JP4187477B2 - Low reflection film - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、防眩性や表面の反射防止性に優れた低反射フィルムに関し、さらに詳しくは、テレビジョン、コンピュータ、ワードプロセッサ等の各種ディスプレイ、液晶表示装置に用いる偏光板などの表面に用いられ、表面の反射防止性、また、塵埃による汚れ防止性や耐擦傷性に優れ、特に基材シートとこれに隣接する層との界面で表面からの入射光が反射されることにより発生する干渉ムラ(色ムラ)を抑制することができる低反射フィルムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
テレビジョン、コンピュータ、ワードプロセッサ等の各種電子機器のディスプレイやその他種々の商業ディスプレイ等には、ガラスやプラスチックなどの透明基板が用いられ、これらの透明基板を通して文字や図形画像などの視覚情報を得ているが、これらの透明基板は表面において外光反射が生じ、上記した視覚情報が見づらいという問題があった。
【0003】
また、上記した透明基板、特にプラスチック透明基板や電子ビームが前面に当たっているCRT(ブラウン管)等のガラス透明基板は帯電がおきやすく、これにより塵埃が付着したり、また、この塵埃を取り除く際や清掃時等に透明基板に擦り傷や引っ掻き傷等が付くことにより透明性が損なわれるという問題があった。
【0004】
そこで、上記した問題を解決する一つの方法として、たとえば、ガラスやプラスチックなどの透明基板の前面に、透明基材フィルムにハードコート層、透明導電層あるいは反射防止層等を形成した反射防止フィルムを貼設する方法が採られ、これにより傷付き防止、帯電防止、反射防止等を図っている。
【0005】
上記した反射防止フィルムの代表的な構成としては、たとえば、▲1▼透明基材フィルム上に多官能アクリレート樹脂等からなるハードコート層を積層し、その上に前記ハードコート層よりも屈折率の低い反射防止層を積層した構成、あるいは、▲2▼透明基材フィルム上に導電性微粒子を含有した多官能アクリレート樹脂等からなるハードコート層を積層し、その上に前記ハードコート層よりも屈折率の低い反射防止層を積層した構成のものなどである。
【0006】
しかし、上記▲1▼、▲2▼の構成の反射防止フィルムにおいて、反射防止層、ハードコート層、透明基材フィルムのそれぞれの屈折率が異なるために、前記反射防止層と前記ハードコート層との界面および前記ハードコート層と前記透明基材フィルムとの界面でそれぞれ表面側から入射した外光が反射し、このそれぞれの反射光が干渉を起こし干渉ムラ(色ムラ)として観察され、文字や図形画像などの視覚情報を見づらくするという問題があった。特に、上記▲2▼の構成の反射防止フィルムにおいては、ハードコート層がITO(酸化インジウム錫)やATO(アンチモンドープ酸化錫)などの導電性微粒子を含有した層からなるために、このハードコート層は均一な膜厚の塗膜層を形成することは難しく、大きなウネリ状の膜厚ムラとなり、これに起因して一層干渉ムラ(色ムラ)が顕著になって現れる。上記▲1▼、▲2▼の構成の反射防止フィルムにおいて、干渉ムラ(色ムラ)を抑制する方法としては、最表面に凹凸形状を付与することにより、干渉ムラ(色ムラ)をある程度は抑制することができるものの、ヘイズ(曇度)が高くなり、すなわち、フィルム表面が白化するために解像度、コントラスト、透明性などの光学的特性が低下し、さらにまた、このものをCRT(ブラウン管)等の表面に貼設するとフィルム表面にキラキラと光る、いわゆる面ギラ(シンチレーション)と呼ばれる輝きが発生し、文字や図形画像などの視覚情報の視覚性が低下するという問題があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
そこで本発明は、各種ディスプレイ等に使用して透明基板を通して認識する文字や図形画像などの視覚情報を観察する場合に、表面からの入射光が、特に透明基材フィルムとこれに隣接する層との界面で反射される反射光が関与することにより発生する干渉ムラ(色ムラ)を抑制することができると共に面ギラの問題とならない低反射フィルムを提供することであり、さらにまた、外光の反射を防止し、帯電による塵埃の付着を防止し、擦り傷や引っ掻き傷等で透明性を損なわない程度に十分な硬度を有する低反射フィルムを提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、上記課題を達成するために、請求項1記載の本発明の帯電防止性低反射フィルムは、透明基材フィルムの一方の面に、干渉防止塗膜層、ハードコート層、及び反射防止層が順に積層された帯電防止性低反射フィルムであって、
前記ハードコート層の屈折率が前記反射防止層の屈折率よりも高く形成され、
前記干渉防止塗膜層は、アクリル、スチレン−アクリル共重合体、メラミン、ポリカーボネート、ポリエチレン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニルよりなる群から選ばれる一種ないしそれ以上の種類の透明樹脂ビーズと、金属酸化物からなる導電性微粒子を少なくとも含有する塗布液を硬化させて得られ、且つ当該干渉防止塗膜層は前記透明基材フィルムとは反対側の面に、JIS−B0601−1994の10点平均粗さによる表面粗さが、0.05〜0.15μmの範囲の微細凹凸面を有することを特徴とするものである。
【0010】
上記請求項1に記載の構成とすることにより、反射防止層側から入射する外光の反射光を微細凹凸面で散乱させることができ、干渉ムラ(色ムラ)を抑制した低反射フィルムとすることができる。なお、本明細書での表面粗さは、JIS−B0601−1994の10点平均粗さによる表面粗さである。
【0012】
また、請求項1記載の本発明は、前記干渉防止塗膜層が、導電性微粒子を含有することにより、安定した導電性を有する。
【0013】
前記干渉防止塗膜層が、アクリル、スチレン−アクリル共重合体、メラミン、ポリカーボネート、ポリエチレン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニルよりなる群から選ばれる一種ないしそれ以上の種類の透明な樹脂ビーズを含有することにより、微細凹凸面による干渉防止効果を有する低反射フィルムとすることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
上記の本発明について、図面等を用いて以下に詳述する。
図1は本発明にかかる低反射フィルムの第1実施形態を図解的に示す図、図2は本発明にかかる低反射フィルムの第2実施形態を図解的に示す図、図3は本発明にかかる低反射フィルムの第3実施形態を図解的に示す図、図4は本発明にかかる低反射フィルムの第4実施形態を図解的に示す図であり、図中の1,1’,1”,1’’’は低反射フィルム、10,10’は透明基材フィルム、20,20’は干渉防止塗膜層、30,30’はハードコート層、31は第1ハードコート層、32は第2ハードコート層、40は反射防止層、Aは微細凹凸面、αは導電性微粒子、βは透明樹脂ビーズをそれぞれ示す。
【0018】
