にして表示する。
The
記憶装置33は、メモリにより構成されており、画像生成部61が再構成する被検体の断層面の画像などの各種のデータや、プログラムなどを記憶する。記憶装置33は、その記憶されたデータが必要に応じて中央処理装置30にアクセスされる。
The
また、撮影テーブル4は、撮影対象である被検体6を載置するクレードルと、そのクレードルをボアに搬出入する搬出入部により構成されている。撮影テーブル4は、操作コンソール3からの制御信号に基づいて、走査ガントリ2のボア29に被検体6を搬入または搬出する。
The imaging table 4 includes a cradle on which the subject 6 to be imaged is placed and a carry-in / out unit that carries the cradle into and out of the bore. The imaging table 4 carries the subject 6 in or out of the
なお、上記の本実施形態におけるX線CT装置1は、本発明の放射線断層撮影装置に相当する。また、本実施形態におけるX線管20は、本発明の放射線発生手段に相当する。また、本実施形態における表示装置32は、本発明の表示部に相当する。また、本実施形態におけるスキャン条件設定部71は、本発明の設定部に相当する。また、本実施形態における温度推移算出部81は、本発明の算出部に相当する。また、本実施形態におけるスキャン条件変更部91は、本発明の変更部に相当する。また、本実施形態の入力装置31は、本発明の操作部に相当する。
The
以下より、上記の本実施形態のX線CT装置1の動作について説明する。
Hereinafter, the operation of the
図7は、本実施形態のX線CT装置1を用いて被検体を撮影する際の動作を示すフロー図である。
FIG. 7 is a flowchart showing the operation when imaging a subject using the
図7に示すように、まず、スカウトスキャンを実施する(S11)。 As shown in FIG. 7, first, a scout scan is performed (S11).
被検体6のスカウトスキャンを実施する際には、オペレータによって、入力装置31にスカウトスキャン条件の各パラメータ条件が入力され、その入力に基づく操作信号が中央処理装置30に出力される。
When performing a scout scan of the subject 6, each parameter condition of the scout scan condition is input to the
そして、中央処理装置30の制御部41が走査ガントリ2と撮影テーブル4へ制御信号CTL30a,CTL30bを出力する。これによって、制御部41が撮影テーブル4に制御信号CTL30bを出力し、撮影テーブル4を走査ガントリ2のボア29に搬入する。そして、制御部41が、X線管20からX線の照射するように制御信号CTL301をX線コントローラ25に出力すると共に、制御信号CTL302をコリメータコントローラ26に出力し、コリメータ22を制御してX線管20からのX線を成形する。また、制御部41が、制御信号CTL303をデータ収集部24に出力し、X線検出器23の検出素子23aが得る投影データを収集するように制御する。そして、データ収集部24が収集した投影データに基づいて、画像生成部61が被検体のスカウト画像を生成し、表示装置32がそのスカウト画像を表示する。
Then, the
つぎに、本スキャン条件の設定を行う(S21)。 Next, the main scanning condition is set (S21).
本スキャン条件の設定を行う際においては、スカウト画像に基づいて、オペレータが入力装置31に本スキャン条件の各パラメータ条件を入力する。そして、入力装置31は、その入力に基づく指令を中央処理装置30のスキャン条件設定部71に出力する。そして、スキャン条件設定部71は、オペレータによって入力装置31に入力された指令に基づいて、X線管20がX線を照射して被検体をスキャンするスキャン条件を設定する。たとえば、スキャン条件として、アキシャルスキャン方式やヘリカルスキャン方式などのスキャン方式、撮像画像枚数に対応したスキャン回数、X線管20の管電流値および管電圧値、X線照射時間、スライス位置、スライス厚などのスキャンパラメータをスキャン条件設定部71が設定する。具体的には、管電流500mAで200枚の画像を得るようにスキャン条件を設定する。
When setting the main scan condition, the operator inputs each parameter condition of the main scan condition to the
つぎに、X線管20の温度推移の算出を行う(S31)。
Next, the temperature transition of the
X線管20の温度推移の算出を行う際においては、X線管温度検知部20aからのX線管20の温度検知データD1と、スキャン条件設定部71が設定したスキャン条件のデータとを温度推移算出部81が取得し、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、その時点での温度検知データD1の温度から変化する温度を時間に対応させ、第1の温度推移を温度推移算出部81が算出する。
When calculating the temperature transition of the
たとえば、温度推移算出部81は、予め取得していたX線管20の温度特性の演算式に基づいて、X線管20の温度推移を算出する。
For example, the temperature transition calculation unit 81 calculates the temperature transition of the
つぎに、X線管20の温度推移が基準温度範囲か否かを判定する(S41)。
