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JP6780949B2 - X-ray diagnostic equipment - Google Patents

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JP6780949B2 JP2016072060A JP2016072060A JP6780949B2 JP 6780949 B2 JP6780949 B2 JP 6780949B2 JP 2016072060 A JP2016072060 A JP 2016072060A JP 2016072060 A JP2016072060 A JP 2016072060A JP 6780949 B2 JP6780949 B2 JP 6780949B2
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  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

本発明の実施形態は、X線診断装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to an X-ray diagnostic apparatus.

X線診断装置は、X線画像の輝度値を一定に保つために、X線の線量を自動的に調整する自動輝度調整(ABC:Automatic Brightness Control)機能を備えている。例えば、X線診断装置は、画像データに対して所定の関心領域(ROI:Region of Interest)を設定し、設定した関心領域の平均画素値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する。また、X線診断装置では、被検体への被曝量を低減するために、X線管から照射されるX線を部分的に遮蔽する補償フィルタが使用される場合がある。 The X-ray diagnostic apparatus is provided with an automatic brightness control (ABC: Automatic Brightness Control) function that automatically adjusts the X-ray dose in order to keep the brightness value of the X-ray image constant. For example, an X-ray diagnostic apparatus sets a predetermined region of interest (ROI) for image data, and X-rays are based on a comparison result between an average pixel value of the set region of interest and a predetermined threshold. Adjust the irradiation conditions. Further, in the X-ray diagnostic apparatus, in order to reduce the exposure dose to the subject, a compensation filter that partially shields the X-rays emitted from the X-ray tube may be used.

特開2005−118382号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2005-118382

本発明が解決しようとする課題は、被検体への被曝量を低減させつつ関心領域の設定を容易にすることができるX線診断装置を提供することである。 An object to be solved by the present invention is to provide an X-ray diagnostic apparatus capable of facilitating the setting of an area of interest while reducing the exposure dose to a subject.

実施形態のX線診断装置は、X線検出器と、フィルタと、調整部と、制御部とを備える。X線検出器は、X線を照射するX線管から照射され、被検体を透過したX線を検出して電気信号を生成する。フィルタは、前記X線管と前記被検体との間に設けられ、前記X線管から照射されたX線を通過させる開口部を有する。調整部は、前記電気信号を用いて生成された画像において前記開口部に対応する関心領域内の輝度値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する。制御部は、前記関心領域の位置を示す情報をディスプレイに表示させ、前記フィルタの移動に伴い前記開口部の位置が移動した場合、移動後の前記開口部に対応する前記関心領域の位置を示す情報をディスプレイに表示させる。 The X-ray diagnostic apparatus of the embodiment includes an X-ray detector, a filter, an adjusting unit, and a control unit. The X-ray detector is irradiated from an X-ray tube that irradiates X-rays, detects X-rays that have passed through the subject, and generates an electric signal. The filter is provided between the X-ray tube and the subject, and has an opening through which the X-rays emitted from the X-ray tube pass. The adjusting unit adjusts the X-ray irradiation condition based on the comparison result between the brightness value in the region of interest corresponding to the opening and the predetermined threshold value in the image generated by using the electric signal. The control unit displays information indicating the position of the region of interest on the display, and when the position of the opening moves with the movement of the filter, the control unit indicates the position of the region of interest corresponding to the opening after the movement. Display information on the display.

図1は、第1の実施形態に係るX線診断装置の構成例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of an X-ray diagnostic apparatus according to the first embodiment. 図2は、第1の実施形態に係る減衰フィルタの構成例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of an attenuation filter according to the first embodiment. 図3は、血管内インターベンション治療時における術者の動作を説明するための図である。FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the operator during the treatment of intravascular intervention. 図4は、第1の実施形態に係る制御機能によるABC制御ROI設定表示処理の処理手順を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing a processing procedure of ABC control ROI setting display processing by the control function according to the first embodiment. 図5Aは、第1の実施形態を説明するための図(1)である。FIG. 5A is a diagram (1) for explaining the first embodiment. 図5Bは、第1の実施形態を説明するための図(2)である。FIG. 5B is a diagram (2) for explaining the first embodiment. 図5Cは、第1の実施形態を説明するための図(3)である。FIG. 5C is a diagram (3) for explaining the first embodiment. 図5Dは、第1の実施形態を説明するための図(4)である。FIG. 5D is a diagram (4) for explaining the first embodiment. 図6Aは、第1の実施形態を説明するための図(5)である。FIG. 6A is a diagram (5) for explaining the first embodiment. 図6Bは、第1の実施形態を説明するための図(6)である。FIG. 6B is a diagram (6) for explaining the first embodiment. 図6Cは、第1の実施形態を説明するための図(7)である。FIG. 6C is a diagram (7) for explaining the first embodiment. 図6Dは、第1の実施形態を説明するための図(8)である。FIG. 6D is a diagram (8) for explaining the first embodiment. 図7Aは、第2の実施形態を説明するための図(1)である。FIG. 7A is a diagram (1) for explaining the second embodiment. 図7Bは、第2の実施形態を説明するための図(2)である。FIG. 7B is a diagram (2) for explaining the second embodiment. 図7Cは、第2の実施形態を説明するための図(3)である。FIG. 7C is a diagram (3) for explaining the second embodiment.

以下、図面を参照して、実施形態に係るX線診断装置を説明する。なお、実施形態は、以下の実施形態に限られるものではない。また、一つの実施形態に記載した内容は、原則として他の実施形態にも同様に適用される。 Hereinafter, the X-ray diagnostic apparatus according to the embodiment will be described with reference to the drawings. The embodiment is not limited to the following embodiments. In principle, the contents described in one embodiment are similarly applied to other embodiments.

(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係るX線診断装置100の構成例を示す図である。図1に示すように、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、高電圧発生器11と、X線管12と、コリメータ13と、天板14と、Cアーム15と、X線検出器16とを備える。また、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、Cアーム回転・移動機構17と、天板移動機構18と、Cアーム・天板機構制御回路19と、絞り制御回路20と、処理回路21と、入力インターフェース22と、ディスプレイ23とを備える。また、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、画像データ生成回路24と、記憶回路25と、画像処理回路26と、補償フィルタ27と、減衰フィルタ28とを備える。そして、X線診断装置100は、図1に示すように、各回路が相互に接続され、各回路間で種々の電気信号を送受信する。
(First Embodiment)
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment. As shown in FIG. 1, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment includes a high voltage generator 11, an X-ray tube 12, a collimator 13, a top plate 14, a C-arm 15, and X-ray. It includes a detector 16. Further, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment processes the C-arm rotation / movement mechanism 17, the top plate movement mechanism 18, the C-arm / top plate mechanism control circuit 19, and the aperture control circuit 20. It includes a circuit 21, an input interface 22, and a display 23. Further, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment includes an image data generation circuit 24, a storage circuit 25, an image processing circuit 26, a compensation filter 27, and an attenuation filter 28. Then, as shown in FIG. 1, the X-ray diagnostic apparatus 100 connects each circuit to each other and transmits / receives various electric signals between the circuits.

図1に示すX線診断装置100においては、各処理機能がコンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路25へ記憶されている。Cアーム・天板機構制御回路19、絞り制御回路20、処理回路21、画像データ生成回路24、及び、画像処理回路26は、記憶回路25からプログラムを読み出して実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の各回路は、読み出したプログラムに対応する機能を有することとなる。 In the X-ray diagnostic apparatus 100 shown in FIG. 1, each processing function is stored in the storage circuit 25 in the form of a program that can be executed by a computer. The C-arm / top plate mechanism control circuit 19, aperture control circuit 20, processing circuit 21, image data generation circuit 24, and image processing circuit 26 correspond to each program by reading and executing the program from the storage circuit 25. It is a processor that realizes the function. In other words, each circuit in the state where each program is read has a function corresponding to the read program.

なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路25に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、記憶回路25にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。 The word "processor" used in the above description is, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an integrated circuit for a specific application (Application Specific Integrated Circuit: ASIC), or a programmable logic device (ASIC). For example, it means a circuit such as a simple programmable logic device (SPLD), a complex programmable logic device (CPLD), and a field programmable gate array (FPGA). The processor realizes the function by reading and executing the program stored in the storage circuit 25. Instead of storing the program in the storage circuit 25, the program may be directly incorporated in the circuit of the processor. In this case, the processor realizes the function by reading and executing the program embedded in the circuit. It should be noted that each processor of the present embodiment is not limited to the case where each processor is configured as a single circuit, and a plurality of independent circuits may be combined to form one processor to realize its function. Good.

高電圧発生器11は、処理回路21による制御の下、高電圧を発生し、発生した高電圧をX線管12に供給する。X線管12は、高電圧発生器11から供給される高電圧を用いて、X線を発生する。 The high voltage generator 11 generates a high voltage under the control of the processing circuit 21, and supplies the generated high voltage to the X-ray tube 12. The X-ray tube 12 generates X-rays by using the high voltage supplied from the high voltage generator 11.

コリメータ13は、絞り制御回路20による制御の下、X線管12が発生したX線を、被検体Pの関心領域(ROI:Region of Interest)に対して選択的に照射されるように絞り込む。例えば、コリメータ13は、スライド可能な4枚の絞り羽根を有する。コリメータ13は、絞り制御回路20による制御の下、これらの絞り羽根をスライドさせることで、X線管12が発生したX線を絞り込んで被検体Pに照射させる。天板14は、被検体Pを載せるベッドであり、図示しない寝台の上に配置される。なお、被検体Pは、X線診断装置100に含まれない。 Under the control of the aperture control circuit 20, the collimator 13 narrows down the X-rays generated by the X-ray tube 12 so as to selectively irradiate the region of interest (ROI) of the subject P. For example, the collimator 13 has four sliding diaphragm blades. The collimator 13 slides these diaphragm blades under the control of the diaphragm control circuit 20 to narrow down the X-rays generated by the X-ray tube 12 and irradiate the subject P. The top plate 14 is a bed on which the subject P is placed, and is arranged on a bed (not shown). The subject P is not included in the X-ray diagnostic apparatus 100.

補償フィルタ27は、X線管12と被検体Pとの間に設けられ、被曝低減対象の部位に照射されるX線を減衰させる。X線診断装置100において、補償フィルタ27は、独立して移動可能な複数の金属板(単にフィルタとも言う)と、各金属板の回転移動及び水平移動を制御する駆動機構とを有する。各金属板の材質は、例えば、銅板、アルミニウム等である。なお、各金属板の材質は、X線を減衰させることが可能であれば、銅板やアルミニウム以外であってもよい。また、各金属板は、例えば長方形状を有し、絞り制御回路20による制御の下、駆動機構を介して回転移動又は水平移動する。すなわち、補償フィルタ27は、駆動機構による制御の下、各金属板が回転移動又は水平移動することで、X線管12が発生したX線を絞り込んで被検体Pに照射させる。なお、X線診断装置100において設けられる金属板の枚数は、任意に設定可能である。 The compensation filter 27 is provided between the X-ray tube 12 and the subject P, and attenuates the X-rays applied to the portion to be exposed to radiation reduction. In the X-ray diagnostic apparatus 100, the compensation filter 27 has a plurality of metal plates (also simply referred to as filters) that can be moved independently, and a drive mechanism that controls the rotational movement and horizontal movement of each metal plate. The material of each metal plate is, for example, a copper plate, aluminum, or the like. The material of each metal plate may be other than copper plate or aluminum as long as it can attenuate X-rays. Further, each metal plate has, for example, a rectangular shape, and under the control of the diaphragm control circuit 20, it rotates or moves horizontally via a drive mechanism. That is, the compensation filter 27 narrows down the X-rays generated by the X-ray tube 12 and irradiates the subject P by rotating or horizontally moving each metal plate under the control of the drive mechanism. The number of metal plates provided in the X-ray diagnostic apparatus 100 can be arbitrarily set.

減衰フィルタ28は、X線管12と被検体Pとの間に設けられ、被曝低減対象の部位に照射されるX線を減衰させる。図2は、第1の実施形態に係る減衰フィルタ28の構成例を示す図である。図2に示すように、減衰フィルタ28は、一枚板の金属板28aを有する。なお、金属板28aのことを単にフィルタとも言う。金属板28aの材質は、例えば、銅板、アルミニウム等である。なお、金属板28aの材質は、X線を減衰させることが可能であれば、銅板やアルミニウム以外であってもよい。図2では、金属板28aは、矩形状に形成される場合を示すが、金属板28aの形状は任意に形成されてよい。また、金属板28aは、テーパ状に形成されてもよい。 The attenuation filter 28 is provided between the X-ray tube 12 and the subject P, and attenuates the X-rays applied to the portion to be exposed to radiation reduction. FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of the attenuation filter 28 according to the first embodiment. As shown in FIG. 2, the attenuation filter 28 has a single metal plate 28a. The metal plate 28a is also simply referred to as a filter. The material of the metal plate 28a is, for example, a copper plate, aluminum, or the like. The material of the metal plate 28a may be other than a copper plate or aluminum as long as it can attenuate X-rays. FIG. 2 shows a case where the metal plate 28a is formed in a rectangular shape, but the shape of the metal plate 28a may be arbitrarily formed. Further, the metal plate 28a may be formed in a tapered shape.

また、図2に示すように、金属板28aは、X線管12から照射されたX線を通過させる開口部28bを有する。なお、図2では、開口部28bが矩形状である場合を示すが、開口部28bの形状は円形であっても多角形状であってもよい。 Further, as shown in FIG. 2, the metal plate 28a has an opening 28b through which X-rays emitted from the X-ray tube 12 pass. Although FIG. 2 shows a case where the opening 28b has a rectangular shape, the shape of the opening 28b may be circular or polygonal.

また、図2に示すように、減衰フィルタ28は、第1の駆動機構28cと、第2の駆動機構28dと、第3の駆動機構28eとを有する。また、第1の駆動機構28cと第2の駆動機構28dとが接続され、第2の駆動機構28dと第3の駆動機構28eとが接続され、第3の駆動機構28eと金属板28aとが接続される。ここで、第1の駆動機構28cは、第2の駆動機構28dを支持し、処理回路21による制御の下、第2の駆動機構28dを図2に示すab方向に水平移動させる。また、第2の駆動機構28dは、第3の駆動機構28eを支持し、処理回路21による制御の下、第3の駆動機構28eを図2に示すcd方向に水平移動させる。すなわち、金属板28aは、第2の駆動機構28dの水平移動に伴い図2に示すab方向に水平移動し、第3の駆動機構28eの水平移動に伴い図2に示すcd方向に水平移動する。 Further, as shown in FIG. 2, the damping filter 28 has a first drive mechanism 28c, a second drive mechanism 28d, and a third drive mechanism 28e. Further, the first drive mechanism 28c and the second drive mechanism 28d are connected, the second drive mechanism 28d and the third drive mechanism 28e are connected, and the third drive mechanism 28e and the metal plate 28a are connected. Be connected. Here, the first drive mechanism 28c supports the second drive mechanism 28d, and under the control of the processing circuit 21, the second drive mechanism 28d is horizontally moved in the ab direction shown in FIG. Further, the second drive mechanism 28d supports the third drive mechanism 28e and horizontally moves the third drive mechanism 28e in the cd direction shown in FIG. 2 under the control of the processing circuit 21. That is, the metal plate 28a horizontally moves in the ab direction shown in FIG. 2 with the horizontal movement of the second drive mechanism 28d, and horizontally moves in the cd direction shown in FIG. 2 with the horizontal movement of the third drive mechanism 28e. ..