図1は本発明にかかる低反射フィルムの第1実施形態を図解的に示す図であって、低反射フィルム1は透明基材フィルム10上に該透明基材フィルム10と対向する面が0.05〜0.15μmの範囲の表面粗さからなる微細凹凸面Aを有する干渉防止塗膜層20を形成し、該干渉防止塗膜層20の前記微細凹凸面Aに、ハードコート層30と反射防止層40とが順に積層され、前記ハードコート層30の屈折率が前記反射防止層40の屈折率よりも高く形成した構成とすることにより、前記反射防止層40側から観察した際に、反射防止性を有する低反射フィルム1とすることができ、また、前記干渉防止塗膜層20の前記ハードコート層と隣接する面を微細凹凸面Aとすることにより、前記反射防止層40側から観察した際に、前記反射防止層側から入射する外光の反射光を前記微細凹凸面Aで散乱させて、干渉ムラ(色ムラ)を抑制することができ、干渉ムラ(色ムラ)の目立たない低反射フィルムとすることができる。
【0019】
図2は本発明にかかる低反射フィルムの第2実施形態を図解的に示す図であって、低反射フィルム1’は図1に示した第1実施形態の低反射フィルム1の前記干渉防止塗膜層20を導電性微粒子αと透明樹脂ビーズβとを含有した干渉防止塗膜層20’とすることにより導電性と所望の微細凹凸面Aを付与したものであって、これ以外は図1に示した第1実施形態と同じである。このように導電性微粒子αと透明樹脂ビーズβとを含有した干渉防止塗膜層20’とすることにより、前記導電性微粒子αにより前記干渉防止塗膜層20’を導電層とすることができて帯電防止効果を有する共に前記透明樹脂ビーズβにより微細凹凸による干渉防止効果を有する低反射フィルムとすることができる。
【0020】
図3は本発明にかかる低反射フィルムの第3実施形態を図解的に示す図であって、低反射フィルム1”は図1に示した第1実施形態の低反射フィルム1の前記ハードコート層30が前記反射防止層40の屈折率より相対的に高い屈折率を有する第1ハードコート層31と前記反射防止層40と隣接する第2ハードコート層32とからなると共に、前記第2ハードコート層32の屈折率が前記第1ハードコート層31の屈折率よりも相対的に高い屈折率となるように構成されたハードコート層30’からなるものであって、これ以外は図1に示した第1実施形態と同じである。このように相対的に低い屈折率を有する前記第1ハードコート層31と相対的に高い屈折率を有する前記第2ハードコート層32とからなる前記ハードコート層30’とすることにより、前記反射防止層40と前記第2ハードコート層32と前記第1ハードコート層31との相対的屈折率がそれぞれ低屈折率、高屈折率、中屈折率となり、前記反射防止層40側から観察した際に、一層反射防止性を高めた低反射フィルムとすることができる。
【0021】
図4は本発明にかかる低反射の第4実施形態を図解的に示す図であって、低反射フィルム1’’’は図1に示した第1実施形態の低反射フィルム1の前記干渉防止塗膜層20により形成した微細凹凸面Aを、前記透明基材フィルム10に代えて、一方の表面に微細凹凸面Aを有する透明基材フィルム10’を用いることにより、前記干渉防止塗膜層20を設けることなく、0.05〜0.15μmの範囲の表面粗さからなる微細凹凸面Aを形成したものであって、これ以外は図1に示した第1実施形態と同じである。
【0022】
次に、本発明の低反射フィルム1、1’,1”,1’’’を構成する材料について説明する。
まず、透明基材フィルム10について説明する。透明基材フィルム10としては、一軸方向ないし二軸方向に延伸したポリエステルが透明性および耐熱性に優れ、セルローストリアセテートフィルムは透明性および光学的に異方性がない点で好適に用いることができ、その他にもセルロースジないしトリアセテート、セルロースアセテートブチレート、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリプロピレン、ポリメチルペンテン、ポリ塩化ビニル、ポリビニルアセタール、ポリエーテルケトン、ポリメタアクリル酸メチル、ポリカーボネート、ポリウレタン等の熱可塑性ポリマーの未延伸、一軸方向ないし二軸方向に延伸した延伸フィルムを用いることができる。透明基材フィルムの好ましい厚さは8〜1000μmである。また、一方の面に微細凹凸面Aを有する透明基材フィルム10’は上記したプラスチックフィルムを成膜する際に、上記した表面粗さを有する賦形フィルムないし賦形ロール等の周知の賦形方法を用いて賦形することや粒子を練り込むことにより形成することができる。また、前記透明基材フィルム10、10’は必要な面に、コロナ放電処理、オゾン処理、プラズマ処理等の周知の易接着処理を適宜施すことができる。
【0023】
次に、前記干渉防止塗膜層20の形成に用いられる樹脂について説明する。この樹脂としては、透明性を有しているものであれば特に限定するものではなく、たとえば、熱可塑性樹脂や熱硬化型や電離放射線硬化型などの反応硬化型樹脂等を用いることができるが、透明基材フィルム10ないし10’との接着性および前記干渉防止塗膜層20の上に形成する前記ハードコート層30、30’(正確には前記第1ハードコート層31)との接着性を考慮するならば反応硬化型樹脂が好ましく、たとえば、アルキッド樹脂、多価アルコール等の多官能化合物の(メタ)アクリレート〔以下本明細書では、アクリレートとメタクリレートとの両者を(メタ)アクリレートと記載する〕等のオリゴマーないしプレポリマーおよび反応性の希釈剤を比較的多量に含むもの等の電離放射線硬化型樹脂(その前躯体も含む)等を挙げることができる。
【0024】
なお、上記反応性希釈剤としては、エチル(メタ)アクリレート、エチルへキシル(メタ)アクリレート、スチレン、ビニルトルエン、N−ビニルピロリドン等の単官能モノマー、並びに、多官能モノマー、たとえば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ヘキサンジオール(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート等を挙げることができる。
【0025】
さらに、上記の電離放射線硬化型樹脂を紫外線硬化型樹脂として使用する場合には、これらの中に光重合開始剤として、たとえば、アセトフェノン類、ベンゾフェノン類、ミヒラーベンゾイルベンゾエート、α−アミロキシムエステル、チオキサントン類や光増感剤として、たとえば、n−ブチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン等を用いることができる。
【0026】
また、上記の電離放射線硬化型樹脂の硬化には、通常の電離放射線硬化型樹脂の硬化方法、すなわち、電子線ないし紫外線の照射によって硬化する方法を用いることができ、たとえば、電子線硬化の場合にはコックロフトワルトン型、バンデグラフ型、共振変圧型、絶縁コア変圧器型、直線型、ダイナミトロン型、高周波型等の各種電子線加速器から放出される50〜1000KeV、好ましくは100〜300KeVのエネルギーを有する電子線等が使用され、紫外線硬化の場合には超高圧水銀灯、高圧水銀灯、低圧水銀灯、カーボンアーク、キセノンアーク、メタルハライドランプ等の光線から発する紫外線等を利用することができる。
【0027】
なお、前記干渉防止塗膜層20は、上記した透明性を有する樹脂(以下、透明性樹脂と呼称する)からなる塗布液を上記した透明基材フィルム10に直接ないし前記透明基材フィルム10との接着を強固にするプライマー層20を介して形成することができ、塗布方法は、特に限定されるものではなく、塗布液の特性や塗布量に応じて、たとえば、ロールコート法、グラビアコート法、バーコート法、押出しコート法等の周知の塗布方法より適当な塗布方法を選択して行えばよいものである。前記干渉防止塗膜層20の塗布厚さとしては、概ね0.5〜3.0μmである。