Next, it is determined whether or not the temperature transition of the
ここでは、温度推移算出部81により算出されたX線管20の第1の温度推移に基づいて、スキャン条件変更部91が、X線管20の温度推移が基準温度範囲か否かを判定する。
Here, based on the first temperature transition of the
そして、X線管20の温度推移が基準温度範囲内である場合には、本スキャンの実施(S71)を行い、X線管20の温度推移が基準温度範囲内である場合には、本スキャン条件の変更(S51)を行う。
When the temperature transition of the
本スキャン条件の変更を行う際においては、スキャン条件変更部91が、予め定められた基準温度範囲内にX線管20がなるように、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。
When changing the main scan condition, the scan
たとえば、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になる待機時間を算出し、その算出された待機時間に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。また、たとえば、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるように、X線管20に供給する管電流を算出し、その算出された管電流に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。
For example, in the scan condition set by the scan
そして、スキャン条件変更部91により変更されたスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移を温度推移算出部81が算出する。また、この時、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるように、スキャンにより撮影可能な画像枚数をスキャン可能画像枚数算出部90が算出する。なお、オペレータのよる指示に基づいて、入力装置31が、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件の変更の操作をした場合には、温度推移算出部81は、温度推移として、入力装置31により変更されたスキャン条件におけるX線管の第2の温度推移を算出する。
Then, the temperature transition calculation unit 81 calculates the second temperature transition of the
つぎに、X線管20の温度推移を表示し確認を行う(S61)
Next, the temperature transition of the
図8は、X線管20の温度推移の表示画像を示す図である。図8においては、時間に対応して連続的に撮像される画像枚数を横軸とし、それに対応して算出されるX線管20の温度を縦軸として示している。
FIG. 8 is a view showing a display image of the temperature transition of the
図8に示すように、温度推移算出部81により算出されたX線管20の温度推移を表示装置32が表示する。本実施形態においては、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件におけるX線管20の第1の温度推移H11を表示装置32が表示する。また、X線管20の基準温度範囲の上限値を表示装置32が表示する。そして、温度推移算出部81により算出されたX線管20の第1の温度推移に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件にてX線管20が基準温度範囲内になる画像枚数をスキャン可能画像枚数算出部90が算出した結果を、表示装置32が表示する。そして、さらに、表示装置32は、スキャン条件変更部91がその第1の温度推移に基づいて予め定められた基準温度範囲内にX線管20がなるように、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更したスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移H21,H22を表示する。
As shown in FIG. 8, the
図8に示すように、本実施形態においては、管電流500mAで200枚の画像を生成するスキャン条件によるX線管20の第1の温度推移H11を示しており、ここでは、150枚までの画像を生成するスキャン条件でX線管20の温度が上限になることを示している。
As shown in FIG. 8, in this embodiment, the first temperature transition H11 of the
また、図8においては、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件にてX線管20が基準温度範囲内になるようにスキャン条件変更部91が算出した待機時間に基づき、スキャン条件変更部91により変更されたスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移H21を表示装置32が表示する。図8においては、たとえば、待機時間50秒として本スキャン条件を変更した時の第2の温度推移H21を表示している。
Further, in FIG. 8, based on the standby time calculated by the scan
また、たとえば、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件にてX線管20が基準温度範囲内になるようにスキャン条件変更部91が算出したX線管20の管電流に基づき、スキャン条件変更部91により変更されたスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移H22を表示装置32が表示する。図8においては、たとえば、変更前の管電流が500mAに対して、管電流を440mAになるように本スキャン条件を変更した時の第2の温度推移H22を表示している。