また、図2では、金属板28aは、図2中の破線で示すX線照射範囲28fから離れた位置にある場合を示す。ここで、金属板28aは、処理回路21による制御の下、図2に示すd方向に水平移動してX線照射範囲28f内に移動することで、X線管12が発生したX線を絞り込んで被検体Pに照射させる。より具体的には、減衰フィルタ28の金属板28aは、開口部28bではX線管12から照射されたX線を通過させて被検体Pに照射させ、開口部28b周辺ではX線管12から照射されたX線の透過性を下げて被検体Pに照射させる。 Further, FIG. 2 shows a case where the metal plate 28a is located at a position away from the X-ray irradiation range 28f shown by the broken line in FIG. Here, under the control of the processing circuit 21, the metal plate 28a horizontally moves in the d direction shown in FIG. 2 and moves within the X-ray irradiation range 28f to narrow down the X-rays generated by the X-ray tube 12. Irradiate the subject P with. More specifically, the metal plate 28a of the damping filter 28 allows the subject P to be irradiated with the X-rays emitted from the X-ray tube 12 at the opening 28b, and from the X-ray tube 12 around the opening 28b. The subject P is irradiated by reducing the permeability of the irradiated X-rays.

X線検出器16は、X線を照射するX線管12から照射され、被検体Pを透過したX線を検出して電気信号を生成する。例えば、X線検出器16は、マトリックス状に配列された検出素子を有する。各検出素子は、被検体Pを透過したX線を電気信号に変換して蓄積し、蓄積した電気信号を画像データ生成回路24に送信する。 The X-ray detector 16 is irradiated from an X-ray tube 12 that irradiates X-rays, detects X-rays that have passed through the subject P, and generates an electric signal. For example, the X-ray detector 16 has detection elements arranged in a matrix. Each detection element converts X-rays transmitted through the subject P into an electric signal, stores the X-ray, and transmits the stored electric signal to the image data generation circuit 24.

Cアーム15は、X線管12、コリメータ13、補償フィルタ27、減衰フィルタ28及びX線検出器16を保持する。X線管12及びコリメータ13とX線検出器16とは、Cアーム15により被検体Pを挟んで対向するように配置される。なお、図1では、X線診断装置100がシングルプレーンの場合を例に挙げて説明しているが、実施形態はこれに限定されるものではなく、バイプレーンの場合であってもよい。 The C-arm 15 holds an X-ray tube 12, a collimator 13, a compensation filter 27, an attenuation filter 28, and an X-ray detector 16. The X-ray tube 12, the collimator 13, and the X-ray detector 16 are arranged so as to face each other with the subject P sandwiched by the C arm 15. In FIG. 1, a case where the X-ray diagnostic apparatus 100 is a single plane is described as an example, but the embodiment is not limited to this, and may be a biplane case.

Cアーム回転・移動機構17は、Cアーム15を回転及び移動させるための機構であり、天板移動機構18は、天板14を移動させるための機構である。Cアーム・天板機構制御回路19は、処理回路21による制御の下、Cアーム回転・移動機構17及び天板移動機構18を制御することで、Cアーム15の回転や移動、天板14の移動を調整する。絞り制御回路20は、処理回路21による制御の下、コリメータ13が有する絞り羽根の開度を調整することで、被検体Pに対して照射されるX線の照射範囲を制御する。また、絞り制御回路20は、処理回路21による制御の下、補償フィルタ27が有する金属板を回転移動又は水平移動させることで、被検体Pに対して照射されるX線の照射範囲を制御する。また、絞り制御回路20は、処理回路21による制御の下、減衰フィルタ28が有する金属板28aの位置を調整することで、被検体Pに対して照射されるX線の照射範囲を制御する。 The C-arm rotation / movement mechanism 17 is a mechanism for rotating and moving the C-arm 15, and the top plate moving mechanism 18 is a mechanism for moving the top plate 14. The C-arm / top plate mechanism control circuit 19 controls the C-arm rotation / movement mechanism 17 and the top plate movement mechanism 18 under the control of the processing circuit 21 to rotate and move the C-arm 15 and the top plate 14. Adjust the movement. The diaphragm control circuit 20 controls the irradiation range of X-rays irradiated to the subject P by adjusting the opening degree of the diaphragm blades of the collimator 13 under the control of the processing circuit 21. Further, the diaphragm control circuit 20 controls the irradiation range of X-rays irradiated to the subject P by rotating or horizontally moving the metal plate of the compensation filter 27 under the control of the processing circuit 21. .. Further, the diaphragm control circuit 20 controls the irradiation range of X-rays irradiated to the subject P by adjusting the position of the metal plate 28a included in the attenuation filter 28 under the control of the processing circuit 21.

画像データ生成回路24は、X線検出器16によってX線から変換された電気信号を用いて画像データ(X線画像)を生成し、生成した画像データを記憶回路25に格納する。例えば、画像データ生成回路24は、X線検出器16から受信した電気信号に対して、電流・電圧変換やA(Analog)/D(Digital)変換、パラレル・シリアル変換を行い、画像データを生成する。一例を挙げると、画像データ生成回路24は、造影剤が注入されていない状態で撮像された画像データ(マスク画像)及び造影剤が注入された状態で撮像された画像データ(コントラスト画像)を生成する。そして、画像データ生成回路24は、生成したマスク画像及びコントラスト画像を記憶回路25に格納する。ここで、画像データ生成回路24は、同一被検体に対して注入する造影剤の濃度を変化させながらそれぞれ撮像された複数のコントラスト画像を生成し、記憶回路25に格納することもできる。 The image data generation circuit 24 generates image data (X-ray image) using an electric signal converted from X-rays by the X-ray detector 16, and stores the generated image data in the storage circuit 25. For example, the image data generation circuit 24 generates image data by performing current / voltage conversion, A (Analog) / D (Digital) conversion, and parallel / serial conversion on the electric signal received from the X-ray detector 16. To do. As an example, the image data generation circuit 24 generates image data (mask image) captured without the contrast medium injected and image data (contrast image) captured with the contrast medium injected. To do. Then, the image data generation circuit 24 stores the generated mask image and contrast image in the storage circuit 25. Here, the image data generation circuit 24 can also generate a plurality of contrast images captured while changing the concentration of the contrast medium injected into the same subject and store them in the storage circuit 25.

記憶回路25は、画像データ生成回路24によって生成された画像データを受け付けて記憶する。例えば、記憶回路25は、造影剤が投与される前後の被検体Pの画像データを記憶する。また、記憶回路25は、図1に示す各回路によって読み出されて実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。一例を挙げると、記憶回路25は、処理回路21によって読み出されて実行される調整機能211に対応するプログラム及び制御機能212に対応するプログラムを記憶する。 The storage circuit 25 receives and stores the image data generated by the image data generation circuit 24. For example, the storage circuit 25 stores image data of the subject P before and after the contrast medium is administered. Further, the storage circuit 25 stores programs corresponding to various functions read and executed by each circuit shown in FIG. As an example, the storage circuit 25 stores a program corresponding to the adjustment function 211 and a program corresponding to the control function 212 read and executed by the processing circuit 21.

