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JP2012205632A - Contact state detecting circuit, biological signal acquisition device, and health equipment - Google Patents

Contact state detecting circuit, biological signal acquisition device, and health equipment Download PDF

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JP2012205632A JP2011071626A JP2011071626A JP2012205632A JP 2012205632 A JP2012205632 A JP 2012205632A JP 2011071626 A JP2011071626 A JP 2011071626A JP 2011071626 A JP2011071626 A JP 2011071626A JP 2012205632 A JP2012205632 A JP 2012205632A
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contact state
impedance
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contact
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Akinori Matsumoto
秋憲 松本
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  • Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a biological signal acquisition device which can evaluate the contact state of an electrode more promptly than before, and which can record a biological signal with a high quality.SOLUTION: An impedance measurement circuit 20 measures a contact impedance by adding a current to the electrode 10, and outputs a voltage Vimp. An impedance calculation circuit 40 calculates the value of the contact impedance from the voltage Vimp, and outputs a voltage Vcal corresponding to the value of impedance. A reference voltage-generating circuit 50 supplies a voltage Vref based on a reference value of the contact impedance. A comparator 60 compares those 2 voltages Vcal and Vref, and determines the contact state of the electrode. As a result, the fluctuation of the contact state of the electrode is promptly detected.

Description

本発明は、接触型電極を人体の所定部位に接触させて生体信号を取得する生体信号取得装置に関するものであり、さらに詳しくは、電極と皮膚の接触状態を検知する回路に関するものである。   The present invention relates to a biological signal acquisition apparatus that acquires a biological signal by bringing a contact-type electrode into contact with a predetermined part of a human body, and more particularly to a circuit that detects a contact state between an electrode and skin.

脳波図、心電図等、生体の電気信号を測定し記録する生体信号取得装置が広く用いられている。このような生体信号取得装置を用いる際、生体に取り付ける電極と皮膚との接触インピーダンスを軽減し、品質の良い信号を記録するために、導電性のゲル等を介して電極を取り付けることが多い。   Biological signal acquisition devices that measure and record electrical signals of living bodies such as electroencephalograms and electrocardiograms are widely used. When using such a biological signal acquisition device, in order to reduce the contact impedance between the electrode attached to the living body and the skin and to record a high-quality signal, the electrode is often attached via a conductive gel or the like.

しかし、病院等において短時間のみ生体信号の測定する際には、導電性のゲルを介した電極を用いて、据置型の生体信号取得装置で測定が行うことができるので良いが、通常の生活を送りながら生体信号の測定を行う場合は、使い勝手の面から導電性ゲル等を用いない接触型電極(乾電極とも呼ばれる)が用いられ、携帯型の生体信号計測装置で測定されることが多い。   However, when measuring a biological signal only for a short time in a hospital or the like, the measurement can be performed by a stationary biological signal acquisition device using an electrode through a conductive gel. In the case of measuring a biological signal while feeding a contact-type electrode (also called a dry electrode) that does not use a conductive gel or the like is used from the viewpoint of ease of use and is often measured by a portable biological signal measurement device. .

接触型電極を用いて収集される生体信号の品質は、電極と皮膚との密着度によって大きく変動する。一般に、接触型電極と皮膚との接触状態を検出するために、電極の接触インピーダンスが測定され、測定した接触インピーダンスの値に基づいて接触状態が判定されている。   The quality of biological signals collected using contact-type electrodes varies greatly depending on the degree of adhesion between the electrodes and the skin. Generally, in order to detect the contact state between the contact-type electrode and the skin, the contact impedance of the electrode is measured, and the contact state is determined based on the measured contact impedance value.

図13は、特許文献1に記載の生体信号取得装置の構成を示す。生体信号取得装置900は、電極部910と本体920とで構成される。本体920は、生体信号増幅集積回路をなしているAD変換部921、インピーダンス測定部922、表示部923、入力部924、出力部925、CPU926、ROM927、RAM928、生体信号記録部929および外部I/F930を有し、各構成要素はCPUバス931により相互に接続されている。   FIG. 13 shows the configuration of the biological signal acquisition apparatus described in Patent Document 1. The biological signal acquisition apparatus 900 includes an electrode unit 910 and a main body 920. The main body 920 includes an AD conversion unit 921, an impedance measurement unit 922, a display unit 923, an input unit 924, an output unit 925, a CPU 926, a ROM 927, a RAM 928, a biological signal recording unit 929, and an external I / O. Each component is connected to each other by a CPU bus 931.

電極部910で取得された生体信号は、AD変換部921で所定の電圧範囲まで増幅され、所定のサンプリング条件でデジタルデータに変換される。図14に示す区間T1(例えばt1=10秒)分のデジタルデータは、図13のRAM928の所定領域であるバッファへ一時的に記憶される。インピーダンス測定部922は、バッファ内に記憶された10秒分のデジタルデータに基づいて接触インピーダンスを測定し、電極と皮膚との接触状態を判定する。そして、接触状態が良好であると判断された場合、RAM128のバッファと異なる領域に、後続の区間T2(例えばt2=50秒)分の生体信号のデータを記録し、生体信号の取得処理を終了する。   The biological signal acquired by the electrode unit 910 is amplified to a predetermined voltage range by the AD conversion unit 921 and converted into digital data under a predetermined sampling condition. Digital data for a section T1 (for example, t1 = 10 seconds) shown in FIG. 14 is temporarily stored in a buffer which is a predetermined area of the RAM 928 of FIG. The impedance measuring unit 922 measures the contact impedance based on the digital data for 10 seconds stored in the buffer, and determines the contact state between the electrode and the skin. If it is determined that the contact state is good, the biological signal data for the subsequent section T2 (for example, t2 = 50 seconds) is recorded in an area different from the buffer of the RAM 128, and the biological signal acquisition process is terminated. To do.

特開2003−102695号公報JP 2003-102695 A

しかしながら、電極の接触状態が悪い場合では電波などの外来ノイズが混入し、電極で取得する信号が不安定になるため、生体信号取得装置で取得する信号の品質が劣化する。従来の生体信号取得装置では、生体信号増幅集積回路(AD変換部921)の後にインピーダンス測定部922を配置した構成を採っていたため、接触状態の急な変化に対応できないという課題を有していた。例えば、区間T2の生体信号を記録している最中に、時刻t=txに電極が皮膚から離れた状態へ急に変化しても、AD変換部921自身では信号の品質を判定できないため、誤測定のデジタルデータを出力し続けていた。その結果、RAM928および生体信号記録部929で「無効」な生体信号を「有効」と誤認識して記録し、取得する信号品質の劣化を招いていた。   However, when the contact state of the electrode is poor, external noise such as radio waves is mixed and the signal acquired by the electrode becomes unstable, so that the quality of the signal acquired by the biological signal acquisition device is deteriorated. The conventional biological signal acquisition apparatus has a configuration in which the impedance measurement unit 922 is disposed after the biological signal amplification integrated circuit (AD conversion unit 921), and thus has a problem that it cannot cope with a sudden change in the contact state. . For example, since the AD converter 921 itself cannot determine the quality of the signal even if the electrode suddenly changes to a state where it is separated from the skin at time t = tx during the recording of the biological signal of the section T2, It continued to output digital data of erroneous measurements. As a result, the “invalid” biological signal is erroneously recognized as “valid” and recorded in the RAM 928 and the biological signal recording unit 929, resulting in deterioration of the signal quality to be acquired.

そこで、本発明では上記従来の課題を解決するもので、品質の高い生体信号が記録できる生体信号取得装置を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention solves the above-described conventional problems, and an object thereof is to provide a biological signal acquisition apparatus capable of recording a high-quality biological signal.

上記の課題を解決するため、請求項1の発明の接触状態検出回路は、
電極と皮膚との接触状態を検出する接触状態検出回路であって、
前記電極に交流電流を加える測定用電流源を有し、前記電極の接触インピーダンスを測定するインピーダンス測定回路と、
前記インピーダンス測定回路の出力信号に基づいて、前記接触インピーダンスに対応する第1の電圧を第1のノードに出力するインピーダンス計算回路と、
前記接触状態を検出するためのインピーダンスのしきい値に対応する第2の電圧を第2のノードに出力する基準電圧生成回路と、
前記第1の電圧と前記第2の電圧とを比較する比較器
を備えていることを特徴とする。
In order to solve the above-described problem, a contact state detection circuit according to the invention of claim 1 includes:
A contact state detection circuit for detecting a contact state between an electrode and skin,
An impedance measurement circuit for measuring a contact impedance of the electrode, comprising a measurement current source for applying an alternating current to the electrode;
An impedance calculation circuit that outputs a first voltage corresponding to the contact impedance to a first node based on an output signal of the impedance measurement circuit;
A reference voltage generation circuit that outputs a second voltage corresponding to an impedance threshold for detecting the contact state to a second node;
A comparator for comparing the first voltage and the second voltage is provided.