Further, for example, based on the tube current of the
図8のように表示装置32が表示した温度分布の画像を観察し、オペレータが温度推移を確認する。その確認の結果、さらにスキャン条件をさらに変更する場合には、上記のS51に戻り、オペレータが入力装置31に変更するスキャンパラメータを入力する。具体的には、管電圧を440mAから460mAに変更すると共に、待機時間を50secから10secに変更する指示を入力する。そして、その入力されたスキャンパラメータに基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更し、その変更したスキャン条件におけるX線管20の温度推移を同様にして表示する。そして、スキャン条件を変更しない場合には、第2の温度推移になるような本スキャン条件でスキャンの実施(S71)を行う。
As shown in FIG. 8, the image of the temperature distribution displayed on the
本スキャンを実施する際においては、上記のように設定あるいは変更された本スキャン条件に基づいて、制御部41が走査ガントリ2と撮影テーブル4へ制御信号CTL30a,CTL30bを出力する。これによって、制御部41が回転コントローラ28に制御信号CTL304を出力して、走査ガントリ2の回転部27を回転させる。また、制御部41が、X線管20からX線の照射するように制御信号CTL301をX線コントローラ25に出力する。そして、制御部41が、制御信号CTL302をコリメータコントローラ26に出力し、コリメータ22を制御してX線を成形する。また、制御部41が、制御信号CTL303をデータ収集部24に出力し、X線検出器23の検出素子23aが得る投影データを収集するように制御する。その後、収集した投影データに基づいて、被検体6の画像を画像生成部61が再構成して生成する。そして、画像生成部61が再構成して生成した画像を、表示装置32が表示する。
When performing the main scan, the
以上のように、本実施形態によれば、X線管20の温度推移を温度推移算出部81が算出し、その温度推移算出部81により算出されたX線管20の温度推移を表示装置32が表示する。ここでは、X線管がX線を照射して被検体をスキャンするスキャン条件をスキャン条件設定部71が設定し、温度推移算出部81は、そのスキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件におけるX線管20の第1の温度推移を算出する。また、スキャン条件算出部81により算出された第1の温度推移に基づいて、X線管20が基準温度範囲内になるように、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件をスキャン条件変更部91が変更する。この時、温度推移算出部81は、スキャン条件変更部91により変更されたスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移を算出する。そして、その温度推移算出部81により算出された第1の温度分布と第2の温度推移との両者を表示装置32が表示する。
As described above, according to the present embodiment, the temperature transition calculation unit 81 calculates the temperature transition of the
このため、本実施形態は、設定したスキャン条件および変更したスキャン条件におけるX線管の温度推移の状態が明確に示されているために、オペレータが判断基準を取得し、作業を効率的にすることが容易にできる。 For this reason, in this embodiment, since the state of the temperature transition of the X-ray tube in the set scan condition and the changed scan condition is clearly shown, the operator obtains the determination criteria and makes the work efficient. Can be easily done.
<実施形態2>
以下より、本発明の実施形態2について説明する。
<Embodiment 2>
The second embodiment of the present invention will be described below.
本実施形態は、実施形態1と異なり、スキャン条件設定部71が複数のスキャンを時間間隔t1を隔てて行うようにスキャン条件を設定する。そして、スキャン条件変更部91が、そのスキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるような複数のスキャン間の時間間隔を算出し、その算出された時間間隔t2に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。このようにスキャン条件変更部91が待機時間や管電流値を変更せずに、複数のスキャン間の時間間隔を変更する点を除き、本実施形態は、実施形態1と同様である。このため、重複する個所については、説明を省略する。
In the present embodiment, unlike the first embodiment, the scan
図9は、本発明の実施形態2を説明するための図である。 FIG. 9 is a diagram for explaining the second embodiment of the present invention.