画像処理回路26は、記憶回路25が記憶する画像データに対して各種画像処理を行う。例えば、画像処理回路26は、記憶回路25が記憶するマスク画像とコントラスト画像とを読み出し、サブトラクション(Logサブ)することで差分画像を生成する。ここで、画像処理回路26は、異なる濃度の造影剤が注入された状態で撮像された複数のコントラスト画像とマスク画像とをそれぞれサブトラクションすることで複数の差分画像を生成することもできる。 The image processing circuit 26 performs various image processing on the image data stored in the storage circuit 25. For example, the image processing circuit 26 reads out the mask image and the contrast image stored in the storage circuit 25 and performs subtraction (Log sub) to generate a difference image. Here, the image processing circuit 26 can also generate a plurality of difference images by subtracting each of a plurality of contrast images and mask images captured in a state where contrast media having different densities are injected.

入力インターフェース22は、所定の領域(例えば、カテーテルの領域)などの設定などを行うためのトラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等によって実現される。入力インターフェース22は、処理回路21に接続されており、操作者から受け取った入力操作を電気信号へ変換し処理回路21へと出力する。なお、操作者は例えば医師等の術者である。 The input interface 22 is realized by a trackball, a switch button, a mouse, a keyboard, or the like for setting a predetermined area (for example, a catheter area) or the like. The input interface 22 is connected to the processing circuit 21, converts the input operation received from the operator into an electric signal, and outputs the input operation to the processing circuit 21. The operator is, for example, an operator such as a doctor.

ディスプレイ23は、操作者の指示を受け付けるためのGUI(Graphical User Interface)や、画像データ生成回路24によって生成された画像データ、画像処理回路26によって生成された差分画像などを表示する。 The display 23 displays a GUI (Graphical User Interface) for receiving an operator's instruction, image data generated by the image data generation circuit 24, a difference image generated by the image processing circuit 26, and the like.

処理回路21は、X線診断装置100全体の動作を制御する。処理回路21は、装置全体を制御するための各種処理機能に対応するプログラムを記憶回路25から読み出して実行することにより、種々の処理を実行する。例えば、処理回路21は、入力インターフェース22から転送された操作者の指示に従って高電圧発生器11を制御し、X線管12に供給する電圧を調整することで、被検体Pに対して照射されるX線量やON/OFFを制御する。また、例えば、処理回路21は、操作者の指示に従ってCアーム・天板機構制御回路19を制御し、Cアーム15の回転や移動、天板14の移動を調整する。また、例えば、処理回路21は、操作者の指示に従って絞り制御回路20を制御し、コリメータ13が有する絞り羽根の開度を調整することで、被検体Pに対して照射されるX線の照射範囲を制御する。 The processing circuit 21 controls the operation of the entire X-ray diagnostic apparatus 100. The processing circuit 21 executes various processes by reading a program corresponding to various processing functions for controlling the entire device from the storage circuit 25 and executing the program. For example, the processing circuit 21 controls the high voltage generator 11 according to the instruction of the operator transferred from the input interface 22, and adjusts the voltage supplied to the X-ray tube 12 to irradiate the subject P. X-ray dose and ON / OFF are controlled. Further, for example, the processing circuit 21 controls the C-arm / top plate mechanism control circuit 19 according to the instruction of the operator, and adjusts the rotation and movement of the C-arm 15 and the movement of the top plate 14. Further, for example, the processing circuit 21 controls the diaphragm control circuit 20 according to the instruction of the operator and adjusts the opening degree of the diaphragm blades of the collimator 13 to irradiate the subject P with X-rays. Control the range.

また、処理回路21は、操作者の指示に従って、画像データ生成回路24による画像データ生成処理や、画像処理回路26による画像処理、あるいは解析処理などを制御する。また、処理回路21は、操作者の指示を受け付けるためのGUIや記憶回路25が記憶する画像などを、ディスプレイ23に表示するように制御する。 Further, the processing circuit 21 controls the image data generation processing by the image data generation circuit 24, the image processing by the image processing circuit 26, the analysis processing, and the like according to the instruction of the operator. Further, the processing circuit 21 controls the GUI for receiving the operator's instruction, the image stored in the storage circuit 25, and the like to be displayed on the display 23.

また、処理回路21は、調整機能211と、制御機能212とを実行する。ここで、例えば、図1に示す処理回路21の構成要素である調整機能211と、制御機能212とが実行する各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路25に記録されている。処理回路21は、各プログラムを記憶回路25から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路21は、図1の処理回路21内に示された各機能を有することとなる。なお、処理回路21が実行する各処理機能について後述する。 Further, the processing circuit 21 executes the adjustment function 211 and the control function 212. Here, for example, each processing function executed by the adjustment function 211 and the control function 212, which are components of the processing circuit 21 shown in FIG. 1, is recorded in the storage circuit 25 in the form of a program that can be executed by a computer. There is. The processing circuit 21 is a processor that realizes a function corresponding to each program by reading each program from the storage circuit 25 and executing the program. In other words, the processing circuit 21 in the state where each program is read has each function shown in the processing circuit 21 of FIG. Each processing function executed by the processing circuit 21 will be described later.

以上、X線診断装置100の構成の一例について説明した。かかる構成のもと、本実施形態に係るX線診断装置100は、例えば、血栓などにより血管内に生じた狭窄部位に対する血管内インターベンション治療に利用される。図3は、血管内インターベンション治療時における術者の動作を説明するための図である。 The example of the configuration of the X-ray diagnostic apparatus 100 has been described above. Under such a configuration, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the present embodiment is used for intravascular intervention treatment for a stenotic site generated in a blood vessel due to, for example, a thrombus. FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the operator during the treatment of intravascular intervention.

図3に示すように、術者は、天板14に載置された被検体Pに対して血管内インターベンション治療を行う際に、ディスプレイ23に表示されるX線画像を参照して治療部位を確認する。ここで、X線診断装置100は、X線画像の輝度値を一定に保つために自動輝度調整(ABC:Automatic Brightness Control)機能を備えている。このABC機能は、入力インターフェース22を介して、操作者からABC機能を有効にする設定を受付けた場合に、処理回路21が調整機能211を実行することにより実現される。 As shown in FIG. 3, when performing intravascular intervention treatment on the subject P placed on the top plate 14, the operator refers to the X-ray image displayed on the display 23 and refers to the treatment site. To confirm. Here, the X-ray diagnostic apparatus 100 has an automatic brightness control (ABC: Automatic Brightness Control) function in order to keep the brightness value of the X-ray image constant. This ABC function is realized by the processing circuit 21 executing the adjustment function 211 when a setting for enabling the ABC function is received from the operator via the input interface 22.

より具体的には、調整機能211は、画像データ生成回路24によって生成される画像データに対して所定の関心領域を設定し、設定した関心領域の平均画素値と所定の閾値との比較結果に基づいて、管電圧、管電流及びパルス幅等のX線照射条件を調整することでABC機能を実行する。ここで、調整機能211は、例えば、関心領域内の画像輝度平均値がほぼ一定になるようにX線照射条件を調整する。なお、ABC機能を実行する際に設定される関心領域のことをABC制御ROIとも言う。 More specifically, the adjustment function 211 sets a predetermined region of interest for the image data generated by the image data generation circuit 24, and compares the average pixel value of the set region of interest with the predetermined threshold value. Based on this, the ABC function is executed by adjusting the X-ray irradiation conditions such as the tube voltage, the tube current, and the pulse width. Here, the adjustment function 211 adjusts the X-ray irradiation conditions so that the average image brightness in the region of interest is substantially constant, for example. The area of interest set when the ABC function is executed is also referred to as an ABC control ROI.