これにより、電極の接触インピーダンスの測定を行うと共に、インピーダンスの計算を行うことで、電極と皮膚の接触状態を迅速に検知することができ、取得する生体信号のデータの品質が確保できるという利点がある。   Thus, by measuring the contact impedance of the electrode and calculating the impedance, it is possible to quickly detect the contact state between the electrode and the skin, and the advantage that the quality of the acquired biosignal data can be ensured. is there.

請求項2に記載の接触状態検出回路は、
請求項1に記載の接触状態検出回路において、
前記測定用電流源は、前記交流電流の周波数が調整可能である
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 2,
The contact state detection circuit according to claim 1,
The current source for measurement is characterized in that the frequency of the alternating current can be adjusted.

これにより、請求項1の構成において、さらに請求項2で交流電流の周波数を調整可能にすることで、異なる周波数においても接触インピーダンスの測定が可能となり、接触インピーダンスの周波数特性が得られるという利点がある。   As a result, in the configuration of claim 1, by further adjusting the frequency of the alternating current in claim 2, it is possible to measure the contact impedance even at different frequencies and to obtain the frequency characteristic of the contact impedance. is there.

請求項3に記載の接触状態検出回路は、
請求項1に記載の接触状態検出回路において、
前記インピーダンス計算回路は、絶対値計算回路を備える
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 3,
The contact state detection circuit according to claim 1,
The impedance calculation circuit includes an absolute value calculation circuit.

これにより、請求項1の構成において、さらに請求項3で絶対値計算回路を有することで、インピーダンスの値が容易に得られるという利点がある。   Thereby, in the structure of Claim 1, it has the advantage that the value of an impedance can be obtained easily by having an absolute value calculation circuit further in Claim 3.

請求項4に記載の接触状態検出回路は、
前記基準電圧生成回路は、
一端が電源電圧に接続され、他端が前記第2のノードに接続された第1の抵抗素子と、
一端が前記第2のノードに接続され、他端が接地電圧に接続された第2の抵抗素子とを
備える
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 4,
The reference voltage generation circuit includes:
A first resistance element having one end connected to a power supply voltage and the other end connected to the second node;
And a second resistance element having one end connected to the second node and the other end connected to a ground voltage.

これにより、請求項1の構成において、さらに請求項4で抵抗分圧の構成を用いて基準電圧を容易に生成させることができる。   Thus, in the configuration of claim 1, the reference voltage can be easily generated using the resistance voltage dividing configuration of claim 4.

請求項5に記載の接触状態検出回路は、
請求項4に記載の接触状態検出回路において、
前記基準電圧生成回路は、
前記第1または第2の抵抗素子の抵抗値が調整可能である
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 5,
In the contact state detection circuit according to claim 4,
The reference voltage generation circuit includes:
The resistance value of the first or second resistance element is adjustable.

これにより、請求項4の構成において、さらに請求項5で抵抗素子の抵抗値を変えることで、接触状態を判定するしきい値を可変にすることができるため、より多くの電極に接触状態検出回路に適用できるという利点がある。   Thus, in the configuration of claim 4, the threshold value for determining the contact state can be made variable by changing the resistance value of the resistance element in claim 5, so that the contact state detection can be performed for more electrodes. There is an advantage that it can be applied to a circuit.

請求項6に記載の接触状態検出回路は、
請求項1に記載の接触状態検出回路において、
前記基準電圧生成回路は、
一端が電源電圧に接続され、他端が前記第2のノードに接続された第1の電流源と、
一端が前記第2のノードに接続され、他端が接地電圧に接続された第3の抵抗素子とを備える
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 6 comprises:
The contact state detection circuit according to claim 1,
The reference voltage generation circuit includes:
A first current source having one end connected to the power supply voltage and the other end connected to the second node;
And a third resistance element having one end connected to the second node and the other end connected to a ground voltage.

これにより、請求項1の構成において、さらに請求項6で定電流源と抵抗素子を備えることにより基準電圧を容易に発生させることができる。   Thus, in the configuration of claim 1, the reference voltage can be easily generated by providing the constant current source and the resistance element in claim 6.

請求項7に記載の接触状態検出回路は、
前記基準電圧生成回路は、
前記第1の電流源の電流値または前記第3の抵抗素子の抵抗値が調整可能である
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 7,
The reference voltage generation circuit includes:
The current value of the first current source or the resistance value of the third resistance element can be adjusted.

これにより、請求項6の構成において、さらに請求項7で抵抗素子の抵抗値を変えることで、接触状態を判定するしきい値を可変にすることができるため、より多くの電極に接触状態検出回路に適用できるという利点がある。   Thereby, in the configuration of claim 6, the threshold value for determining the contact state can be made variable by changing the resistance value of the resistance element in claim 7, so that the contact state detection can be performed for more electrodes. There is an advantage that it can be applied to a circuit.

請求項8に記載の接触状態検出回路は、
n個の電極(nは2以上の整数)と皮膚との接触状態を検出する接触状態検出回路であって、
前記n個の電極の内から一つを選択する選択回路と、
前記電極に交流電流を加える測定用電流源を有し、前記電極の接触インピーダンスを測定するインピーダンス測定回路と、
前記インピーダンス測定回路の出力信号に基づいて、前記接触インピーダンスに対応する第1の電圧を第1のノードに出力するインピーダンス計算回路と、
前記接触状態を検出するためのインピーダンスのしきい値に対応する第2の電圧を第2のノードに出力する基準電圧生成回路と、
前記第1の電圧と前記第2の電圧とを比較する比較器
を備えていることを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 8,
A contact state detection circuit for detecting a contact state between n electrodes (n is an integer of 2 or more) and skin,
A selection circuit for selecting one of the n electrodes;
An impedance measurement circuit for measuring a contact impedance of the electrode, comprising a measurement current source for applying an alternating current to the electrode;
An impedance calculation circuit that outputs a first voltage corresponding to the contact impedance to a first node based on an output signal of the impedance measurement circuit;
A reference voltage generation circuit that outputs a second voltage corresponding to an impedance threshold for detecting the contact state to a second node;
A comparator for comparing the first voltage and the second voltage is provided.

これにより、複数の電極の接触状態を検出したい場合に、接触インピーダンスを測定する電極が選択可能な接触状態検出回路を1つ備えることにより、全ての電極の接触状態を調べることできる。   Thus, when it is desired to detect the contact state of a plurality of electrodes, the contact state of all the electrodes can be examined by providing one contact state detection circuit that can select the electrode for measuring the contact impedance.

請求項9に記載の接触状態検出回路は、
請求項8に記載の接触状態検出回路において、
前記測定用電流源は、前記交流電流の周波数が調整可能である
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 9,
In the contact state detection circuit according to claim 8,
The current source for measurement is characterized in that the frequency of the alternating current can be adjusted.

これにより、請求項8の構成において、さらに請求項9で交流電流の周波数を調整可能にすることで、異なる周波数においても接触インピーダンスの測定が可能となり、接触インピーダンスの周波数特性が得られるという利点がある。   Thus, in the configuration of claim 8, by making it possible to adjust the frequency of the alternating current in claim 9, it is possible to measure the contact impedance even at different frequencies and to obtain the frequency characteristic of the contact impedance. is there.

請求項10に記載の接触状態検出回路は、
請求項8に記載の接触状態検出回路において、
前記インピーダンス計算回路は、絶対値計算回路を備える
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 10,
In the contact state detection circuit according to claim 8,
The impedance calculation circuit includes an absolute value calculation circuit.

これにより、請求項8の構成において、さらに請求項10で絶対値計算回路を有することで、インピーダンスの値が簡単に得られるという利点がある。   Thus, the configuration of claim 8 has the advantage that the impedance value can be easily obtained by further including the absolute value calculation circuit of claim 10.

請求項11に記載の接触状態検出回路は、
請求項8に記載の接触状態検出回路において、
前記基準電圧生成回路は、
一端が電源電圧に接続され、他端が前記第2のノードに接続された第1の抵抗素子と、
一端が前記第2のノードに接続され、他端が接地電圧に接続された第2の抵抗素子とを
備える
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 11 comprises:
In the contact state detection circuit according to claim 8,
The reference voltage generation circuit includes:
A first resistance element having one end connected to a power supply voltage and the other end connected to the second node;
And a second resistance element having one end connected to the second node and the other end connected to a ground voltage.