図9において、図9(a)は、スキャン条件設定部71が設定するスキャン条件のタイムチャートであり、図9(b)は、スキャン条件変更部91によって変更されたスキャン条件のタイムチャートである。図9(a)と図9(b)とにおいては、縦軸が管電流値であり、横軸が時間を示している。また、図9(c)は、表示装置32が表示する温度分布に関する画像を示している。
9A is a time chart of the scan condition set by the scan
図9(a)に示すように、スキャン条件設定部71は、第1スキャンS11と第2スキャンS21との複数のスキャンを、時間間隔t1を隔てて行うようにスキャン条件を設定する。
As shown in FIG. 9A, the scan
そして、図9(b)に示すように、スキャン条件変更部91は、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるような複数のスキャン間の時間間隔t2を算出し、その算出された時間間隔t2に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。たとえば、スキャン条件変更部91は、スキャン条件設定部71により設定された複数のスキャン間の時間間隔t1から、10秒増加させた時間間隔t2になるようにスキャン条件を変更する。
Then, as shown in FIG. 9B, the scan
そして、前述の実施形態と同様に、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件におけるX線管20の第1の温度推移を温度推移算出部81が算出する。そして、さらに、スキャン条件変更部91により変更されたスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移を温度推移算出部81が算出する。
Similar to the above-described embodiment, the temperature transition calculation unit 81 calculates the first temperature transition of the
その後、図9(c)に示すように、温度推移算出部81が算出した第1の温度推移H31と、第2の温度推移H41とを、表示装置32がグラフで表示する。
Thereafter, as shown in FIG. 9C, the
具体的には、管電流500mAで200枚の画像を生成する初期の本スキャン条件によるX線管20の第1の温度推移H11を示しており、ここでは、150枚までの画像を生成するスキャン条件でX線管20の温度が上限になることを示している。
Specifically, the first temperature transition H11 of the
また、たとえば、スキャン条件設定部71により設定された複数のスキャン間の時間間隔t1から、10秒増加させた時間間隔t2になるようにスキャン条件を変更したことに基づいて、本スキャン条件を変更した時の第2の温度推移H21を表示する。
Further, for example, the main scan condition is changed based on the fact that the scan condition is changed to the time interval t2 increased by 10 seconds from the time interval t1 between the plurality of scans set by the scan
以上のように、本実施形態によれば、実施形態1と同様に、X線管20の温度推移を温度推移算出部81が算出し、その温度推移算出部81により算出されたX線管20の温度推移を表示装置32が表示する。このため、本実施形態は、設定したスキャン条件および変更したスキャン条件におけるX線管の温度推移の状態が明確に示されているために、オペレータが判断基準を取得し、作業を効率的にすることが容易にできる。
As described above, according to the present embodiment, similarly to the first embodiment, the temperature transition calculation unit 81 calculates the temperature transition of the
<実施形態3>
以下より、本発明の実施形態3について説明する。
<
The third embodiment of the present invention will be described below.
本実施形態は、実施形態1と異なり、スキャン条件設定部71が複数のスキャンをグループ化してスキャングループとする共に、そのスキャングループによるスキャンを複数行うようにスキャン条件を設定する。そして、スキャン条件変更部91が、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるようなスキャングループ間の時間間隔を算出し、その算出された時間間隔に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。このようにスキャン条件変更部91が待機時間や管電流値を変更せずに、複数のスキャングループ間の時間間隔を変更する点を除き、本実施形態は、実施形態1と同様である。このため、重複する個所については、説明を省略する。
In the present embodiment, unlike the first embodiment, the scan
図10は、本発明の実施形態3を説明するための図である。 FIG. 10 is a diagram for explaining the third embodiment of the present invention.
図10において、図10(a)は、スキャン条件設定部71が設定するスキャン条件のタイムチャートであり、図10(b)は、スキャン条件変更部91によって変更されたスキャン条件のタイムチャートである。図10(a)と図10(b)とにおいては、縦軸が管電流値であり、横軸が時間を示している。また、図10(c)は、表示装置32が表示する温度分布に関する画像を示している。
10A is a time chart of the scanning conditions set by the scanning
図10(a)に示すように、スキャン条件設定部71は、第1から第3のスキャンS31,S32,S33を第1のスキャングループG11とし、第4から第6のスキャンS41,S42,S43を第2のスキャングループG21とし、第1および第2のスキャングループG11,G21間に時間間隔t11を設けてスキャンを行うようにスキャン条件を設定する。
As shown in FIG. 10A, the scan
そして、図10(b)に示すように、スキャン条件変更部91は、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件において、X線管20が基準温度範囲内になるような複数のスキャングループ間の時間間隔t21を算出し、その算出された時間間隔t21に基づいて、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件を変更する。たとえば、スキャン条件変更部91は、スキャン条件設定部71により設定された複数のスキャングループ間の時間間隔t11から、10秒増加させた時間間隔t21になるようにスキャン条件を変更する。
Then, as shown in FIG. 10B, the scan
そして、前述の実施形態と同様に、スキャン条件設定部71により設定されたスキャン条件におけるX線管20の第1の温度推移を温度推移算出部81が算出する。そして、さらに、スキャン条件変更部91により変更されたスキャン条件におけるX線管20の第2の温度推移を温度推移算出部81が算出する。