また、血管内インターベンション治療時には、被検体Pへの被曝量を低減するために、補償フィルタ27や減衰フィルタ28が使用される場合がある。ここでは、視野内に減衰フィルタ28の金属板28aが挿入された場合について説明する。例えば、操作者は、ディスプレイ23上のGUIや入力インターフェース22上のボタン等を操作して、減衰フィルタ28の金属板28aを視野内に移動させる。また、操作者は、入力インターフェース22上のレバーを操作することで、減衰フィルタ28の金属板28aの位置を移動させることが可能である。例えば、操作者は、ABC機能を実行する際に設定した関心領域の位置に、開口部28bが位置するように金属板28aを移動させる。 Further, at the time of intravascular intervention treatment, a compensation filter 27 or an attenuation filter 28 may be used in order to reduce the exposure dose to the subject P. Here, a case where the metal plate 28a of the attenuation filter 28 is inserted in the field of view will be described. For example, the operator operates the GUI on the display 23, the buttons on the input interface 22, and the like to move the metal plate 28a of the attenuation filter 28 into the field of view. Further, the operator can move the position of the metal plate 28a of the damping filter 28 by operating the lever on the input interface 22. For example, the operator moves the metal plate 28a so that the opening 28b is located at the position of the region of interest set when executing the ABC function.

ここで、従来の技術では、操作者は、減衰フィルタ28の金属板28aの位置を移動させる場合、ディスプレイ23に表示されるX線画像における金属板28aの陰影を見ながら視野内における金属板28aの位置関係を確認することになる。このような金属板28aの陰影をみながら金属板28aを移動させる操作は、操作者にとって手間となる。このため、従来の技術では、減衰フィルタ28を使用しながらABC機能を実行する際、操作者にとって関心領域を設定する操作は複雑になる。 Here, in the conventional technique, when the operator moves the position of the metal plate 28a of the attenuation filter 28, the metal plate 28a in the field of view while observing the shadow of the metal plate 28a in the X-ray image displayed on the display 23. The positional relationship of is confirmed. The operation of moving the metal plate 28a while observing the shadow of the metal plate 28a is troublesome for the operator. Therefore, in the conventional technique, when the ABC function is executed while using the attenuation filter 28, the operation of setting the region of interest for the operator becomes complicated.

このようなことから、第1の実施形態に係るX線診断装置100では、処理回路21が制御機能212を実行することにより、被検体Pへの被曝量を低減させつつ関心領域の設定を容易にする。以下では、制御機能212について詳細に説明する。 For this reason, in the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment, the processing circuit 21 executes the control function 212 to facilitate the setting of the region of interest while reducing the exposure dose to the subject P. To. The control function 212 will be described in detail below.

図4は、第1の実施形態に係る制御機能212によるABC制御ROI設定表示処理の処理手順を示すフローチャートである。図4に示すステップS1からステップS11は、制御機能212に対応するステップである。処理回路21が記憶回路25から制御機能212に対応する所定のプログラムを呼び出し実行することにより、制御機能212が実現されるステップである。なお、図4に示す例では、ABC機能を実行する際に、減衰フィルタ28の金属板28aが視野内に挿入された場合について説明する。 FIG. 4 is a flowchart showing a processing procedure of ABC control ROI setting display processing by the control function 212 according to the first embodiment. Steps S1 to S11 shown in FIG. 4 are steps corresponding to the control function 212. This is a step in which the control function 212 is realized by the processing circuit 21 calling and executing a predetermined program corresponding to the control function 212 from the storage circuit 25. In the example shown in FIG. 4, a case where the metal plate 28a of the attenuation filter 28 is inserted into the field of view when executing the ABC function will be described.

ステップS1では、制御機能212は、減衰フィルタ28の金属板28aの位置を取得する。例えば、制御機能212は、絞り制御回路20から金属板28aの位置を取得する。より具体的には、制御機能212は、金属板28aの4つの頂点の位置を取得する。或いは、制御機能212は、金属板28aの重心の位置を取得する。 In step S1, the control function 212 acquires the position of the metal plate 28a of the damping filter 28. For example, the control function 212 acquires the position of the metal plate 28a from the aperture control circuit 20. More specifically, the control function 212 acquires the positions of the four vertices of the metal plate 28a. Alternatively, the control function 212 acquires the position of the center of gravity of the metal plate 28a.

そして、ステップS2では、制御機能212は、ステップS1で取得した金属板28aの位置に基づいて、ディスプレイ23上のABC制御ROIの位置及び領域を計算する。例えば、制御機能212は、取得した金属板28aの位置から開口部28bの位置を求める。制御機能212は、金属板28aの位置とディスプレイ23上の位置とを対応付けた情報を保持しており、求めた開口部28bの位置に対応するディスプレイ23上の位置及び領域を、ディスプレイ23上のABC制御ROIの位置及び領域として求める。 Then, in step S2, the control function 212 calculates the position and region of the ABC control ROI on the display 23 based on the position of the metal plate 28a acquired in step S1. For example, the control function 212 obtains the position of the opening 28b from the acquired position of the metal plate 28a. The control function 212 holds information in which the position of the metal plate 28a is associated with the position on the display 23, and the position and area on the display 23 corresponding to the obtained position of the opening 28b are set on the display 23. It is obtained as the position and region of the ABC control ROI of.

ステップS3では、制御機能212は、ステップS2で求めたディスプレイ23上のABC制御ROIの位置及び領域に基づいて、ABC制御ROIを設定する。言い換えると、制御機能212は、ステップS2で求めた開口部28bに対応する位置及び領域をABC制御ROIに設定する。ここで、制御機能212は、生成されたX線画像を用いてROIを設定し、ABC制御を行う場合、対象とする画素数が多くなる。このため、制御機能212は、電気信号を用いて生成されたX線画像を圧縮し、圧縮後のX線画像においてABC制御ROIを設定する。例えば、制御機能212は、生成されたX線画像を32ピクセル×32ピクセルのX線画像に圧縮し、圧縮後のX線画像において開口部28bに対応する位置及び領域をABC制御ROIに設定する。 In step S3, the control function 212 sets the ABC control ROI based on the position and area of the ABC control ROI on the display 23 obtained in step S2. In other words, the control function 212 sets the position and region corresponding to the opening 28b obtained in step S2 in the ABC control ROI. Here, when the control function 212 sets the ROI using the generated X-ray image and performs ABC control, the number of target pixels increases. Therefore, the control function 212 compresses the X-ray image generated by using the electric signal, and sets the ABC control ROI in the compressed X-ray image. For example, the control function 212 compresses the generated X-ray image into an X-ray image of 32 pixels × 32 pixels, and sets the position and region corresponding to the opening 28b in the ABC control ROI in the compressed X-ray image. ..