これにより、請求項1の構成において、さらに請求項4で抵抗分圧の構成を用いて基準電圧を容易に生成させることができる。   Thus, in the configuration of claim 1, the reference voltage can be easily generated using the resistance voltage dividing configuration of claim 4.

請求項12に記載の接触状態検出回路は、
請求項11に記載の接触状態検出回路において、
前記基準電圧生成回路は、
前記第1または第2の抵抗素子の抵抗値が調整可能である
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 12,
The contact state detection circuit according to claim 11,
The reference voltage generation circuit includes:
The resistance value of the first or second resistance element is adjustable.

これにより、請求項11の構成において、さらに請求項12で抵抗素子の抵抗値を変えることで、接触状態を判定するしきい値を可変にすることができるため、より多くの電極に接触状態検出回路に適用できるという利点がある。   Thus, in the configuration of claim 11, the threshold value for determining the contact state can be made variable by changing the resistance value of the resistance element in claim 12. There is an advantage that it can be applied to a circuit.

請求項13に記載の接触状態検出回路は、
請求項8に記載の接触状態検出回路において、
前記基準電圧生成回路は、
一端が電源電圧に接続され、他端が前記第2のノードに接続された第1の電流源と、
一端が前記第2のノードに接続され、他端が接地電圧に接続された第3の抵抗素子とを備える
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 13,
In the contact state detection circuit according to claim 8,
The reference voltage generation circuit includes:
A first current source having one end connected to the power supply voltage and the other end connected to the second node;
And a third resistance element having one end connected to the second node and the other end connected to a ground voltage.

これにより、請求項1の構成において、さらに請求項6で定電流源と抵抗素子を備えることにより基準電圧を容易に発生させることができる。   Thus, in the configuration of claim 1, the reference voltage can be easily generated by providing the constant current source and the resistance element in claim 6.

請求項14に記載の接触状態検出回路は、
請求項13に記載の接触状態検出回路において、
前記基準電圧生成回路は、
前記第1の電流源の電流値または前記第3の抵抗素子の抵抗値が調整可能である
ことを特徴とする。
The contact state detection circuit according to claim 14,
In the contact state detection circuit according to claim 13,
The reference voltage generation circuit includes:
The current value of the first current source or the resistance value of the third resistance element can be adjusted.

これにより、請求項13の構成において、さらに請求項14で抵抗素子の抵抗値を変えることで、接触状態を判定するしきい値を可変にすることができるため、より多くの電極に接触状態検出回路に適用できるという利点がある。   Thus, in the configuration of claim 13, the threshold value for determining the contact state can be made variable by changing the resistance value of the resistance element in claim 14. There is an advantage that it can be applied to a circuit.

請求項15に記載の生体信号取得装置は、
生体信号を取得する生体信号取得装置であって、
請求項1から14のいずれか一つに記載の接触状態検出回路と、
前記接触状態検出回路によって得られたアナログ信号をデジタルコードに変換する
AD変換器と、
前記AD変換器によって得られたデジタルコードを記録する記録部とを備える
ことを特徴とする。
The biological signal acquisition apparatus according to claim 15,
A biological signal acquisition device for acquiring a biological signal,
The contact state detection circuit according to any one of claims 1 to 14,
An AD converter that converts an analog signal obtained by the contact state detection circuit into a digital code;
And a recording unit for recording the digital code obtained by the AD converter.

これにより、電極が皮膚に接触している状態を確保することが重要な生体信号取得装置において、接触状態検出回路を用いると、接触状態の検出を迅速に行うことができ、信号品質の高い生体信号の取得ができる。   Accordingly, in the biological signal acquisition device in which it is important to ensure that the electrode is in contact with the skin, the contact state detection circuit can be used to quickly detect the contact state, and the biological signal with high signal quality. The signal can be acquired.

請求項16に記載の健康機器は、
請求項1から14のいずれか一つにおいて、
先端に前記n個の電極(nは1以上の整数)のそれぞれが取り付けられ、皮膚に対して進退運動を行うn個の押圧体と、
前記接触状態検出回路と、
前記n個の押圧体のそれぞれに前記進退運動を制御するための制御信号を送る制御部と
を備える
ことを特徴とする。
The health device according to claim 16,
In any one of Claims 1-14,
Each of the n electrodes (n is an integer of 1 or more) is attached to the tip, and n pressing bodies that move forward and backward with respect to the skin,
The contact state detection circuit;
And a control unit that sends a control signal for controlling the forward / backward movement to each of the n pressing bodies.

これにより、電極と皮膚とが接触している状態だけでなく、離れている状態も重要である健康機器についても、接触状態検出回路を用いると押圧体の動作状態の検出を迅速に行うことができ、機器の制御が容易にできるという利点がある。   As a result, not only the state in which the electrode and the skin are in contact but also the health device in which the separated state is important, the contact state detection circuit can be used to quickly detect the operating state of the pressing body. There is an advantage that the device can be easily controlled.

本発明の接触状態検出回路によれば、電極と皮膚の接触状態が急に変化しても、取得する生体信号の有効性をAD変換が行われる前に迅速に検出することができる。したがって、高品質でかつ信頼性の高い生体信号を取得することができる。   According to the contact state detection circuit of the present invention, even if the contact state between the electrode and the skin changes suddenly, the effectiveness of the biological signal to be acquired can be quickly detected before AD conversion is performed. Therefore, a high-quality and highly reliable biological signal can be acquired.

本発明の実施形態1に係る接触状態検出回路の構成例を示す図The figure which shows the structural example of the contact state detection circuit which concerns on Embodiment 1 of this invention. インピーダンス測定回路の構成例を示す図Diagram showing a configuration example of an impedance measurement circuit インピーダンス計算回路の構成例を示す図The figure which shows the structural example of the impedance calculation circuit 基準電圧生成回路の構成例を示す図The figure which shows the structural example of a reference voltage generation circuit 基準電圧生成回路の別の構成例を示す図The figure which shows another structural example of a reference voltage generation circuit 接触インピーダンスの測定の具体例を示す図Diagram showing a specific example of contact impedance measurement 図1に示した接触状態検出回路の動作を説明するための図The figure for demonstrating operation | movement of the contact state detection circuit shown in FIG. 本発明の実施形態2に係る接触状態検出回路の構成例を示す図The figure which shows the structural example of the contact state detection circuit which concerns on Embodiment 2 of this invention. 図8の変形例を説明する図The figure explaining the modification of FIG. 生体信号取得装置の構成例を示す図The figure which shows the structural example of a biosignal acquisition apparatus. 健康機器の構成例を示す図Diagram showing a configuration example of a health device 図11に示した健康機器の動作を説明するための図The figure for demonstrating operation | movement of the health equipment shown in FIG. 従来の生体信号取得装置の構成を示す図The figure which shows the structure of the conventional biosignal acquisition apparatus. 従来の生体信号取得装置の動作を説明するための図The figure for demonstrating operation | movement of the conventional biosignal acquisition apparatus.

以下、本発明を実施するための形態について、図面を参照しながら説明する。なお、以下の各実施形態を通して同様の機能を有する構成要素については同一の符号を付して再度の説明を省略する。   Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the component which has the same function through each following embodiment, and description is abbreviate | omitted again.

《第1の実施形態》
図1は、第1の実施形態による接触状態検出回路100の構成例を示す。接触状態検出回路100は、電極にインピーダンス測定用の電流を加え、生体信号に重畳したインピーダンス信号を示すアナログ信号Vimpと、アナログ信号Vimpに基づいて接触状態が判定された接触不良検出信号Vdetを出力する。接触状態検出回路100は、インピーダンス測定回路20と接触状態評価回路30とを備える。
<< First Embodiment >>
FIG. 1 shows a configuration example of a contact state detection circuit 100 according to the first embodiment. The contact state detection circuit 100 applies an impedance measurement current to the electrodes, and outputs an analog signal Vimp indicating an impedance signal superimposed on the biological signal and a contact failure detection signal Vdet in which the contact state is determined based on the analog signal Vimp. To do. The contact state detection circuit 100 includes an impedance measurement circuit 20 and a contact state evaluation circuit 30.