【0028】
次に、導電性を付与した前記干渉防止塗膜層20’は、前記干渉防止塗膜層20で説明した透明性樹脂に前記導電性微粒子αを分散させた塗布液を上記した塗布方法より適当な塗布方法を選択して塗布することにより形成することができる。これに用いる前記導電性微粒子αとしては、ZnO(屈折率:1.90)、CeO2(屈折率:1.95)、Sb2O5(屈折率:1.71)、SnO2(屈折率:1.997)、In2O3(屈折率:2.00)、Al2O3(屈折率:1.63)、酸化インジウム錫(略称:ITO、屈折率:1.95)、アンチモンドープ酸化錫(略称:ATO、屈折率:2.0)、アルミニウムドープ酸化亜鉛(略称:AZO、屈折率:2.0)等の金属酸化物からなる群より選ばれる1種ないしは2種以上からなる微粒子を挙げることができ、この微粒子の平均粒径としては、透明性を考慮して10〜100nmのものが適当である。また、導電性を付与した前記干渉防止塗膜層20’の厚さとしては、表面抵抗率が1×1012Ω/□以下となるように構成するべきであり、0.5〜3.0μm、好ましくは1.0〜2.0μmである。0.5μm未満では表面抵抗率が1×1012Ω/□以下とすることが困難であり、3.0μm超では透明性を失う虞がある。
【0029】
また、前記干渉防止塗膜層20’は、前記干渉防止塗膜層20で説明した透明性樹脂に前記透明樹脂ビーズβを分散させた塗布液を上記した塗布方法より適当な塗布方法を選択して塗布することにより形成することができる。これに用いる前記透明樹脂ビーズβとしては、前記透明樹脂ビーズβを分散させる前記透明性樹脂の屈折率との差が0〜0.10であるもの、より好ましくは0〜0.05であるものであり、また、前記透明樹脂ビーズβの平均粒径としては1.0〜5.0μmの範囲のものが適当であり、たとえば、アクリルビーズ(屈折率1.49)、スチレン−アクリル共重合体ビーズ(屈折率1.54)、メラミンビーズ(屈折率1.57)、ポリカーボネートビーズ(屈折率1.57)、ポリエチレンビーズ(屈折率1.50)、ポリスチレンビーズ(屈折率1.60)、ポリ塩化ビニルビーズ(屈折率1.60)等の一種ないしそれ以上の種類のビーズを適宜用いることができ、このような前記透明樹脂ビーズを用いることにより、内部ヘイズ(曇度)を抑制する。
【0030】
なお、前記干渉防止塗膜層20’を前記導電性微粒子αと前記透明樹脂ビーズβとを含有した層として説明したが、前記干渉防止塗膜層20’は前記導電性微粒子αないし前記透明樹脂ビーズβのいずれか一方を含有した層であってもよいものである。
【0031】
次に、前記干渉防止塗膜層20、20’上に形成する前記ハードコート層30について説明する。前記ハードコート層30は、耐擦傷性を有する硬度と導電性を付与した前記干渉防止塗膜層20’の導電性を極端に損なわない層であり、通常、塗布することにより形成することができる。前記ハードコート層30の形成には、前記干渉防止塗膜層20、20’の形成に用いられる上記した反応硬化型樹脂等が用いられる。また、塗布方法および硬化方法も前記干渉防止塗膜層20、20’の形成の場合と同じである。なお、本発明において、「ハードコート層」とは、JIS−K5400で示される鉛筆硬度試験でH以上の硬度を示すものである。
【0032】
本発明における前記ハードコート層30は、上記した電離放射線硬化型樹脂等の反応硬化型樹脂で形成することができ、この場合、前記ハードコート層30単独では導電性の機能がなくても、この層の下に形成した導電性を有する前記干渉防止塗膜層20’の効果で前記ハードコート層30上でも帯電防止効果のある表面抵抗率が測定される。なお、後述するが前記反射防止層40は前記ハードコート層30に比べて非常に薄膜であるために、前記ハードコート層30上に前記反射防止層40を形成してもその表面抵抗率等の帯電防止効果を損なうことはない。前記ハードコート層30の厚さとしては、1.0〜3.0μm、好ましくは1.5〜2.5μmである。1.0μm未満では、その上に形成する各層の硬度を維持できなくなり、3.0μm超では反射フィルム1、1’、1’’’の表面抵抗率を悪化させる。また、本発明において前記ハードコート層30の屈折率を後述する前記反射防止層40の屈折率よりも高く、具体的には前記ハードコート層30の屈折率を1.60〜1.80、前記反射防止層の屈折率を1.35〜1.45に構成することにより、後述する前記反射防止層40側から観察した際に、反射防止性を有する低反射フィルム1、1’、1’’’とすることができる。前記ハードコート層30の屈折率は、上記した透明性樹脂に透明な高屈折率の微粒子(以下、高屈折率微粒子と呼称する)、たとえば、TiO2(屈折率:2.3〜2.7)、Y2O3(屈折率:1.87)、La2O3(屈折率:1.95)、ZrO2(屈折率:1.05)等の1種ないし2種以上を適宜添加することにより、屈折率が調節される。
【0033】
また、後述する前記反射防止層40側から観察した際に、反射防止性を一層高める目的で、図1、2、4に示した前記ハードコート層30を図3に示すように前記第1ハードコート層31と前記第2ハードコート層32とからなる前記ハードコート層30’としてもよいものである。この場合、前記第2ハードコート層32の屈折率を前記第1ハードコート層31の屈折率より相対的に高く、かつ、前記第2ハードコート層32と前記第1ハードコート層31との屈折率を後述する前記反射防止層40のl屈折率よりも相対的に高く、具体的には前記第1ハードコート層31の屈折率を1.60〜1.80、前記第2ハードコート層の屈折率を1.80〜1.95、後述する前記反射防止層40の屈折率を1.35〜1.45に構成する。前記第1ハードコート層31および前記第2ハードコート層32の形成は、上記した透明性樹脂を用い、該透明性樹脂に上記した高屈折率微粒子を前記第1ハードコート層31の屈折率が前記第2ハードコート層32の屈折率よりも相対的に低く、かつ、上記した屈折率になるようにそれぞれ添加することにより屈折率が調節される。また、前記第1ハードコート層31は前記ハードコート層30と同じ目的で形成される層であり説明は省略する。また、前記第2ハードコート層32は前記低反射フィルム1”の反射防止性を一層向上する目的で設けられるものであり、前記ハードコート層30に比べて非常に薄膜であるために、前記第1ハードコート層31上に前記第2ハードコート層32を形成し、さらにこの第2ハードコート層32上に後述する前記反射防止層40を形成してもその表面抵抗率等の帯電防止効果を損なうことはない。前記第2ハードコート層32の膜厚は、反射防止性を考慮すると50〜200nmが適当である。
【0034】
次に、前記反射防止層40について説明する。前記反射防止層40は本発明の低反射フィルムに低反射性(反射防止性)を付与するためであり、前記反射防止層40の屈折率は前記ハードコート層30、30’の屈折率よりも小さいことが必要であり、1.46以下であることが好ましく、さらに好ましくは1.35〜1.45である。また、本発明の低反射フィルム1、1’、1”、1’’’の反射防止性と帯電防止効果を考慮すると80〜120nmが適当である。また、前記反射防止層40の形成は、上記した透明性樹脂にシリカないしフッ化マグネシウムを添加した塗布液、あるいは、低屈折率樹脂であるフッ化ビニリデンとヘキサフルオロプロピレンとの共重合体やシリコン含有のフッ化ビニリデン共重合体等のフッ素系樹脂等からなる塗布液、あるいは、前記フッ素系樹脂にシリカないしフッ化マグネシウムを添加した塗布液を、たとえば、ロールコート法、グラビアコート法、バーコート法等の周知の塗布方法で塗布することにより、形成することができる。