また、制御機能212は、開口部28bより開口部28bの中心側にABC制御ROIを設定する。制御機能212は、設定したABC制御ROIを調整機能211に通知する。この結果、調整機能211は、電気信号を用いて生成された画像において開口部28bに対応する関心領域内の輝度値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する。かかる場合、調整機能211は、圧縮後のX線画像において開口部28bに対応するABC制御ROI内の輝度値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する。 Further, the control function 212 sets the ABC control ROI on the center side of the opening 28b from the opening 28b. The control function 212 notifies the adjustment function 211 of the set ABC control ROI. As a result, the adjustment function 211 adjusts the X-ray irradiation condition based on the comparison result between the brightness value in the region of interest corresponding to the opening 28b and the predetermined threshold value in the image generated by using the electric signal. In such a case, the adjustment function 211 adjusts the X-ray irradiation condition based on the comparison result between the brightness value in the ABC control ROI corresponding to the opening 28b and the predetermined threshold value in the compressed X-ray image.

ステップS4では、制御機能212は、ステップS3で設定したABC制御ROIをディスプレイ23上に表示させる。言い換えると、制御機能212は、ABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。例えば、制御機能212は、ステップS2で求めたディスプレイ23上のABC制御ROIの位置及び領域に基づいて、ディスプレイ23上にABC制御ROIを設定する。ここで、制御機能212は、ディスプレイ23上に表示されるX線画像において、開口部28bより開口部28bの中心側にABC制御ROIを設定する。 In step S4, the control function 212 displays the ABC control ROI set in step S3 on the display 23. In other words, the control function 212 causes the display 23 to display information indicating the position of the ABC control ROI. For example, the control function 212 sets the ABC control ROI on the display 23 based on the position and area of the ABC control ROI on the display 23 obtained in step S2. Here, the control function 212 sets the ABC control ROI on the center side of the opening 28b from the opening 28b in the X-ray image displayed on the display 23.

ステップS5では、制御機能212は、減衰フィルタ28の金属板28aの位置の移動を受付けたか否かを判定する。ここで、制御機能212は、減衰フィルタ28の金属板28aの位置の移動を受付けたと判定した場合(ステップS5、Yes)、ステップS1に移行して、ステップS2からステップS4までの処理を再度実行する。すなわち、制御機能212は、フィルタの移動に伴い開口部28bの位置が移動した場合、移動後の開口部28bに対応するABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。 In step S5, the control function 212 determines whether or not the movement of the position of the metal plate 28a of the damping filter 28 has been accepted. Here, when the control function 212 determines that the movement of the position of the metal plate 28a of the damping filter 28 has been accepted (step S5, Yes), the process proceeds to step S1 and the processes from step S2 to step S4 are executed again. To do. That is, when the position of the opening 28b moves with the movement of the filter, the control function 212 causes the display 23 to display information indicating the position of the ABC control ROI corresponding to the moved opening 28b.

一方、制御機能212は、減衰フィルタ28の金属板28aの位置の移動を受付けたと判定しなかった場合(ステップS5、No)、ステップS6に移行する。ところで、操作者は、例えば、治療部位をより見やすくするために、SID(Source to image-receptor distance)やFOV(Field Of View)を変更する場合がある。そこで、ステップS6以降では、SIDやFOVを変更する場合の処理について図5Aから図6Dを用いて説明する。なお、図5Aから図6Dは、第1の実施形態を説明するための図である。 On the other hand, when the control function 212 does not determine that the movement of the position of the metal plate 28a of the damping filter 28 has been accepted (steps S5 and No), the process proceeds to step S6. By the way, the operator may change the SID (Source to image-receptor distance) or the FOV (Field Of View) in order to make the treatment site easier to see, for example. Therefore, in steps S6 and subsequent steps, the processing when the SID and FOV are changed will be described with reference to FIGS. 5A to 6D. It should be noted that FIGS. 5A to 6D are diagrams for explaining the first embodiment.

ステップS6では、制御機能212は、SIDの変更を受付けたか否かを判定する。ここで、制御機能212は、SIDの変更を受付けたと判定した場合(ステップS6、Yes)、ステップS7に移行する。例えば、制御機能212は、図5Aに示すように、X線管12からの距離がaの位置にあるX線検出器16が、X線管12からの距離がbの位置まで移動した場合、SIDの変更を受付けたと判定する。一方、制御機能212は、SIDの変更を受付けたと判定しなかった場合(ステップS6、No)、ステップS9に移行する。 In step S6, the control function 212 determines whether or not the SID change has been accepted. Here, when the control function 212 determines that the change of the SID has been accepted (step S6, Yes), the control function 212 proceeds to step S7. For example, in the control function 212, as shown in FIG. 5A, when the X-ray detector 16 whose distance from the X-ray tube 12 is at the position a moves to the position where the distance from the X-ray tube 12 is b. It is determined that the change in SID has been accepted. On the other hand, if the control function 212 does not determine that the change in SID has been accepted (steps S6 and No), the process proceeds to step S9.

ステップS7では、制御機能212は、ABC制御ROIを設定する。例えば、制御機能212は、X線管12とX線検出器16との間の距離が変更された場合、X線検出器16に投影される開口部28bの大きさに応じたABC制御ROIをX線画像に設定する。言い換えると、制御機能212は、SID変更後のX線検出器16に投影される開口部28bに対応するABC制御ROIを設定する。以下では、ステップS7におけるABC制御ROIを設定する処理について説明する。 In step S7, the control function 212 sets the ABC control ROI. For example, the control function 212 sets the ABC control ROI according to the size of the opening 28b projected on the X-ray detector 16 when the distance between the X-ray tube 12 and the X-ray detector 16 is changed. Set to X-ray image. In other words, the control function 212 sets the ABC control ROI corresponding to the opening 28b projected on the X-ray detector 16 after the SID change. Hereinafter, the process of setting the ABC control ROI in step S7 will be described.

制御機能212は、SIDの変更を受付けたと判定した場合、Cアーム回転・移動機構17から現在のSIDを取得する。図5Aに示す例では、制御機能212は、変更後のSIDがbであることをCアーム回転・移動機構17から取得する。なお、制御機能212は、前回設定時にSIDを取得しているので、変更前のSIDがaであることを保持している。これにより、制御機能212は、SIDがaからbに変更されたと算出する。また、制御機能212は、変更前後のSID比がb/aであると求める。 When the control function 212 determines that the change of the SID has been accepted, the control function 212 acquires the current SID from the C-arm rotation / movement mechanism 17. In the example shown in FIG. 5A, the control function 212 acquires from the C-arm rotation / movement mechanism 17 that the changed SID is b. Since the control function 212 has acquired the SID at the time of the previous setting, it holds that the SID before the change is a. As a result, the control function 212 calculates that the SID has been changed from a to b. Further, the control function 212 requires that the SID ratio before and after the change is b / a.

また、図5Aでは、開口部28bを通過したX線の照射範囲を破線で示す。かかる破線で示すX線の照射範囲が、X線検出器16に投影される開口部28bに対応する。また、図5B上図は、SID変更前のX線検出器16に投影される開口部28bを図示し、図5B下図は、SID変更後のX線検出器16に投影される開口部28bを図示している。ここで、SID変更後のX線検出器16に投影される開口部28bの大きさは、SID変更前のX線検出器16に投影される開口部28bの大きさに対して、変更前後のSID比で表現される。 Further, in FIG. 5A, the irradiation range of X-rays passing through the opening 28b is shown by a broken line. The X-ray irradiation range shown by the broken line corresponds to the opening 28b projected on the X-ray detector 16. Further, the upper figure of FIG. 5B illustrates the opening 28b projected on the X-ray detector 16 before the SID change, and the lower figure of FIG. 5B shows the opening 28b projected on the X-ray detector 16 after the SID change. It is shown in the figure. Here, the size of the opening 28b projected on the X-ray detector 16 after the SID change is before and after the change with respect to the size of the opening 28b projected on the X-ray detector 16 before the SID change. Expressed as a SID ratio.