〔インピーダンス測定回路〕
図2は、インピーダンス測定回路20の構成例を示す。インピーダンス測定回路20は、測定用電流源21で構成される。電極側(ノードN1)に交流電流Iを加えると、接触状態検出回路側のノードN2の電圧V2は、電流Iと接触インピーダンスの値(Z)の積で表される電圧が生体信号に重畳された値となる。電圧V2は、接触状態検出回路100のアナログ信号Vimpとして出力されるので、V2=Vimpで表される。また、図2のようにノードN1とN2は同じノード、つまりV1=V2であっても良い。
[Impedance measurement circuit]
FIG. 2 shows a configuration example of the impedance measurement circuit 20. The impedance measurement circuit 20 includes a measurement current source 21. When an alternating current I is applied to the electrode side (node N1), the voltage V2 at the node N2 on the contact state detection circuit side is superimposed on the biological signal by a voltage represented by the product of the current I and the value (Z) of the contact impedance. Value. Since the voltage V2 is output as the analog signal Vimp of the contact state detection circuit 100, V2 = Vimp. Further, as shown in FIG. 2, the nodes N1 and N2 may be the same node, that is, V1 = V2.

交流電流の周波数は生体信号の周波数帯域(例えば、0.01〜200Hz)より高い周波数(例えば、1kHz)に設定するのが好ましい。それは、接触状態検出回路100の後段で生体信号と接触インピーダンス信号を分離し、解析や記録を行うためである。   The frequency of the alternating current is preferably set to a frequency (for example, 1 kHz) higher than the frequency band of the biological signal (for example, 0.01 to 200 Hz). This is because the biological signal and the contact impedance signal are separated after the contact state detection circuit 100 for analysis and recording.

生体信号の周波数帯域で接触インピーダンスを測定する場合は、接触インピーダンス信号の取得だけができる。その理由は、接触インピーダンス信号(例えば100mV)が生体信号(例えば数10μV)より遥かに大きく、生体信号が接触インピーダンス信号に埋もれてしまうためである。   When the contact impedance is measured in the frequency band of the biological signal, only the contact impedance signal can be acquired. The reason is that the contact impedance signal (for example, 100 mV) is much larger than the biological signal (for example, several tens of μV), and the biological signal is buried in the contact impedance signal.

測定用電流源21は、交流電流Iの周波数を変更する(例えば10Hzに変更)ことにより、接触インピーダンスの測定周波数を変更することができる。複数の周波数について測定を行うことにより、接触インピーダンスの周波数特性を得ることができる。   The measurement current source 21 can change the measurement frequency of the contact impedance by changing the frequency of the alternating current I (for example, changing to 10 Hz). By measuring for a plurality of frequencies, the frequency characteristics of the contact impedance can be obtained.

また、測定用電流源21は、電流Iの振幅Iaが調整可能である構成にすることが望ましい。電極の種類、皮膚の表面状態や、取得する生体信号の種類など、測定条件が異なっても、インピーダンス測定で生じる電圧を適宜調整することができる。また、参照電極として用いる電極用に、交流電流Iにおける電流の方向を反対に設定できる機能を備えているのが望ましい。   Further, it is desirable that the measurement current source 21 has a configuration in which the amplitude Ia of the current I can be adjusted. Even if the measurement conditions such as the type of electrode, the surface state of the skin, and the type of biological signal to be acquired are different, the voltage generated in the impedance measurement can be appropriately adjusted. In addition, it is desirable that the electrode used as the reference electrode has a function capable of setting the direction of the current in the alternating current I to be opposite.

〔接触状態評価回路〕
図1に示す接触状態評価回路30は、電極10の接触インピーダンスと所定の基準インピーダンスを比較し、電極の接触状態を判定する回路である。接触状態評価回路30は、インピーダンス計算回路40と、基準電圧生成回路50と、比較器60とを備える。
[Contact state evaluation circuit]
The contact state evaluation circuit 30 shown in FIG. 1 is a circuit that compares the contact impedance of the electrode 10 with a predetermined reference impedance and determines the contact state of the electrode. The contact state evaluation circuit 30 includes an impedance calculation circuit 40, a reference voltage generation circuit 50, and a comparator 60.

《インピーダンス計算回路》
インピーダンス計算回路40は、インピーダンス測定回路20で測定され出力された電圧V2から、電極10の接触インピーダンス値に対応する電圧Vcalに変換する回路である。インピーダンス計算回路40の構成を図3に示す。インピーダンス計算回路40は、絶対値回路41と定数倍回路42とで構成される。上述したように、接触インピーダンスZの値は複素数で表されるため、複素数Zの絶対値を求める演算を行うことにより、接触インピーダンスの大きさが簡単に計算できる。定数倍回路42は、インピーダンス測定回路20で加える電流Iの振幅Iaの値に基づいて、定数倍の演算を行う回路である。
<Impedance calculation circuit>
The impedance calculation circuit 40 is a circuit that converts the voltage V2 measured and output by the impedance measurement circuit 20 into a voltage Vcal corresponding to the contact impedance value of the electrode 10. The configuration of the impedance calculation circuit 40 is shown in FIG. The impedance calculation circuit 40 includes an absolute value circuit 41 and a constant multiplication circuit 42. As described above, since the value of the contact impedance Z is represented by a complex number, the magnitude of the contact impedance can be easily calculated by performing an operation for obtaining the absolute value of the complex number Z. The constant multiplication circuit 42 is a circuit that performs a constant multiplication based on the value of the amplitude Ia of the current I applied by the impedance measurement circuit 20.

通常、電極と皮膚の等価回路は抵抗Rと容量Cの直並列回路で表され、接触インピーダンスZは、実数成分と虚数成分を含む複素インピーダンスで表現される。そのため、接触インピーダンスは、電流Iの周波数に依存する。接触インピーダンスZの大きさを求めるために、複素インピーダンスの絶対値(|Z|)が計算される。   Usually, the equivalent circuit of the electrode and the skin is represented by a series-parallel circuit of a resistor R and a capacitor C, and the contact impedance Z is represented by a complex impedance including a real component and an imaginary component. Therefore, the contact impedance depends on the frequency of the current I. In order to determine the magnitude of the contact impedance Z, the absolute value (| Z |) of the complex impedance is calculated.

なお、複素数の絶対値は、インピーダンス測定回路20で電圧V2の実数成分と虚数成分を前もって抽出し、絶対値回路41で複素数の絶対値を求める演算を行っても良い。もし、接触インピーダンスの実数成分と虚数成分の内、どちらか一方が極端に大きい信号であることが分かっている場合、インピーダンス計算回路40の演算を簡略化することが可能である。例えば、接触インピーダンスの実数成分が虚数成分より遥かに大きい場合は(例えば100倍以上)、虚数部分のインピーダンス信号を無視して、実数成分だけを定数倍回路42に入力し、電圧Vcalを出力しても良い。   The absolute value of the complex number may be extracted in advance by the impedance measurement circuit 20 from the real component and the imaginary component of the voltage V2, and the absolute value circuit 41 may calculate the absolute value of the complex number. If it is known that one of the real component and the imaginary component of the contact impedance is an extremely large signal, the calculation of the impedance calculation circuit 40 can be simplified. For example, when the real component of the contact impedance is much larger than the imaginary component (for example, 100 times or more), the impedance signal of the imaginary part is ignored and only the real component is input to the constant multiplier 42 and the voltage Vcal is output. May be.

《基準電圧生成回路》
基準電圧生成回路50は、接触インピーダンスのしきい値に基づいた基準電圧Vrefを生成する回路である。基準電圧生成回路50の構成例を図4に示す。電源電圧Vddと接地電圧Vssとの間に、2つの抵抗素子R1およびR2が直列接続されている。抵抗素子R2が接触インピーダンスの基準値に対応する。基準電圧Vrefは、電源電圧Vddを抵抗分割した電圧であり、次式のように表現できる。
<Reference voltage generation circuit>
The reference voltage generation circuit 50 is a circuit that generates a reference voltage Vref based on a threshold value of contact impedance. A configuration example of the reference voltage generation circuit 50 is shown in FIG. Two resistance elements R1 and R2 are connected in series between the power supply voltage Vdd and the ground voltage Vss. The resistance element R2 corresponds to the reference value of the contact impedance. The reference voltage Vref is a voltage obtained by dividing the power supply voltage Vdd by resistance, and can be expressed as the following equation.