【0035】
本発明の低反射フィルム1、1’、1”、1’’’は透視性と反射防止性を必要とする、たとえば、文字や図形画像などの視覚情報を観察する各種のディスプレイ、あるいは、カーブミラー、バックミラーなどの前面に貼設等して用いられるものである。
【0036】
【実施例】
次に、本発明について、以下に実施例を挙げてさらに詳しく説明する。
参考例1(旧実施例1)
188μm厚さのポリエステルフィルムA−4300〔東洋紡(株)製−商品名〕の一方の面に、ペンタエリスリトールトリアクリレートにスチレンビーズ(屈折率:1.60)を分散した塗布液を塗布・乾燥後に紫外線を照射して硬化させて2.5μm厚さの干渉防止塗膜層を形成した。ついで、この干渉防止塗膜層上にKZ7973〔ジルコニア超微粒子を分散させたハードコート剤(固形分50重量%):JSR(株)製−商品名〕を塗布・乾燥後に窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて3.0μm厚さのハードコート層(屈折率:1.69)を形成した。その後、前記ハードコート層上にTM086〔低屈折率コート剤(固形分10重量%):JSR(株)製−商品名〕をメチルイソブチルケトン(MIBK)で希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて100nm厚さの反射防止層(屈折率:1.41)を形成し、本発明の低反射フィルムを得た。
【0037】
参考例2(旧実施例2)
188μm厚さのポリエステルフィルムA−4300〔東洋紡(株)製−商品名〕の一方の面に、ペンタエリスリトールトリアクリレートにスチレンビーズ(屈折率:1.60)を分散した塗布液を塗布・乾燥後に紫外線を照射して硬化させて2.0μm厚さの干渉防止塗膜層を形成した。ついで、この干渉防止塗膜層上にKZ7973〔ジルコニア超微粒子を分散させたハードコート剤(固形分50重量%):JSR(株)製−商品名〕を塗布・乾燥後に窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて3.0μm厚さのハードコート層(屈折率:1.69)を形成した。その後、前記ハードコート層上にTM086〔低屈折率コート剤(固形分10重量%):JSR(株)製−商品名〕をMIBKで希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて100nm厚さの反射防止層(屈折率:1.41)を形成し、本発明の低反射フィルムを得た。
【0038】
参考例3(旧実施例3)
188μm厚さのポリエステルフィルムA−4300〔東洋紡(株)製−商品名〕の一方の面に、ペンタエリスリトールトリアクリレートにスチレンビーズ(屈折率:1.60)を分散した塗布液を塗布・乾燥後に紫外線を照射して硬化させて1.5μm厚さの干渉防止塗膜層を形成した。ついで、この干渉防止塗膜層上にKZ7973〔ジルコニア超微粒子を分散させたハードコート剤(固形分50重量%):JSR(株)製−商品名〕を塗布・乾燥後に窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて3.0μm厚さのハードコート層(屈折率:1.69)を形成した。その後、前記ハードコート層上にTM086〔低屈折率コート剤(固形分10重量%):JSR(株)製−商品名〕をMIBKで希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて100nm厚さの反射防止層(屈折率:1.41)を形成し、本発明の低反射フィルムを得た。
【0039】
実施例4
188μm厚さのポリエステルフィルムA−4300〔東洋紡(株)製−商品名〕の一方の面に、ペルトロンC−4456−S7〔ATO微粒子を分散させたハードコート剤(固形分45重量%):日本ペルノックス(株)製−商品名〕100重量部に対し、スチレンビーズ分散ハードコート剤〔ペンタエリスリトールトリアクリレートにスチレンビーズ(屈折率:1.60)を分散させたハードコート液(固形分48重量%〕を3重量部添加した塗布液を塗布・乾燥後に紫外線を照射して硬化させて2.0μm厚さの導電性を有する干渉防止塗膜層を形成した。ついで、この干渉防止塗膜層上にKZ7973〔ジルコニア超微粒子を分散させたハードコート剤(固形分50重量%):JSR(株)製−商品名〕を塗布・乾燥後に窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて3.0μm厚さのハードコート層(屈折率:1.69)を形成した。その後、前記ハードコート層上にTM086〔低屈折率コート剤(固形分10重量%):JSR(株)製−商品名〕をMIBKで希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて100nm厚さの反射防止層(屈折率:1.41)を形成し、本発明の低反射フィルムを得た。
【0040】
実施例5
188μm厚さのポリエステルフィルムA−4300〔東洋紡(株)製−商品名〕の一方の面に、ペルトロンC−4456−S7〔ATO微粒子を分散させたハードコート剤(固形分45重量%):日本ペルノックス(株)製−商品名〕100重量部に対し、スチレンビーズ分散ハードコート剤〔ペンタエリスリトールトリアクリレートにスチレンビーズ(屈折率:1.60)を分散させたハードコート液(固形分48重量%〕を3重量部添加した塗布液を塗布・乾燥後に紫外線を照射して硬化させて2.0μm厚さの導電性を有する干渉防止塗膜層を形成した。ついで、この干渉防止塗膜層上にKZ7973〔ジルコニア超微粒子を分散させたハードコート剤(固形分50重量%):JSR(株)製−商品名〕を塗布・乾燥後に窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて3.0μm厚さの第1ハードコート層(屈折率:1.69)を形成した。次に、前記第1ハードコート層上に酸化チタン分散ハードコート剤〔ペンタエリスリトールトリアクリレートに表面処理したチタニア微粒子を分散させた高屈折率ハードコート剤(固形分30重量%)〕をトルエン/MEKの混合溶剤で希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて160nm厚さの第2ハードコート層(屈折率:1.83)を形成した。その後、前記第2ハードコート層上にTM086〔低屈折率コート剤(固形分10重量%):JSR(株)製−商品名〕をMIBKで希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて100nm厚さの反射防止層(屈折率:1.41)を形成し、本発明の低反射フィルムを得た。
【0041】
参考例4(旧実施例6)
50μm厚さのポリエステルフィルムPTH−50〔ユニチカ(株)製−商品名:粒子を練り込んでシート化することにより0.1μmの表面粗さとしたフィルム〕に一方の面に、KZ7973〔ジルコニア超微粒子を分散させたハードコート剤(固形分50重量%):JSR(株)製−商品名〕を塗布・乾燥後に窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて3.0μm厚さのハードコート層(屈折率:1.69)を形成した。その後、前記ハードコート層上にTM086〔低屈折率コート剤(固形分10重量%):JSR(株)製−商品名〕をMIBKで希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて100nm厚さの反射防止層(屈折率:1.41)を形成し、本発明の低反射フィルムを得た。