続いて、制御機能212は、変更前後のSID比を用いた内部処理によりX線画像においてABC制御ROIを設定する。ここで、制御機能212は、生成されたX線画像を用いてROIを設定し、ABC制御を行う場合、対象とする画素数が多くなる。このため、制御機能212は、電気信号を用いて生成されたX線画像を圧縮し、圧縮後のX線画像においてABC制御ROIを設定する。 Subsequently, the control function 212 sets the ABC control ROI in the X-ray image by internal processing using the SID ratio before and after the change. Here, when the control function 212 sets the ROI using the generated X-ray image and performs ABC control, the number of target pixels increases. Therefore, the control function 212 compresses the X-ray image generated by using the electric signal, and sets the ABC control ROI in the compressed X-ray image.

例えば、図5Cに示すように、制御機能212は、生成されたX線画像を32ピクセル×32ピクセルのX線画像に圧縮する。図5C上図は、圧縮後のX線画像において設定したSID変更前のABC制御ROIを示し、図5C下図は、圧縮後のX線画像において設定したSID変更後のABC制御ROIを示す。制御機能212は、図5C上図において設定したABC制御ROIに対して変更前後のSID比を用いることで、図5C下図に示すABC制御ROIを設定する。すなわち、制御機能212は、図5C上図に示すABC制御ROIをb/a倍することで図5C下図に示すABC制御ROIを設定する。また、制御機能212は、SID変更後のABC制御ROIを調整機能211に通知する。この結果、調整機能211は、SID変更後のABC制御ROI内の輝度値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する。かかる場合、調整機能211は、圧縮後のX線画像におけるABC制御ROI内の輝度値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する。 For example, as shown in FIG. 5C, the control function 212 compresses the generated X-ray image into a 32 pixel × 32 pixel X-ray image. The upper figure of FIG. 5C shows the ABC control ROI before the SID change set in the compressed X-ray image, and the lower figure of FIG. 5C shows the ABC control ROI after the SID change set in the compressed X-ray image. The control function 212 sets the ABC control ROI shown in the lower figure of FIG. 5C by using the SID ratio before and after the change with respect to the ABC control ROI set in the upper figure of FIG. 5C. That is, the control function 212 sets the ABC control ROI shown in the lower figure of FIG. 5C by multiplying the ABC control ROI shown in the upper figure of FIG. 5C by b / a. Further, the control function 212 notifies the adjustment function 211 of the ABC control ROI after the SID change. As a result, the adjustment function 211 adjusts the X-ray irradiation condition based on the comparison result between the brightness value in the ABC control ROI after the SID change and the predetermined threshold value. In such a case, the adjustment function 211 adjusts the X-ray irradiation condition based on the comparison result between the brightness value in the ABC control ROI and the predetermined threshold value in the compressed X-ray image.

ステップS8では、制御機能212は、設定したABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。図5Dでは、ディスプレイ23上に表示されたABC制御ROIを示す情報の一例を示す。図5D上図は、SID変更前のABC制御ROIの位置を示す情報を示し、図5D下図は、SID変更後のABC制御ROIの位置を示す情報を示す。 In step S8, the control function 212 causes the display 23 to display information indicating the position of the set ABC control ROI. FIG. 5D shows an example of information indicating the ABC control ROI displayed on the display 23. The upper figure of FIG. 5D shows the information showing the position of the ABC control ROI before the SID change, and the lower figure of FIG. 5D shows the information showing the position of the ABC control ROI after the SID change.

ここで、制御機能212は、ディスプレイ23上に表示されるX線画像において、開口部28bより開口部28bの中心側にABC制御ROIを設定する。一例をあげると、制御機能212は、図5D上図に示すように、SID変更前のABC制御ROIの位置を示す情報を実線で表示させる。同様に、制御機能212は、図5D下図に示すように、SID変更後のABC制御ROIの位置を示す情報を実線で表示させる。なお、制御機能212は、ABC制御ROIの位置を示す情報を表示させる場合、ABC制御ROIの外側に、開口部28bに対応する情報をディスプレイ23上に更に表示させてもよい。例えば、制御機能212は、ABC制御ROIとは別の表示形態で開口部28bに対応する情報を表示させる。 Here, the control function 212 sets the ABC control ROI on the center side of the opening 28b from the opening 28b in the X-ray image displayed on the display 23. As an example, the control function 212 displays information indicating the position of the ABC control ROI before the SID change with a solid line, as shown in the upper diagram of FIG. 5D. Similarly, as shown in the lower figure of FIG. 5D, the control function 212 displays information indicating the position of the ABC control ROI after the SID change with a solid line. When displaying the information indicating the position of the ABC control ROI, the control function 212 may further display the information corresponding to the opening 28b on the display 23 outside the ABC control ROI. For example, the control function 212 displays the information corresponding to the opening 28b in a display form different from the ABC control ROI.

ステップS9では、制御機能212は、FOVの変更を受付けたか否かを判定する。例えば、制御機能212は、入力インターフェース22を介して、操作者からFOVを変更する指示を受付けたか否かを判定する。ここで、制御機能212は、FOVの変更を受付けたと判定した場合(ステップS9、Yes)、ステップS10に移行する。例えば、制御機能212は、図6Aに示すように、X線検出器16の有効視野が、FOV−Aで示す範囲からFOV−Bで示す範囲に変更された場合、FOVの変更を受付けたと判定する。一方、制御機能212は、FOVの変更を受付けたと判定しなかった場合(ステップS9、No)、ステップS11に移行する。 In step S9, the control function 212 determines whether or not the FOV change has been accepted. For example, the control function 212 determines whether or not an instruction to change the FOV has been received from the operator via the input interface 22. Here, when the control function 212 determines that the change of the FOV has been accepted (step S9, Yes), the control function 212 proceeds to step S10. For example, as shown in FIG. 6A, the control function 212 determines that the change in FOV has been accepted when the effective field of view of the X-ray detector 16 is changed from the range indicated by FOV-A to the range indicated by FOV-B. To do. On the other hand, if the control function 212 does not determine that the change in the FOV has been accepted (steps S9 and No), the process proceeds to step S11.

ステップS10では、制御機能212は、FOVの大きさに応じたABC制御ROIを表示させる。以下では、ステップS10におけるFOVの大きさに応じたABC制御ROIを表示させる処理について説明する。ここで、制御機能212は、X線検出器16の有効視野が変更された場合、X線画像において設定したABC制御ROIの大きさを変更しない。例えば、図6B上図は、FOV変更前のX線検出器16に投影される開口部28bを図示し、図6B下図は、FOV変更後のX線検出器16に投影される開口部28bを図示している。ここで、FOV変更後のX線検出器16の有効視野は、図6B下図の斜線部分が視野から外れるため狭くなるが、FOV変更後のX線検出器16に投影される開口部28bの大きさは、FOV変更前のX線検出器16に投影される開口部28bの大きさと同じである。 In step S10, the control function 212 displays the ABC control ROI according to the magnitude of the FOV. Hereinafter, the process of displaying the ABC control ROI according to the magnitude of the FOV in step S10 will be described. Here, the control function 212 does not change the size of the ABC control ROI set in the X-ray image when the effective field of view of the X-ray detector 16 is changed. For example, the upper figure of FIG. 6B illustrates the opening 28b projected on the X-ray detector 16 before the FOV change, and the lower figure of FIG. 6B shows the opening 28b projected on the X-ray detector 16 after the FOV change. It is shown in the figure. Here, the effective field of view of the X-ray detector 16 after the FOV change is narrowed because the shaded portion in the lower figure of FIG. 6B is out of the field of view, but the size of the opening 28b projected on the X-ray detector 16 after the FOV change is large. The size of the opening 28b projected on the X-ray detector 16 before the FOV change is the same.