Similar to the above-described embodiment, the temperature transition calculation unit 81 calculates the first temperature transition of the
その後、図10(c)に示すように、温度推移算出部81が算出した第1の温度推移H51と、第2の温度推移H61とを、表示装置32がグラフで表示する。
Thereafter, as shown in FIG. 10C, the
具体的には、管電流500mAで200枚の画像を生成する初期の本スキャン条件によるX線管20の第1の温度推移H11を示しており、ここでは、150枚までの画像を生成するスキャン条件でX線管20の温度が上限になることを示している。
Specifically, the first temperature transition H11 of the
また、たとえば、スキャン条件設定部71により設定された複数のスキャン間の時間間隔t11から、10秒増加させた時間間隔t21になるようにスキャン条件を変更したことに基づいて、本スキャン条件を変更した時の第2の温度推移H21を表示する。
Further, for example, the main scan condition is changed based on the change of the scan condition so that the time interval t21 is increased by 10 seconds from the time interval t11 between the plurality of scans set by the scan
以上のように、本実施形態によれば、実施形態1と同様に、X線管20の温度推移を温度推移算出部81が算出し、その温度推移算出部81により算出されたX線管20の温度推移を表示装置32が表示する。このため、本実施形態は、設定したスキャン条件および変更したスキャン条件におけるX線管の温度推移の状態が明確に示されているために、オペレータが判断基準を取得し、作業を効率的にすることが容易にできる。
As described above, according to the present embodiment, similarly to the first embodiment, the temperature transition calculation unit 81 calculates the temperature transition of the
なお、本発明の実施に際しては、上記した実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形形態を採用することができる。 In implementing the present invention, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be employed.
たとえば、上記の実施形態においては、放射線としてX線を用いて被検体の投影データを取得し、被検体の画像を生成する例について説明しているが、放射線はX線に限るものではなく、たとえば、ガンマ線等の放射線であっても良い。 For example, in the above embodiment, an example in which projection data of a subject is acquired using X-rays as radiation and an image of the subject is generated has been described. However, radiation is not limited to X-rays. For example, radiation such as gamma rays may be used.
1…X線CT装置(放射線断層撮影装置)、
2…走査ガントリ、
3…操作コンソール、
4…撮影テーブル、
6…被検体、
20…X線管(放射線発生手段)、
21…X線管移動部、
22…コリメータ、
23…X線検出器、
23A…X線検出モジュール、
23a…検出素子、
24…データ収集部、
241…選択・加算切換回路、
242…アナログ−デジタル変換器、
25…X線コントローラ、
26…コリメータコントローラ、
27…回転部、
28…回転コントローラ、
29…ボア、
30…中央処理装置、
31…入力装置、
32…表示装置(表示部)、
33…記憶装置、
41…制御部、
51…データ処理部、
61…画像再構成部、
71…スキャン条件設定部(設定部)、
81…温度推移算出部(算出部)、
90…スキャン可能画像枚数算出部、
91…スキャン条件変更部(変更部)
1 X-ray CT apparatus (radiation tomography apparatus)
2 ... Scanning gantry,
3. Operation console,
4 ... Shooting table,
6 ... Subject,
20 ... X-ray tube (radiation generating means),
21 ... X-ray tube moving part,
22 ... Collimator,
23 ... X-ray detector,
23A ... X-ray detection module,
23a ... detecting element,
24 ... Data collection unit,
241 ... Selection / addition switching circuit,
242 ... Analog-to-digital converter,
25 ... X-ray controller,
26 ... Collimator controller,
27 ... rotating part,
28 ... Rotation controller,
29 ... Boa,
30 ... Central processing unit,
31 ... Input device,
32. Display device (display unit),
33 ... Storage device,
41. Control unit,
51: Data processing unit,
61 ... Image reconstruction unit,
71 ... Scan condition setting part (setting part),
81 ... temperature transition calculation part (calculation part),
90: Scannable image number calculating section,
91 ... Scan condition changing section (changing section)
Claims (10)
前記放射線発生手段の温度推移を算出する算出部と、
前記算出部により算出された前記放射線発生手段の温度推移を表示する表示部と
を有する
放射線断層撮影装置。 A radiation tomography apparatus that generates an image of a tomographic plane of the subject based on projection data obtained by detecting radiation that is irradiated onto the subject from a radiation generating means and transmitted through the subject,
A calculating unit for calculating a temperature transition of the radiation generating means;
A radiation tomography apparatus comprising: a display unit configured to display a temperature transition of the radiation generation unit calculated by the calculation unit.