【0042】
比較例1
干渉防止塗膜層の膜厚を3.5μmにした以外は実施例1と同様に作製して比較例とする低反射フィルムを得た。
【0043】
比較例2
干渉防止塗膜層の膜厚を1.0μmにした以外は実施例1と同様に作成して比較例とする低反射フィルムを得た。
【0044】
比較例3
188μm厚さのポリエステルフィルムA−4300〔東洋紡(株)製−商品名〕の一方の面に、ウレタン−アクリレート系電離放射線硬化型樹脂EH65〔ザ・インクテック(株)製−商品名〕をトルエンで希釈して塗布・乾燥後に紫外線を照射して硬化させて約6μm厚さのハードコート層を形成した。このハードコート層上にペルトロンC−4456−S7〔ATO微粒子を分散させたハードコート剤(固形分45重量%):日本ペルノックス(株)製−商品名〕100重量部に対し、スチレンビーズ分散ハードコート剤〔ペンタエリスリトールトリアクリレートにスチレンビーズ(屈折率:1.60)を分散させたハードコート液(固形分48重量%〕を3重量部添加した塗布液を塗布・乾燥後に紫外線を照射して硬化させて80nm厚さの導電性薄膜層を形成した。さらに、この導電性薄膜層上にTM086〔低屈折率コート剤(固形分10重量%):JSR(株)製−商品名〕をMIBKで希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて100nm厚さの反射防止層(屈折率:1.41)を形成し、比較例とする低反射フィルムを得た。
【0045】
比較例4
188μm厚さのポリエステルフィルムA−4300〔東洋紡(株)製−商品名〕の一方の面に、ペルトロンC−4456−S7〔ATO微粒子を分散させたハードコート剤(固形分45重量%):日本ペルノックス(株)製−商品名〕を100重量部に対し、スチレンビーズ分散ハードコート剤〔ペンタエリスリトールトリアクリレートにスチレンビーズ(屈折率:1.60)を分散させたハードコート液(固形分48重量%〕を3重量部添加した塗布液を塗布・乾燥後に紫外線を照射して硬化させて4μm厚さの導電性薄膜層を形成した。さらに、この導電性薄膜層上にTM086〔低屈折率コート剤(固形分10重量%):JSR(株)製−商品名〕をメチルイソブチルケトン(MIBK)で希釈して塗布・乾燥後に、窒素パージ下で紫外線を照射して硬化させて100nm厚さの反射防止層(屈折率:1.41)を形成し、比較例とする低反射フィルムを得た。
【0046】
上記で作製した実施例1〜6、および、比較例1〜4の低反射フィルムについて、干渉防止塗膜層の微細凹凸面の平均粗さを測定すると共に、干渉ムラ(色ムラ)、ギラツキ(面ギラ)、表面抵抗率、ヘイズ(曇度)、塗膜硬度、視感反射率の各項目について下記評価方法で評価して、その結果を表1および表2に示した。
(1)微細凹凸面の表面粗さ(μm):JIS−B0601−1994に準じて測定。
(2)干渉ムラ(色ムラ):目視で評価し、殆ど見られないものを良好として○印で示し、ぼんやりと見えるものを普通として△印で示し、はっきりと見えるものを不良として×印で示した。
(3)ギラツキ:CRTモニターに貼り合わせてギラツキを目視で評価し、低反射フィルムを貼っていない状態と変わらないものを良好として○印で示し、低反射フィルムを貼っていない状態と比較してややギラツイているものを普通として△印で示し、低反射フィルムを貼っていない状態と比較して明らかにギラツイているものを不良として×印で示した。
(4)表面抵抗率(Ω/□):三菱化学(株)製「抵抗率計MCP−HT260」を用いて低反射フィルム全体を測定した値である。
(5)ヘイズ(曇度)(%):JIS−K6714に準じて測定。
(6)塗膜硬度:タクマ精工製「簡易鉛筆引っ掻き試験機」を用いて、評価用鉛筆(MITSUBISHI UNI)で1kg荷重10mmの5回ストロークを行い、目視で傷の有無を評価し、傷の生じない最大の鉛筆硬度を塗膜硬度とした。
(7)視感反射率(%):島津製作所製「紫外可視分光光度計UV−3100PC」を使用し、低反射フィルムの裏面を黒処理し、5度正反射の反射率を測定し、可視光波長380〜780nmでの視感反射率を評価した。
【0047】
【表1】
【0048】
【表2】
【0049】
【発明の効果】
以上縷々説明したように、本発明によれば、各種ディスプレイ等に使用して透明基板を通して識別する文字や図形画像などの視覚情報を観察する場合に、表面からの入射光が、特に透明基材フィルムとこれに隣接する層との界面で反射された反射光が散乱され、反射防止層とハードコート層との界面における反射光との干渉が生じなくなるため、干渉ムラ(色ムラ)を抑制することができた低反射フィルムを提供することができ、さらにまた、外光の反射を防止し、帯電による塵埃の付着を防止し、擦り傷や引っ掻き傷等で透明性を損なわない程度に十分な硬度を有する低反射フィルムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる低反射フィルムの第1実施形態を図解的に示す図である。
【図2】本発明にかかる低反射フィルムの第2実施形態を図解的に示す図である。
【図3】本発明にかかる低反射フィルムの第3実施形態を図解的に示す図である。
【図4】本発明にかかる低反射フィルムの第4実施形態を図解的に示す図である。
【符号の説明】
1,1’,1”,1’’’ 低反射フィルム
10,10’ 透明基材フィルム
20,20’ 干渉防止塗膜層
30,30’ ハードコート層
31 第1ハードコート層
32 第2ハードコート層
40 反射防止層
A 微細凹凸面
α 導電性微粒子
β 透明樹脂ビーズ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a low-reflection film excellent in antiglare properties and surface antireflection properties, and more specifically, various displays such as televisions, computers, word processors, etc., used on the surface of polarizing plates used in liquid crystal display devices, Excellent antireflection on the surface, antifouling due to dust and scratch resistance, especially interference unevenness caused by reflection of incident light from the surface at the interface between the base sheet and the adjacent layer ( The present invention relates to a low reflection film capable of suppressing color unevenness.