Figure 2012205632
Figure 2012205632

図4の基準電圧生成回路50は、抵抗素子R2の抵抗値を制御することで、数1で表される電圧Vrefを調整できる。電極の種類を変えたり、電極を付ける場所を変えたりして、接触インピーダンスが異なる特性を示したときに、基準電圧Vrefの調整が行われる。なお、基準電圧生成回路50は、抵抗素子R1の抵抗値が調整可能な構成であっても良い。   The reference voltage generation circuit 50 in FIG. 4 can adjust the voltage Vref expressed by Equation 1 by controlling the resistance value of the resistance element R2. The reference voltage Vref is adjusted when the contact impedance shows different characteristics by changing the type of electrode or the location where the electrode is attached. The reference voltage generation circuit 50 may have a configuration in which the resistance value of the resistance element R1 can be adjusted.

また、基準電圧生成回路は、図5に示した回路構成であっても良い。図5に示した基準電圧生成回路50aは、電源電圧Vddと接地電圧Vssとの間に、電流源51および抵抗素子R3が直列に接続されている。抵抗素子R3の抵抗値が接触インピーダンスの基準値に対応する。基準電圧Vrefは、電流源51の電流値をIrefとすると、次式のように表現できる。   Further, the reference voltage generation circuit may have the circuit configuration shown in FIG. In the reference voltage generation circuit 50a shown in FIG. 5, a current source 51 and a resistance element R3 are connected in series between a power supply voltage Vdd and a ground voltage Vss. The resistance value of the resistance element R3 corresponds to the reference value of the contact impedance. The reference voltage Vref can be expressed by the following equation when the current value of the current source 51 is Iref.

Figure 2012205632
Figure 2012205632

基準電圧生成回路50aにおいて、抵抗素子R3の抵抗値を制御することで、数1で表される電圧Vrefを調整できる。なお、基準電圧生成回路50aは、電流源51の電流値Irefを制御できる構成であっても良い。   In the reference voltage generation circuit 50a, the voltage Vref expressed by Equation 1 can be adjusted by controlling the resistance value of the resistance element R3. The reference voltage generation circuit 50a may be configured to control the current value Iref of the current source 51.

《比較器》
比較器60は、接触インピーダンスに対応する電圧Vcalと、基準インピーダンスに対応する電圧Vrefとを比較する。例えば、比較器60の出力Vdetは、電圧Vcalが電圧Vrefよりも低い場合はローレベルになり、電圧Vcalが電圧Vrefよりも低くない場合はハイレベルになる。この出力Vdetが、そのまま接触状態検出回路100の接触不良検出信号として出力される。したがって、電極の接触インピーダンスが基準のインピーダンス値よりも大きい場合、接触不良検出信号Vdetがハイレベルになり、電極の接触不良が生じていることが分かる。このとき、当該電極のつけ直しを促すなどの情報を、機器を介してユーザに送ることができる。
<Comparator>
The comparator 60 compares the voltage Vcal corresponding to the contact impedance with the voltage Vref corresponding to the reference impedance. For example, the output Vdet of the comparator 60 is at a low level when the voltage Vcal is lower than the voltage Vref, and is at a high level when the voltage Vcal is not lower than the voltage Vref. The output Vdet is output as a contact failure detection signal of the contact state detection circuit 100 as it is. Therefore, when the contact impedance of the electrode is larger than the reference impedance value, it is understood that the contact failure detection signal Vdet is at a high level, and the contact failure of the electrode occurs. At this time, information such as prompting the user to reattach the electrode can be sent to the user via the device.

〔具体例〕
次に、図6と図7を参照しながら、接触状態検出回路100の動作特性について具体例を挙げて説明する。
〔Concrete example〕
Next, the operation characteristics of the contact state detection circuit 100 will be described with specific examples with reference to FIGS. 6 and 7.

図6は、接触型電極と接触状態検出回路100を用いた場合の、接触インピーダンスの周波数特性の測定例を示す。接触インピーダンスは、インピーダンス計算回路40で算出されたものである。インピーダンスの基準値は、図6のインピーダンスの特性を基にユーザが決定し(例えば、2MΩとする)。基準電圧生成回路50の抵抗R2の値を調整することができる。   FIG. 6 shows a measurement example of the frequency characteristics of the contact impedance when the contact-type electrode and the contact state detection circuit 100 are used. The contact impedance is calculated by the impedance calculation circuit 40. The reference value of impedance is determined by the user based on the impedance characteristics shown in FIG. 6 (for example, 2 MΩ). The value of the resistor R2 of the reference voltage generation circuit 50 can be adjusted.

図7は、接触状態検出回路100を用いて生体信号を取得するときのタイムチャートを示す。時刻t=t0に電極を接触させた状態で、インピーダンスの測定を開始する。インピーダンスの計算結果が基準値(例えば2MΩ)以下のため、接触不良検出信号Vdetがローレベル(接地電圧Vss)を示し、電極が接触している状態にあることがわかる。   FIG. 7 shows a time chart when a biological signal is acquired using the contact state detection circuit 100. Impedance measurement is started with the electrodes in contact at time t = t0. Since the calculation result of the impedance is equal to or less than a reference value (for example, 2 MΩ), the contact failure detection signal Vdet indicates a low level (ground voltage Vss), which indicates that the electrodes are in contact.

時刻t=txに接触状態が急に悪化したと仮定する。インピーダンスの計算結果が基準値(2MΩ)を超え、接触不良検出信号Vdetがハイレベル(電源電圧Vdd)に変わる。その結果、ユーザは電極が皮膚から離れたことをすぐに把握できる。   Assume that the contact state suddenly deteriorated at time t = tx. The impedance calculation result exceeds the reference value (2 MΩ), and the contact failure detection signal Vdet changes to the high level (power supply voltage Vdd). As a result, the user can immediately grasp that the electrode has left the skin.

このように、接触状態検出回路100を用いると、電極の接触状態が急に変化しても、取得する生体信号の有効性が迅速に判別できる。従って、接触状態検出回路100の後段に記録部を配置し、接触不良検出信号Vdetがハイレベルを示す時に、無効な生体信号を記録しないように制御を行うことができる。   Thus, when the contact state detection circuit 100 is used, even if the contact state of the electrode changes suddenly, the effectiveness of the acquired biological signal can be quickly determined. Therefore, it is possible to perform control so that an invalid biological signal is not recorded when the recording unit is disposed after the contact state detection circuit 100 and the contact failure detection signal Vdet indicates a high level.

また、接触状態検出回路100は、常時接触インピーダンスをモニタできるため、従来技術のように、接触インピーダンスを一時的にモニタする時間T1、後続の測定時間T2の設定を行うという制約を受けず、測定時の柔軟性が増すという効果を奏する。   In addition, since the contact state detection circuit 100 can always monitor the contact impedance, it is not subject to the restriction that the time T1 for temporarily monitoring the contact impedance and the subsequent measurement time T2 are set as in the prior art. There is an effect that the flexibility of time increases.

以上、本発明の接触状態検出回路100を用いることで、高品質な生体信号の記録が実現できるという効果を奏する。   As described above, by using the contact state detection circuit 100 of the present invention, there is an effect that recording of a high quality biological signal can be realized.

《第2の実施形態》
図8は、第2の実施形態に係る接触状態検出回路200の構成を示す。接触状態検出回路200は、選択回路70と選択信号SELを用いて、n個の電極10(nは2以上の整数)の中から1個の電極(k番目の電極とする)を選択し、インピーダンス測定を行い、当該電極の接触状態を判定する。選択回路70で選択したk番目の電極の接触インピーダンスに対応するアナログ電圧Vimpkと、接触不良検出信号Vdetkが出力される。図8のように、選択信号SELは複数ビットで構成される制御信号であっても良い。例えば、接触状態検出回路200が8個の電極10の接触状態を検出する場合は(n=8)、選択信号SELは3ビット必要である。8個の電極10全ての接触状態を検知したい場合は、3ビットの選択信号SELの全組合せ8通りを時分割で切り替えて、それぞれの接触不良検出信号Vdetkをモニタすれば良い。
<< Second Embodiment >>
FIG. 8 shows a configuration of a contact state detection circuit 200 according to the second embodiment. The contact state detection circuit 200 uses the selection circuit 70 and the selection signal SEL to select one electrode (referred to as the kth electrode) from among the n electrodes 10 (n is an integer of 2 or more), Impedance measurement is performed to determine the contact state of the electrode. An analog voltage Vimpk corresponding to the contact impedance of the k-th electrode selected by the selection circuit 70 and a contact failure detection signal Vdetk are output. As shown in FIG. 8, the selection signal SEL may be a control signal composed of a plurality of bits. For example, when the contact state detection circuit 200 detects the contact state of the eight electrodes 10 (n = 8), the selection signal SEL requires 3 bits. If it is desired to detect the contact state of all the eight electrodes 10, all eight combinations of the 3-bit selection signal SEL may be switched in a time-sharing manner, and each contact failure detection signal Vdetk may be monitored.