を有し、
前記算出部は、前記温度推移として、前記設定部により設定された前記スキャン条件における前記放射線発生手段の第1の温度推移を算出する
請求項1に記載の放射線断層撮影装置。 A setting section for setting a scanning condition for the radiation generating means to irradiate the radiation and scan the subject;
The radiation tomography apparatus according to claim 1, wherein the calculation unit calculates, as the temperature transition, a first temperature transition of the radiation generating unit under the scan condition set by the setting unit.
を有し、
前記算出部は、前記温度推移として、前記変更部により変更された前記スキャン条件における前記放射線発生手段の第2の温度推移を算出する
請求項2に記載の放射線断層撮影装置。 Based on the first temperature transition calculated by the calculation unit, a change unit that changes the scan condition set by the setting unit so that the radiation generating unit is within a reference temperature range,
The radiation tomography apparatus according to claim 2, wherein the calculation unit calculates a second temperature transition of the radiation generating unit under the scan condition changed by the changing unit as the temperature transition.
請求項3に記載の放射線断層撮影装置。 The radiation tomography apparatus according to claim 3, wherein the display unit displays both the first and second temperature transitions calculated by the calculation unit.
前記変更部は、前記設定部により設定された前記スキャン条件において、前記放射線発生手段が基準温度範囲内になるような複数のスキャン間の時間間隔を算出し、前記算出された時間間隔に基づいて、前記設定部により設定された前記スキャン条件を変更する
請求項3または4に記載の放射線断層撮影装置。 The setting unit sets the scan condition to perform a plurality of scans,
The changing unit calculates a time interval between a plurality of scans such that the radiation generating unit is within a reference temperature range under the scan condition set by the setting unit, and based on the calculated time interval The radiation tomography apparatus according to claim 3, wherein the scan condition set by the setting unit is changed.
前記変更部は、前記設定部により設定された前記スキャン条件において、前記放射線発生手段が基準温度範囲内になるような前記スキャングループ間の時間間隔を算出し、前記算出された時間間隔に基づいて、前記設定部により設定された前記スキャン条件を変更する
請求項3から5のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。 The setting unit groups a plurality of scans to form a scan group, and sets the scan condition to perform a plurality of scans by the scan group,
The change unit calculates a time interval between the scan groups so that the radiation generating unit is within a reference temperature range under the scan condition set by the setting unit, and based on the calculated time interval The radiation tomography apparatus according to claim 3, wherein the scan condition set by the setting unit is changed.
請求項3から6のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。 The changing unit calculates a standby time during which the radiation generating unit is within a reference temperature range under the scan conditions set by the setting unit, and is set by the setting unit based on the calculated standby time. The radiation tomography apparatus according to claim 3, wherein the scanning condition is changed.
請求項3から7のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。 The changing unit calculates a tube current to be supplied to the radiation generating unit so that the radiation generating unit is within a reference temperature range under the scan condition set by the setting unit, and the calculated tube current is calculated. The radiation tomography apparatus according to claim 3, wherein the scan condition set by the setting unit is changed based on the setting.
請求項1から8のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。 The radiation tomography apparatus according to claim 1, wherein the display unit displays the temperature transition in a graph.
を有し、
前記算出部は、前記温度推移として、前記操作部により変更された前記スキャン条件における前記放射線発生手段の第2の温度推移を算出する
請求項1から8のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。 An operation unit for performing an operation of changing the scan condition set by the setting unit based on an instruction from an operator;
The radiation tomography apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein the calculation unit calculates a second temperature transition of the radiation generating unit under the scan condition changed by the operation unit as the temperature transition.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family
ID=35789552
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004193197A Pending JP2006014781A (en) | 2004-06-30 | 2004-06-30 | Radiation tomograph |
Country Status (1)
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---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20070220 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090915 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100302 |