[0002]
[Prior art]
Transparent substrates such as glass and plastic are used for displays of various electronic devices such as televisions, computers, word processors, and other various commercial displays. Visual information such as characters and graphic images is obtained through these transparent substrates. However, these transparent substrates have a problem that external light reflection occurs on the surface and the above-described visual information is difficult to see.
[0003]
In addition, the above transparent substrates, especially plastic transparent substrates and glass transparent substrates such as CRT (CRT) with an electron beam hitting the front surface are easily charged, so that dust adheres to them, and when these dusts are removed or cleaned. There has been a problem that transparency is lost due to scratches or scratches on the transparent substrate.
[0004]
Therefore, as one method for solving the above problems, for example, an antireflection film in which a hard base layer, a transparent conductive layer or an antireflection layer is formed on a transparent base film on the front surface of a transparent substrate such as glass or plastic. A method of sticking is adopted, thereby preventing scratches, preventing charging, preventing reflection, and the like.
[0005]
As a typical configuration of the above-described antireflection film, for example, (1) a hard coat layer made of a polyfunctional acrylate resin or the like is laminated on a transparent substrate film, and a refractive index is higher than that of the hard coat layer. A structure in which a low antireflection layer is laminated, or (2) a hard coat layer made of a polyfunctional acrylate resin containing conductive fine particles is laminated on a transparent base film, and is refracted on the hard coat layer. For example, the antireflection layer having a low rate is laminated.
[0006]
However, in the antireflection films having the constitutions (1) and (2), the antireflection layer, the hard coat layer, and the transparent substrate film have different refractive indexes. External light incident from the surface side is reflected at the interface between the hard coat layer and the transparent base film, and the reflected light causes interference to be observed as interference unevenness (color unevenness). There was a problem that it was difficult to see visual information such as graphic images. In particular, in the antireflection film having the constitution (2), the hard coat layer is composed of a layer containing conductive fine particles such as ITO (indium tin oxide) and ATO (antimony-doped tin oxide). It is difficult to form a coating layer having a uniform film thickness, resulting in a large undulating film thickness unevenness, and as a result, interference unevenness (color unevenness) becomes more prominent. In the antireflection film having the above constitutions (1) and (2), as a method for suppressing the interference unevenness (color unevenness), the interference unevenness (color unevenness) is suppressed to some extent by providing the outermost surface with an uneven shape. Although the haze (cloudiness) increases, that is, the film surface is whitened, the optical properties such as resolution, contrast, and transparency are lowered. When it is pasted on the surface of the film, the surface of the film shines brightly, so-called plane glare (scintillation) occurs, and the visual information such as characters and graphic images deteriorates.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
Therefore, when observing visual information such as characters and graphic images recognized through a transparent substrate used for various displays and the like, the incident light from the surface, in particular, a transparent substrate film and a layer adjacent thereto The present invention is to provide a low reflection film that can suppress interference unevenness (color unevenness) caused by participation of reflected light reflected at the interface of the light source and that does not cause a problem of surface glare. An object of the present invention is to provide a low reflection film that prevents reflection, prevents adhesion of dust due to charging, and has sufficient hardness to such an extent that transparency is not impaired by scratches or scratches.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the inventor of the present invention described in claim 1Antistatic propertyThe low reflection film is on one side of the transparent substrate film,An antistatic low-reflection film in which an interference prevention coating layer, a hard coat layer, and an antireflection layer are laminated in order,
A refractive index of the hard coat layer is formed higher than a refractive index of the antireflection layer,
The interference prevention coating layer is composed of one or more kinds of transparent resin beads selected from the group consisting of acrylic, styrene-acrylic copolymer, melamine, polycarbonate, polyethylene, polystyrene, polyvinyl chloride, and metal oxide. It is obtained by curing a coating solution containing at least conductive fine particles, and the interference-preventing coating layer is formed on the surface opposite to the transparent base film according to JIS-B0601-1994 10-point average roughness. The surface roughness has a fine uneven surface in the range of 0.05 to 0.15 μm.Is.
[0010]
Claims above1By making it the structure as described in (4), the reflected light of the external light which injects from the antireflection layer side can be scattered by a fine uneven surface, and it can be set as the low reflection film which suppressed interference nonuniformity (color nonuniformity). In addition, the surface roughness in this specification is the surface roughness by 10-point average roughness of JIS-B0601-1994.
[0012]
Claims1The present invention described isInterference prevention coatingLayerBy containing conductive fine particles, it has stable conductivity.
[0013]
The interference preventing coating layer isBy containing one or more kinds of transparent resin beads selected from the group consisting of acrylic, styrene-acrylic copolymer, melamine, polycarbonate, polyethylene, polystyrene, and polyvinyl chloride, an interference preventing effect due to fine uneven surfaces It can be set as the low reflection film which has.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The above-described present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram schematically showing a first embodiment of a low reflection film according to the present invention, FIG. 2 is a diagram schematically showing a second embodiment of the low reflection film according to the present invention, and FIG. FIG. 4 is a diagram schematically showing a third embodiment of such a low reflection film, and FIG. 4 is a diagram schematically showing a fourth embodiment of the low reflection film according to the present invention. , 1 '' 'is a low reflection film, 10, 10' is a transparent base film, 20, 20 'is an interference prevention coating layer, 30, 30' is a hard coat layer, 31 is a first hard coat layer, 32 is The second hard coat layer, 40 is an antireflection layer, A is a fine irregular surface, α is a conductive fine particle, and β is a transparent resin bead.
[0018]
FIG. 1 is a view schematically showing a first embodiment of a low reflection film according to the present invention. The
[0019]
FIG. 2 is a view schematically showing a second embodiment of the low reflection film according to the present invention, and the
[0020]
FIG. 3 is a view schematically showing a third embodiment of the low reflection film according to the present invention. The
[0021]
FIG. 4 is a view schematically showing a fourth embodiment of low reflection according to the present invention, and the
[0022]
Next, materials constituting the
First, the
[0023]
Next, the resin used for forming the interference preventing
[0024]
Examples of the reactive diluent include monofunctional monomers such as ethyl (meth) acrylate, ethylhexyl (meth) acrylate, styrene, vinyltoluene, and N-vinylpyrrolidone, and polyfunctional monomers such as trimethylolpropane. Tri (meth) acrylate, hexanediol (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,6- Examples include hexadiol di (meth) acrylate and neopentyl glycol di (meth) acrylate.
[0025]
Further, when the ionizing radiation curable resin is used as an ultraviolet curable resin, for example, acetophenones, benzophenones, Michler benzoylbenzoate, α-amyloxime ester, As thioxanthones and photosensitizers, for example, n-butylamine, triethylamine, tri-n-butylphosphine and the like can be used.
[0026]
In addition, for curing the above ionizing radiation curable resin, a normal curing method of ionizing radiation curable resin, that is, a method of curing by irradiation with electron beams or ultraviolet rays can be used. For example, in the case of electron beam curing Energy of 50 to 1000 KeV, preferably 100 to 300 KeV, emitted from various electron beam accelerators such as Cockloft Walton, Bandegraph, Resonance Transformer, Insulated Core Transformer, Linear, Dynamitron, and High Frequency In the case of ultraviolet curing, ultraviolet rays emitted from rays such as an ultra-high pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, a low-pressure mercury lamp, a carbon arc, a xenon arc, and a metal halide lamp can be used.