以上のように、本実施形態により、1つの接触状態検出回路200で、複数の電極の接触状態を監視することができるという効果を奏する。特に、ユーザが椅子に座っている等、静止した状態で生体信号の測定を行う時に、全ての電極の接触状態を常時監視する必要が無いために、接触状態検出回路200は有用である。   As described above, according to this embodiment, there is an effect that the contact state of a plurality of electrodes can be monitored by one contact state detection circuit 200. In particular, the contact state detection circuit 200 is useful because it is not necessary to constantly monitor the contact state of all the electrodes when a biological signal is measured in a stationary state such as when the user is sitting on a chair.

また、本実施形態は、接触インピーダンスの計算が複雑な式で表される場合にも有用である。インピーダンス測定回路20と接触状態評価回路30をそれぞれ1つ有するだけでよく、小面積で低コストな接触状態検出回路が実現できる。   The present embodiment is also useful when the calculation of contact impedance is expressed by a complicated expression. Only one impedance measurement circuit 20 and one contact state evaluation circuit 30 are required, and a contact state detection circuit with a small area and low cost can be realized.

《第2の実施形態の変形例》
図9は、第2の実施形態の変形例に係る接触状態検出回路200aを示している。電極10のそれぞれにインピーダンス測定回路20を設け、全ての電極について接触インピーダンスの測定を常時行いながら、インピーダンス値を算出したい1個の電極(k番目の電極とする)を選択して、当該電極の接触状態を判定する。
<< Modification of Second Embodiment >>
FIG. 9 shows a contact state detection circuit 200a according to a modification of the second embodiment. An impedance measurement circuit 20 is provided for each of the electrodes 10, and one electrode (referred to as the kth electrode) for which an impedance value is to be calculated is selected while constantly measuring contact impedance for all the electrodes. The contact state is determined.

接触状態検出回路200aは、選択回路70で選択したk番目の電極の接触インピーダンスに対応するアナログ電圧Vimpkと、接触不良検出信号Vdetkを出力する。   The contact state detection circuit 200a outputs an analog voltage Vimpk corresponding to the contact impedance of the kth electrode selected by the selection circuit 70 and a contact failure detection signal Vdetk.

本実施形態は、インピーダンスの測定回数が単位時間当たりに頻繁に発生する場合や、配置する電極の位置が離れている場合に、接触状態検出回路200aの回路規模を比較的小規模に収めることができる点で有用である。   In the present embodiment, when the number of impedance measurements frequently occurs per unit time, or when the positions of electrodes to be arranged are separated, the circuit scale of the contact state detection circuit 200a can be kept relatively small. Useful in that it can.

《生体信号取得装置》
図10のように、接触状態検出回路100は、生体信号取得装置300に適用可能である。本実施形態の生体信号取得装置300では、3個の電極の接触状態をそれぞれ検出する。生体信号取得装置300は、電極10、接触状態検出回路100、出力制御部180、接触不良表示部181、AD変換器190、生体信号取得装置の本体320で構成される。
<< Biological signal acquisition device >>
As shown in FIG. 10, the contact state detection circuit 100 can be applied to the biological signal acquisition apparatus 300. In the biological signal acquisition apparatus 300 of this embodiment, the contact state of the three electrodes is detected. The biological signal acquisition device 300 includes an electrode 10, a contact state detection circuit 100, an output control unit 180, a contact failure display unit 181, an AD converter 190, and a main body 320 of the biological signal acquisition device.

(電極からAD変換までの動作)
k番目の電極10からAD変換器190までの動作を説明する。k番目の接触状態検出回路100は、k番目の電極部10のアナログ信号Vimpkおよび接触不良検出信号Vdetkを出力する。出力制御部180は、接触状態に応じて、アナログ信号Vimpkが有効な時のみ、実際の測定データを出力するという制御を行う。例えば、接触不良検出信号Vdetkがローレベル(接触している状態)の場合は、出力Vimpk‘は入力データVimpkをそのまま出力する。一方、Vdetkがハイレベル(離れている状態)の場合は、出力Vimpk‘は接地電圧Vss(または電源電圧Vdd)を出力する。AD変換器190では、Vimpk‘のアナログデータを所定のサンプリング時間でデジタルコードIMPkに変換する。
(Operation from electrode to AD conversion)
The operation from the kth electrode 10 to the AD converter 190 will be described. The kth contact state detection circuit 100 outputs the analog signal Vimpk and the contact failure detection signal Vdetk of the kth electrode unit 10. The output control unit 180 performs control to output actual measurement data only when the analog signal Vimpk is valid according to the contact state. For example, when the contact failure detection signal Vdetk is at a low level (in a contact state), the output Vimpk ′ outputs the input data Vimpk as it is. On the other hand, when Vdetk is at a high level (separated state), the output Vimpk ′ outputs the ground voltage Vss (or the power supply voltage Vdd). The AD converter 190 converts the analog data of Vimpk ′ into a digital code IMPk at a predetermined sampling time.

接触不良表示部181は、LED等の表示素子から構成される、ユーザに電極の接触不良を伝達し、電極の装着し直しを促す。接触不良検出信号出力Vdetがローレベルの場合はLEDが消灯し、ハイレベルの場合はLEDが点灯する。   The contact failure display unit 181 is configured with a display element such as an LED to transmit the contact failure of the electrode to the user and prompt the user to reattach the electrode. The LED is turned off when the contact failure detection signal output Vdet is at a low level, and the LED is turned on when it is at a high level.

(生体信号取得装置本体の動作)
生体信号取得装置の本体320は、入力部321、出力部322、DSP323、RAM324、波形表示部325、記録部326、外部インターフェース327で構成される。
(Operation of the biological signal acquisition device main body)
The main body 320 of the biological signal acquisition apparatus includes an input unit 321, an output unit 322, a DSP 323, a RAM 324, a waveform display unit 325, a recording unit 326, and an external interface 327.

入力部321は、ボタンやファンクションキー等を有し、生体信号取得装置300の各種設定やイベント等の入力に用いられる。出力部322は、例えばスピーカであり、接触不良が生じた時など、音によって機器のユーザに各種情報を報知するために用いられる。   The input unit 321 includes buttons, function keys, and the like, and is used to input various settings and events of the biological signal acquisition apparatus 300. The output unit 322 is a speaker, for example, and is used for notifying various kinds of information to the user of the device by sound when a contact failure occurs.

DSP323は、各構成要素を制御し、生体信号取得装置300に必要な各種動作を実現する。また、高速フーリエ変換やデジタルフィルタリングなど、信号解析用のアルゴリズムなどを実行し、生体信号のデータ解析の後処理も行う。   The DSP 323 controls each component and realizes various operations necessary for the biological signal acquisition apparatus 300. Also, signal analysis algorithms such as fast Fourier transform and digital filtering are executed, and post-processing of biosignal data analysis is also performed.

RAM324は、DSP323が作業するための領域として用いられる他、各種データの一時的な記憶領域としても用いられる。   The RAM 324 is used not only as an area for the DSP 323 to work but also as a temporary storage area for various data.

波形表示部325は、生体信号の生データやDSPで行った演算の解析結果などを表示する他に、本体側でも接触不良表示部181と同じ機能を有する。   The waveform display unit 325 has the same function as the contact failure display unit 181 on the main body side, in addition to displaying raw data of biological signals, analysis results of operations performed by the DSP, and the like.

記録部326は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリから構成され、取得した生体波形データや、データの取得に関係する情報各種(取得時間やユーザの個人情報等)等が記憶される。記録部326は本体320と着脱可能に接続されても良い。   The recording unit 326 is configured by a non-volatile memory such as a flash memory, and stores acquired biological waveform data, various information related to data acquisition (acquisition time, user personal information, etc.), and the like. The recording unit 326 may be detachably connected to the main body 320.

外部I/F327は、例えば生体信号の分析を行う外部機器等を接続するためのインターフェース回路であり、周知のシリアルインターフェース(RS−232C、USB、IEEE1394等)によって構成される。外部インターフェースは、外部モニタなど特定のインターフェースを介して外部機器に表示部と同じ画像を送るところである。   The external I / F 327 is an interface circuit for connecting an external device or the like that analyzes a biological signal, for example, and is configured by a well-known serial interface (RS-232C, USB, IEEE 1394, etc.). The external interface is where the same image as the display unit is sent to an external device via a specific interface such as an external monitor.