[0027]
The interference-preventing
[0028]
Next, the interference preventing
[0029]
For the interference preventing
[0030]
The interference prevention
[0031]
Next, the
[0032]
The
[0033]
In addition, the
[0034]
Next, the
[0035]
The
[0036]
【Example】
Next, the present invention will be described in more detail with reference to the following examples.
Reference example 1 (old example 1)
After applying and drying a coating liquid in which styrene beads (refractive index: 1.60) are dispersed in pentaerythritol triacrylate on one surface of a polyester film A-4300 (product name: manufactured by Toyobo Co., Ltd.) having a thickness of 188 μm The film was cured by irradiating with ultraviolet rays to form an interference-preventing coating layer having a thickness of 2.5 μm. Next, KZ7973 [hard coating agent in which zirconia ultrafine particles are dispersed (solid content: 50% by weight): manufactured by JSR Co., Ltd.-trade name] is applied and dried on this interference prevention coating film layer and then irradiated with ultraviolet rays under a nitrogen purge. Irradiated and cured to form a 3.0 μm thick hard coat layer (refractive index: 1.69). Thereafter, TM086 [low refractive index coating agent (solid content: 10 wt%): manufactured by JSR Co., Ltd.-trade name] was diluted with methyl isobutyl ketone (MIBK) on the hard coat layer, applied and dried, and then purged with nitrogen. Under irradiation with ultraviolet rays was cured to form an antireflection layer (refractive index: 1.41) having a thickness of 100 nm, thereby obtaining a low reflection film of the present invention.
[0037]
Reference example 2 (old example 2)
After applying and drying a coating liquid in which styrene beads (refractive index: 1.60) are dispersed in pentaerythritol triacrylate on one surface of a polyester film A-4300 (product name: manufactured by Toyobo Co., Ltd.) having a thickness of 188 μm The film was cured by irradiating with ultraviolet rays to form an interference-preventing coating layer having a thickness of 2.0 μm. Next, KZ7973 [hard coating agent in which zirconia ultrafine particles are dispersed (solid content: 50% by weight): manufactured by JSR Co., Ltd.-trade name] is applied and dried on this interference prevention coating film layer and then irradiated with ultraviolet rays under a nitrogen purge. Irradiated and cured to form a 3.0 μm thick hard coat layer (refractive index: 1.69). Thereafter, TM086 [low refractive index coating agent (solid content: 10% by weight): JSR Co., Ltd.-trade name] was diluted with MIBK on the hard coat layer, coated and dried, and then irradiated with ultraviolet rays under a nitrogen purge. Then, an antireflection layer (refractive index: 1.41) having a thickness of 100 nm was formed to obtain a low reflection film of the present invention.
[0038]
Reference example 3 (old example 3)
After applying and drying a coating liquid in which styrene beads (refractive index: 1.60) are dispersed in pentaerythritol triacrylate on one surface of a polyester film A-4300 (product name: manufactured by Toyobo Co., Ltd.) having a thickness of 188 μm The film was cured by irradiation with ultraviolet rays to form an interference-preventing coating layer having a thickness of 1.5 μm. Next, KZ7973 [hard coating agent in which zirconia ultrafine particles are dispersed (solid content: 50% by weight): manufactured by JSR Co., Ltd.-trade name] is applied and dried on this interference prevention coating film layer and then irradiated with ultraviolet rays under a nitrogen purge. Irradiated and cured to form a 3.0 μm thick hard coat layer (refractive index: 1.69). Thereafter, TM086 [low refractive index coating agent (solid content: 10% by weight): JSR Co., Ltd.-trade name] was diluted with MIBK on the hard coat layer, coated and dried, and then irradiated with ultraviolet rays under a nitrogen purge. Then, an antireflection layer (refractive index: 1.41) having a thickness of 100 nm was formed to obtain a low reflection film of the present invention.
[0039]
Example 4
Pertron C-4456-S7 [hard coating agent in which ATO fine particles are dispersed (solid content: 45% by weight) on one surface of polyester film A-4300 (product name, manufactured by Toyobo Co., Ltd.) having a thickness of 188 μm: Japan Pernox Co., Ltd.-trade name] 100 parts by weight of styrene beads dispersed hard coat agent [hard coat liquid in which styrene beads (refractive index: 1.60) are dispersed in pentaerythritol triacrylate (solid content 48 wt%) The coating solution containing 3 parts by weight of the coating solution was applied and dried, and then cured by irradiating with ultraviolet rays to form an interference-preventing coating layer having a conductivity of 2.0 μm. KZ7973 [hard coat agent in which zirconia ultrafine particles are dispersed (solid content: 50% by weight): manufactured by JSR Corporation-trade name] is applied and dried, and then purged with nitrogen Then, a hard coat layer (refractive index: 1.69) having a thickness of 3.0 μm was formed by irradiating with ultraviolet rays, and then TM086 [low refractive index coat agent (
[0040]
Example 5
Pertron C-4456-S7 [hard coating agent in which ATO fine particles are dispersed (solid content: 45% by weight) on one surface of polyester film A-4300 (product name, manufactured by Toyobo Co., Ltd.) having a thickness of 188 μm: Japan Pernox Co., Ltd.-trade name] 100 parts by weight of styrene beads dispersed hard coat agent [hard coat liquid in which styrene beads (refractive index: 1.60) are dispersed in pentaerythritol triacrylate (solid content 48 wt%) The coating solution containing 3 parts by weight of the coating solution was applied and dried, and then cured by irradiating with ultraviolet rays to form an interference-preventing coating layer having a conductivity of 2.0 μm. KZ7973 [hard coat agent in which zirconia ultrafine particles are dispersed (solid content: 50% by weight): manufactured by JSR Corporation-trade name] is applied and dried, and then purged with nitrogen The first hard coat layer (refractive index: 1.69) having a thickness of 3.0 μm was formed by irradiating with ultraviolet rays, and then a titanium oxide-dispersed hard coat agent on the first hard coat layer [ High refractive index hard coating agent (
[0041]
Reference example 4 (old example 6)
A 50 μm-thick polyester film PTH-50 [manufactured by Unitika Ltd.-trade name: a film having a surface roughness of 0.1 μm obtained by kneading particles into a sheet] on one side with KZ7973 [zirconia ultrafine particles The hard coat layer (with a solid content of 50% by weight): JSR Co., Ltd.-trade name] was applied and dried, and then cured by irradiation with ultraviolet rays under a nitrogen purge to form a hard coat layer having a thickness of 3.0 μm. (Refractive index: 1.69) was formed. Thereafter, TM086 [low refractive index coating agent (solid content: 10% by weight): JSR Co., Ltd.-trade name] was diluted with MIBK on the hard coat layer, coated and dried, and then irradiated with ultraviolet rays under a nitrogen purge. Then, an antireflection layer (refractive index: 1.41) having a thickness of 100 nm was formed to obtain a low reflection film of the present invention.