以上のように、生体信号取得装置300を用いれば、内蔵の接触状態検出回路100で、電極の接触状態をリアルタイムに検出でき、出力制御部180で有効な生体信号データだけを抽出できるため、信号品質の高い生体信号を記録できるという利点がある。   As described above, when the biological signal acquisition device 300 is used, the contact state detection circuit 100 can detect the contact state of the electrodes in real time, and the output control unit 180 can extract only valid biological signal data. There is an advantage that a high-quality biological signal can be recorded.

《健康機器》
図11のように、接触状態検出回路100は、指圧マッサージ機などの健康機器400に適用可能である。健康機器400は、4本指の代わりをする4本の圧迫部を用いて、圧迫部と皮膚との接触面にそれぞれ小さな電極10を配置しておき、圧迫動作と減圧動作それぞれの動作モードにおいて、電極と皮膚との接触インピーダンスをモニタしながら、指圧マッサージを行うものである。指圧マッサージのような健康機器では、圧迫部と皮膚が接触している状態だけでなく、圧迫部が皮膚から離れている状態の制御も重要になる。
《Health equipment》
As shown in FIG. 11, the contact state detection circuit 100 can be applied to a health device 400 such as a shiatsu massage machine. The health device 400 uses four compression parts instead of four fingers, arranges small electrodes 10 on the contact surface between the compression part and the skin, and in each operation mode of the compression operation and the decompression operation. Acupressure massage is performed while monitoring the contact impedance between the electrode and the skin. In a health device such as acupressure massage, it is important to control not only the state where the compression part is in contact with the skin but also the state where the compression part is separated from the skin.

健康機器400は、電極10、圧迫部410、接触状態検出回路100、接触状態表示部420および、制御部430を備えている。k番目の電極の接触状態を表す信号に関しては、接触不良検出信号Vdetkに代えて、接触状態検出信号Vdetk‘を出力する。接触状態検出信号Vdetk‘は、接触状態検出回路100の接触インピーダンスが基準インピーダンスより低い時(接触した状態)にハイレベルを示し、基準インピーダンスより低くない時(離れた状態)にローレベルを表す。   The health device 400 includes an electrode 10, a compression unit 410, a contact state detection circuit 100, a contact state display unit 420, and a control unit 430. As for a signal indicating the contact state of the kth electrode, a contact state detection signal Vdetk ′ is output instead of the contact failure detection signal Vdetk. The contact state detection signal Vdetk ′ indicates a high level when the contact impedance of the contact state detection circuit 100 is lower than the reference impedance (contact state), and indicates a low level when the contact impedance is not lower than the reference impedance (distant state).

図12は、指圧マッサージ機として用いる健康機器400の動作の一例を説明する図である。時間T1に腕のつぼを圧迫部で圧迫し(モードT1)、後続の時間T2に圧迫部を腕から離す(モードT2)を繰り返す。   FIG. 12 is a diagram illustrating an example of the operation of the health device 400 used as a shiatsu massage machine. At time T1, the arm's urn is compressed with the compression part (mode T1), and at the subsequent time T2, the compression part is separated from the arm (mode T2).

時刻t=t0に、k番目の圧迫部は、制御部430からの制御信号Vfkを受け、皮膚を圧迫し、モードT1に移行する。この間、接触状態検出回路100の接触状態検出信号Vdetk‘がハイレベルを示し、制御部430に送られる。T1秒経過後にモードT2に移行した時、制御部430は制御信号Vfkを圧迫部410に送り、減圧動作が行われ、圧迫部と皮膚は離れる。ここで、接触状態検出回路100の接触状態検出信号Vdetk‘がローレベルを示し、制御部430に送られる。   At time t = t0, the kth compression unit receives the control signal Vfk from the control unit 430, compresses the skin, and shifts to mode T1. During this time, the contact state detection signal Vdetk ′ of the contact state detection circuit 100 indicates a high level and is sent to the control unit 430. When the mode transitions to mode T2 after the elapse of T1 seconds, the control unit 430 sends a control signal Vfk to the compression unit 410 to perform a decompression operation, and the compression unit and the skin are separated. Here, the contact state detection signal Vdetk ′ of the contact state detection circuit 100 indicates a low level and is sent to the control unit 430.

以上のように、本発明の健康機器400を用いると、電極と皮膚とが接触しているか、離れているかの両方の状態をリアルタイムに検出できるため、圧迫と減圧の制御を正確に行うことができる。   As described above, when the health device 400 of the present invention is used, it is possible to detect in real time both the state in which the electrode and the skin are in contact with each other, and therefore it is possible to accurately control compression and decompression. it can.

なお、電極のインピーダンス測定は必ずしも常時行わなくても良い。特に圧迫するモードでは電極を皮膚に押し付けている状態のため、インピーダンス測定は間欠的に行われても良い。接触状態検出回路100および健康機器400で消費する電力が節約できるという効果を奏する。   Note that the electrode impedance measurement need not always be performed. In particular, since the electrode is pressed against the skin in the compression mode, the impedance measurement may be performed intermittently. There is an effect that power consumed in the contact state detection circuit 100 and the health device 400 can be saved.

本発明にかかる接触状態検出回路は、電極を人体の所定部位に接触させて生体信号を取得する、例えば携帯型脳波計測装置等の生体信号取得装置に有用である。また、接触状態に応じて圧迫動作が制御される携帯用マッサージ機等の健康機器にも有用である。   The contact state detection circuit according to the present invention is useful for a biological signal acquisition apparatus such as a portable electroencephalogram measurement apparatus that acquires a biological signal by bringing an electrode into contact with a predetermined part of a human body. It is also useful for health equipment such as a portable massage machine in which the compression operation is controlled according to the contact state.

Vdd 電源電圧
Vss 接地電圧
Vcal インピーダンスの電圧換算値(計算値)
Vref 基準電圧
Vimp インピーダンス信号のアナログデータ
Vdet 接触不良検出信号
Vimpk インピーダンス信号のアナログデータ
Vimp1〜Vimp3 インピーダンス信号のアナログデータ
Vimp1‘〜Vimp3‘ インピーダンス信号のアナログデータ
Vdetk 接触不良検出信号
Vdet1〜Vdet3 接触不良検出信号
Vdetk‘ 接触状態検出信号
Vdet1‘〜Vdet3‘ 接触状態検出信号
Vf1〜Vf4 制御信号
I 測定用電流源の電流値
Ia 測定用電流Iの振幅
IMP1〜IMP3 インピーダンス信号のデジタルデータ
N1 インピーダンス測定回路の電極側ノード
N2 インピーダンス測定回路の接触状態評価回路側ノード
V1 インピーダンス測定回路のノードN1の電圧
V2 インピーダンス測定回路のノードN2の電圧
R1、R2、R3 抵抗素子

10 電極
20 インピーダンス測定回路
21 測定用電流源
30 接触状態判定回路
40 インピーダンス計算回路
41 絶対値回路
42 定数倍回路
50 基準電圧生成回路
51 電流源
60 比較器
70 選択回路
100 接触状態検出回路
180 出力制御部
181 接触不良表示部
190 AD変換器
200、200a 接触状態検出回路
300 生体信号取得装置
320 生体信号取得装置本体
321 入力部
322 出力部
323 DSP
324 RAM
325 波形表示部
326 記録部
327 外部I/F
330 DSPバス
400 健康機器
410 圧迫部
420 接触状態表示部
430 制御部

900 生体信号取得装置
910 電極部
920 本体
921 AD変換部
922 インピーダンス測定部
923 表示部
924 入力部
925 出力部
926 CPU
927 ROM
928 RAM
929 生体信号記録部
930 外部I/F
931 CPUバス
Vdd Power supply voltage Vss Ground voltage Vcal Impedance voltage conversion value (calculated value)
Vref Reference voltage Vimp Impedance signal analog data Vdet Contact failure detection signal Vimpk Impedance signal analog data Vimp1 to Vimp3 Impedance signal analog data Vimp1 'to Vimp3' Impedance signal analog data Vdtk Contact failure detection signals Vdet1 to Vdet3 Contact failure detection signal Vdetk ′ Contact state detection signals Vdet1 ′ to Vdet3 ′ Contact state detection signals Vf1 to Vf4 Control signal I Current value Ia of current source for measurement Ia Amplitude of current I for measurement IMP1 to IMP3 Digital data of impedance signal N1 Electrode side of impedance measurement circuit Node N2 Contact state evaluation circuit side node V1 of impedance measurement circuit Voltage V2 of node N1 of impedance measurement circuit Voltage of de N2 R1, R2, R3 resistor element

DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Electrode 20 Impedance measurement circuit 21 Current source 30 for measurement Contact state determination circuit 40 Impedance calculation circuit 41 Absolute value circuit 42 Constant multiplication circuit 50 Reference voltage generation circuit 51 Current source 60 Comparator 70 Selection circuit 100 Contact state detection circuit 180 Output control Unit 181 contact failure display unit 190 AD converter 200, 200a contact state detection circuit 300 biological signal acquisition device 320 biological signal acquisition device body 321 input unit 322 output unit 323 DSP
324 RAM
325 Waveform display unit 326 Recording unit 327 External I / F
330 DSP Bus 400 Health Equipment 410 Pressure Unit 420 Contact State Display Unit 430 Control Unit

900 Biosignal acquisition apparatus 910 Electrode unit 920 Main body 921 AD conversion unit 922 Impedance measurement unit 923 Display unit 924 Input unit 925 Output unit 926 CPU
927 ROM
928 RAM
929 biological signal recording unit 930 external I / F
931 CPU bus

Claims (16)

電極と皮膚との接触状態を検出する接触状態検出回路であって、
前記電極に交流電流を加える測定用電流源を有し、前記電極の接触インピーダンスを測定するインピーダンス測定回路と、
前記インピーダンス測定回路の出力信号に基づいて、前記接触インピーダンスに対応する第1の電圧を第1のノードに出力するインピーダンス計算回路と、
前記接触状態を検出するためのインピーダンスのしきい値に対応する第2の電圧を第2のノードに出力する基準電圧生成回路と、
前記第1の電圧と前記第2の電圧とを比較する比較器
を備えた接触状態検出回路。
A contact state detection circuit for detecting a contact state between an electrode and skin,
An impedance measurement circuit for measuring a contact impedance of the electrode, comprising a measurement current source for applying an alternating current to the electrode;
An impedance calculation circuit that outputs a first voltage corresponding to the contact impedance to a first node based on an output signal of the impedance measurement circuit;
A reference voltage generation circuit that outputs a second voltage corresponding to an impedance threshold for detecting the contact state to a second node;
A contact state detection circuit comprising a comparator for comparing the first voltage and the second voltage.
請求項1において、
前記測定用電流源は、前記交流電流の周波数が調整可能である
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 1,
The contact state detection circuit, wherein the measurement current source is capable of adjusting a frequency of the alternating current.
請求項1において、
前記インピーダンス計算回路は、絶対値計算回路を備える
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 1,
The impedance calculation circuit includes an absolute value calculation circuit.
請求項1において、
前記基準電圧生成回路は、
一端が電源電圧に接続され、他端が前記第2のノードに接続された第1の抵抗素子と、
一端が前記第2のノードに接続され、他端が接地電圧に接続された第2の抵抗素子とを
備える
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 1,
The reference voltage generation circuit includes:
A first resistance element having one end connected to a power supply voltage and the other end connected to the second node;
A contact state detection circuit comprising: a second resistance element having one end connected to the second node and the other end connected to a ground voltage.
請求項4において、
前記基準電圧生成回路は、
前記第1または第2の抵抗素子の抵抗値が調整可能である
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 4,
The reference voltage generation circuit includes:
A contact state detection circuit, wherein a resistance value of the first or second resistance element is adjustable.
請求項1において、
前記基準電圧生成回路は、
一端が電源電圧に接続され、他端が前記第2のノードに接続された第1の電流源と、
一端が前記第2のノードに接続され、他端が接地電圧に接続された第3の抵抗素子とを備える
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 1,
The reference voltage generation circuit includes:
A first current source having one end connected to the power supply voltage and the other end connected to the second node;
A contact state detection circuit comprising: a third resistance element having one end connected to the second node and the other end connected to a ground voltage.
請求項6において、
前記基準電圧生成回路は、
前記第1の電流源の電流値または前記第3の抵抗素子の抵抗値が調整可能である
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 6,
The reference voltage generation circuit includes:
The contact state detection circuit, wherein a current value of the first current source or a resistance value of the third resistance element is adjustable.
n個の電極(nは2以上の整数)と皮膚との接触状態を検出する接触状態検出回路であって、
前記n個の電極の内から一つを選択する選択回路と、
前記電極に交流電流を加える測定用電流源を有し、前記電極の接触インピーダンスを測定するインピーダンス測定回路と、
前記インピーダンス測定回路の出力信号に基づいて、前記接触インピーダンスに対応する第1の電圧を第1のノードに出力するインピーダンス計算回路と、
前記接触状態を検出するためのインピーダンスのしきい値に対応する第2の電圧を第2のノードに出力する基準電圧生成回路と、
前記第1の電圧と前記第2の電圧とを比較する比較器
を備えた接触状態検出回路。
A contact state detection circuit for detecting a contact state between n electrodes (n is an integer of 2 or more) and skin,
A selection circuit for selecting one of the n electrodes;
An impedance measurement circuit for measuring a contact impedance of the electrode, comprising a measurement current source for applying an alternating current to the electrode;
An impedance calculation circuit that outputs a first voltage corresponding to the contact impedance to a first node based on an output signal of the impedance measurement circuit;
A reference voltage generation circuit that outputs a second voltage corresponding to an impedance threshold for detecting the contact state to a second node;
A contact state detection circuit comprising a comparator for comparing the first voltage and the second voltage.
請求項8において、
前記測定用電流源は、前記交流電流の周波数が調整可能である
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 8,
The contact state detection circuit, wherein the measurement current source is capable of adjusting a frequency of the alternating current.
請求項8において、
前記インピーダンス計算回路は、絶対値計算回路を備える
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 8,
The impedance calculation circuit includes an absolute value calculation circuit.
請求項8において、
前記基準電圧生成回路は、
一端が電源電圧に接続され、他端が前記第2のノードに接続された第1の抵抗素子と、
一端が前記第2のノードに接続され、他端が接地電圧に接続された第2の抵抗素子とを
備える
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 8,
The reference voltage generation circuit includes:
A first resistance element having one end connected to a power supply voltage and the other end connected to the second node;
A contact state detection circuit comprising: a second resistance element having one end connected to the second node and the other end connected to a ground voltage.
請求項11において、
前記基準電圧生成回路は、
前記第1または第2の抵抗素子の抵抗値が調整可能である
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 11,
The reference voltage generation circuit includes:
A contact state detection circuit, wherein a resistance value of the first or second resistance element is adjustable.
請求項8において、
前記基準電圧生成回路は、
一端が電源電圧に接続され、他端が前記第2のノードに接続された第1の電流源と、
一端が前記第2のノードに接続され、他端が接地電圧に接続された第3の抵抗素子とを備える
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 8,
The reference voltage generation circuit includes:
A first current source having one end connected to the power supply voltage and the other end connected to the second node;
A contact state detection circuit comprising: a third resistance element having one end connected to the second node and the other end connected to a ground voltage.
請求項13において、
前記基準電圧生成回路は、
前記第1の電流源の電流値または前記第3の抵抗素子の抵抗値が調整可能である
ことを特徴とする接触状態検出回路。
In claim 13,
The reference voltage generation circuit includes:
The contact state detection circuit, wherein a current value of the first current source or a resistance value of the third resistance element is adjustable.
生体信号を取得する生体信号取得装置であって、
請求項1から14のいずれか一つに記載の接触状態検出回路と、
前記接触状態検出回路によって得られたアナログ信号をデジタルコードに変換する
AD変換器と、
前記AD変換器によって得られたデジタルコードを記録する記録部とを備える
ことを特徴とする生体信号取得装置。
A biological signal acquisition device for acquiring a biological signal,
The contact state detection circuit according to any one of claims 1 to 14,
An AD converter that converts an analog signal obtained by the contact state detection circuit into a digital code;
A biosignal acquisition apparatus comprising: a recording unit that records a digital code obtained by the AD converter.
請求項1から14のいずれか一つにおいて、
先端に前記n個の電極(nは1以上の整数)のそれぞれが取り付けられ、皮膚に対して進退運動を行うn個の押圧体と、
前記接触状態検出回路と、
前記n個の押圧体のそれぞれに前記進退運動を制御するための制御信号を送る制御部と
を備える
ことを特徴とする健康機器。
In any one of Claims 1-14,
Each of the n electrodes (n is an integer of 1 or more) is attached to the tip, and n pressing bodies that move forward and backward with respect to the skin,
The contact state detection circuit;
A health device comprising: a control unit that sends a control signal for controlling the advance / retreat movement to each of the n pressing bodies.
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