[0042]
Comparative Example 1
A low reflective film was prepared as a comparative example by producing in the same manner as in Example 1 except that the film thickness of the interference preventing coating layer was 3.5 μm.
[0043]
Comparative Example 2
A low reflection film was prepared in the same manner as in Example 1 except that the film thickness of the interference prevention coating layer was changed to 1.0 [mu] m.
[0044]
Comparative Example 3
One side of a 188 μm thick polyester film A-4300 [made by Toyobo Co., Ltd.-trade name] is urethane-acrylate ionizing radiation curable resin EH65 [made by The Inktec Co., Ltd.-trade name] in toluene. After being coated and dried, it was cured by irradiation with ultraviolet rays to form a hard coat layer having a thickness of about 6 μm. Pertron C-4456-S7 [hard coat agent in which ATO fine particles are dispersed (solid content: 45% by weight): manufactured by Nippon Pernox Co., Ltd.-trade name] on 100 parts by weight of this hard coat layer Applying and drying a coating solution containing 3 parts by weight of a hard coating solution (solid content 48% by weight) in which styrene beads (refractive index: 1.60) are dispersed in pentaerythritol triacrylate. Then, a conductive thin film layer having a thickness of 80 nm was formed on the conductive thin film layer, and TM086 [low refractive index coating agent (solid content: 10% by weight): JSR Co., Ltd.-trade name] was added to MIBK. After coating, drying, and irradiating with ultraviolet rays under a nitrogen purge to cure, a 100 nm thick antireflection layer (refractive index: 1.41) is formed. To obtain a low-reflection film.
[0045]
Comparative Example 4
Pertron C-4456-S7 [hard coating agent in which ATO fine particles are dispersed (solid content: 45% by weight) on one surface of polyester film A-4300 (product name, manufactured by Toyobo Co., Ltd.) having a thickness of 188 μm: Japan Pernox Co., Ltd.-trade name] with 100 parts by weight of styrene beads dispersed hard coat agent [hard coat liquid in which styrene beads (refractive index: 1.60) are dispersed in pentaerythritol triacrylate (solid content 48 weight) %] Was applied and dried, and then cured by irradiation with ultraviolet rays to form a conductive thin film layer having a thickness of 4 μm, and TM086 [low refractive index coating was formed on the conductive thin film layer. Agent (
[0046]
About the low reflection film of Examples 1-6 produced above and Comparative Examples 1-4, while measuring the average roughness of the fine uneven surface of an interference prevention coating film layer, interference nonuniformity (color nonuniformity), glare ( Surface glaze), surface resistivity, haze (cloudiness), coating film hardness, and luminous reflectance were evaluated by the following evaluation methods, and the results are shown in Tables 1 and 2.
(1) Surface roughness (μm) of fine uneven surface: measured according to JIS-B0601-1994.
(2) Interference unevenness (color unevenness): Evaluated by visual inspection, those that are hardly seen are indicated by ○ as good, those that appear dull are indicated by Δ, and those that are clearly visible are indicated by × Indicated.
(3) Glitter: Glitter is visually evaluated by pasting on a CRT monitor, and the same as the state where the low-reflection film is not pasted is shown as a good circle, which is slightly better than the state where the low-reflection film is not pasted. Those that are glaring are shown as △ as normal, and those that are clearly glaring compared to the state where the low reflection film is not applied are shown as × as bad.
(4) Surface resistivity (Ω / □): A value obtained by measuring the entire low reflection film using “Resistivity Meter MCP-HT260” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.
(5) Haze (cloudiness) (%): Measured according to JIS-K6714.
(6) Coating film hardness: Using “Simple Pencil Scratch Tester” manufactured by Takuma Seiko, the evaluation pencil (MITSUBISHI UNI) is used to make a 5 kg stroke with a load of 1 kg and evaluate the presence or absence of scratches visually. The maximum pencil hardness that does not occur was defined as the coating film hardness.
(7) Luminous reflectance (%): Shimadzu “UV-visible spectrophotometer UV-3100PC” was used, the back surface of the low-reflection film was black-treated, and the reflectivity of 5 degree regular reflection was measured. The luminous reflectance at an optical wavelength of 380 to 780 nm was evaluated.
[0047]
[Table 1]
[0048]
[Table 2]
[0049]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, when observing visual information such as characters and graphic images used for various displays and the like to be identified through a transparent substrate, the incident light from the surface is particularly transparent. Reflected light reflected at the interface between the film and the layer adjacent to the film is scattered, and interference with the reflected light at the interface between the antireflection layer and the hard coat layer does not occur, thereby suppressing interference unevenness (color unevenness). In addition, it is possible to provide a low-reflection film that has been able to provide high hardness enough to prevent reflection of external light, to prevent dust from being charged due to charging, and to prevent transparency from being scratched or scratched. It is possible to provide a low reflection film having the following.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram schematically showing a first embodiment of a low reflection film according to the present invention.
FIG. 2 is a view schematically showing a second embodiment of a low reflection film according to the present invention.
FIG. 3 is a view schematically showing a third embodiment of a low reflection film according to the present invention.
FIG. 4 is a view schematically showing a fourth embodiment of a low reflection film according to the present invention.
[Explanation of symbols]
1,1 ', 1 ", 1" "low reflection film
10,10 'transparent substrate film
20, 20 'interference prevention coating layer
30, 30 'hard coat layer
31 First hard coat layer
32 Second hard coat layer
40 Antireflection layer
A Fine uneven surface
α Conductive fine particles
β Transparent resin beads
Claims (1)
前記ハードコート層の屈折率が前記反射防止層の屈折率よりも高く形成され、
前記干渉防止塗膜層は、アクリル、スチレン−アクリル共重合体、メラミン、ポリカーボネート、ポリエチレン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニルよりなる群から選ばれる一種ないしそれ以上の種類の透明樹脂ビーズと、金属酸化物からなる導電性微粒子を少なくとも含有する塗布液を硬化させて得られ、且つ当該干渉防止塗膜層は前記透明基材フィルムとは反対側の面に、JIS−B0601−1994の10点平均粗さによる表面粗さが、0.05〜0.15μmの範囲の微細凹凸面を有することを特徴とする、帯電防止性低反射フィルム。 An antistatic low-reflection film in which an interference-preventing coating layer, a hard coat layer, and an antireflection layer are sequentially laminated on one surface of the transparent substrate film ,
A refractive index of the hard coat layer is formed higher than a refractive index of the antireflection layer,
The interference prevention coating layer is composed of one or more kinds of transparent resin beads selected from the group consisting of acrylic, styrene-acrylic copolymer, melamine, polycarbonate, polyethylene, polystyrene, polyvinyl chloride, and metal oxide. It is obtained by curing a coating solution containing at least conductive fine particles, and the interference-preventing coating layer is formed on the surface opposite to the transparent base film according to JIS-B0601-1994 10-point average roughness. An antistatic low-reflection film having a fine uneven surface with a surface roughness in the range of 0.05 to 0.15 μm.
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