また、FOV変更前後でX線検出器16に投影される開口部28bの大きさは同じであるので、図6Cに示すように、圧縮後のX線画像において設定するABC制御ROIもFOV変更前後で同じである。図6C上図は、圧縮後のX線画像において設定したFOV変更前のABC制御ROIを示し、図6C下図は、圧縮後のX線画像において設定したFOV変更後のABC制御ROIを示す。 Further, since the size of the opening 28b projected on the X-ray detector 16 is the same before and after the FOV change, as shown in FIG. 6C, the ABC control ROI set in the compressed X-ray image is also before and after the FOV change. Is the same. The upper figure of FIG. 6C shows the ABC control ROI before the FOV change set in the compressed X-ray image, and the lower figure of FIG. 6C shows the ABC control ROI after the FOV change set in the compressed X-ray image.

また、制御機能212は、ABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。図6Dでは、ディスプレイ23上に表示されたABC制御ROIを示す情報の一例を示す。図6D上図は、FOV変更前のABC制御ROIの位置を示す情報を示し、図6D下図は、FOV変更後のABC制御ROIの位置を示す情報を示す。 Further, the control function 212 causes the display 23 to display information indicating the position of the ABC control ROI. FIG. 6D shows an example of information indicating the ABC control ROI displayed on the display 23. The upper figure of FIG. 6D shows the information showing the position of the ABC control ROI before the FOV change, and the lower figure of FIG. 6D shows the information showing the position of the ABC control ROI after the FOV change.

ここで、制御機能212は、ディスプレイ23上に表示されるX線画像において、開口部28bより開口部28bの中心側にABC制御ROIを設定する。一例をあげると、制御機能212は、図6D上図に示すように、FOV変更前のABC制御ROIの位置を示す情報を実線で表示させる。同様に、制御機能212は、図6D下図に示すように、FOV変更後のABC制御ROIの位置を示す情報を実線で表示させる。更に、制御機能212は、変更後の有効視野の大きさに応じたABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。例えば、制御機能212は、有効視野が狭くなった場合、図6D下図に示すように、FOV変更後のABC制御ROIの位置を示す情報を拡大して表示させる。なお、制御機能212は、有効視野が広くなった場合、FOV変更後のABC制御ROIの位置を示す情報を縮小して表示させる。なお、制御機能212は、ABC制御ROIの位置を示す情報を表示させる場合、ABC制御ROIの外側に、開口部28bに対応する情報をディスプレイ23上に更に表示させてもよい。例えば、制御機能212は、ABC制御ROIとは別の表示形態で開口部28bに対応する情報を表示させる。 Here, the control function 212 sets the ABC control ROI on the center side of the opening 28b from the opening 28b in the X-ray image displayed on the display 23. As an example, the control function 212 displays information indicating the position of the ABC control ROI before the FOV change with a solid line, as shown in the upper diagram of FIG. 6D. Similarly, the control function 212 displays information indicating the position of the ABC control ROI after the FOV change with a solid line, as shown in the lower figure of FIG. 6D. Further, the control function 212 causes the display 23 to display information indicating the position of the ABC control ROI according to the size of the effective field of view after the change. For example, when the effective field of view is narrowed, the control function 212 enlarges and displays the information indicating the position of the ABC control ROI after the FOV is changed, as shown in the lower figure of FIG. 6D. When the effective field of view is widened, the control function 212 reduces and displays the information indicating the position of the ABC control ROI after the FOV is changed. When displaying the information indicating the position of the ABC control ROI, the control function 212 may further display the information corresponding to the opening 28b on the display 23 outside the ABC control ROI. For example, the control function 212 displays the information corresponding to the opening 28b in a display form different from the ABC control ROI.

ステップS11では、制御機能212は、ABC制御ROI設定表示処理の終了を受付けたか否かを判定する。ここで、制御機能212は、ABC制御ROI設定表示処理の終了を受付けたと判定した場合(ステップS11、Yes)、処理を終了する。一方、制御機能212は、ABC制御ROI設定表示処理の終了を受付けたと判定しなかった場合(ステップS11、No)、ステップS1に移行する。 In step S11, the control function 212 determines whether or not the end of the ABC control ROI setting display process has been accepted. Here, when the control function 212 determines that the end of the ABC control ROI setting display process has been accepted (step S11, Yes), the process ends. On the other hand, when the control function 212 does not determine that the end of the ABC control ROI setting display process has been accepted (steps S11, No), the process proceeds to step S1.

上述したように、第1の実施形態に係る制御機能212は、ABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させ、金属板28aの移動に伴い開口部28bの位置が移動した場合、移動後の開口部28bに対応するABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。これにより、第1の実施形態によれば、被検体への被曝量を低減させつつ関心領域の設定を容易にすることができる。 As described above, the control function 212 according to the first embodiment displays information indicating the position of the ABC control ROI on the display 23, and moves when the position of the opening 28b moves with the movement of the metal plate 28a. Information indicating the position of the ABC control ROI corresponding to the later opening 28b is displayed on the display 23. Thereby, according to the first embodiment, it is possible to easily set the region of interest while reducing the exposure dose to the subject.

また、上述した第1の実施形態では、金属板28aの移動に伴い、ABC制御ROIが追従して設定される。このため、減衰フィルタ28の開口部28bにおけるX線画像の明るさを適切に輝度値に維持することができる。この結果、X線画像の画質を向上させることが可能になる。 Further, in the first embodiment described above, the ABC control ROI is set following the movement of the metal plate 28a. Therefore, the brightness of the X-ray image at the opening 28b of the attenuation filter 28 can be appropriately maintained at the brightness value. As a result, it becomes possible to improve the image quality of the X-ray image.

(第2の実施形態)
第1の実施形態では、ABC機能を実行する際に、減衰フィルタ28が視野内に挿入される場合について説明した。ところで、ABC機能を実行する際に、補償フィルタ27が視野内に挿入される場合がある。また、X線診断装置100が有する補償フィルタ27には、開口部が形成される場合がある。このようなことから、第2の実施形態では、ABC機能を実行する際に、減衰フィルタ28ではなく、開口部を有する補償フィルタ27が視野内に挿入される場合について説明する。
(Second Embodiment)
In the first embodiment, the case where the attenuation filter 28 is inserted in the field of view when executing the ABC function has been described. By the way, when executing the ABC function, the compensation filter 27 may be inserted in the field of view. Further, an opening may be formed in the compensation filter 27 included in the X-ray diagnostic apparatus 100. Therefore, in the second embodiment, the case where the compensation filter 27 having an opening is inserted into the field of view instead of the attenuation filter 28 will be described when the ABC function is executed.

なお、第2の実施形態に係るX線診断装置100の全体構成は、補償フィルタ27が有する金属板の構成が異なる点を除いて、図1に示した構成例と同様である。このため、図1と同様の構成については説明を省略する。図7Aから図7Cは、第2の実施形態を説明するための図である。 The overall configuration of the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the second embodiment is the same as the configuration example shown in FIG. 1, except that the configuration of the metal plate included in the compensation filter 27 is different. Therefore, the description of the same configuration as in FIG. 1 will be omitted. 7A to 7C are diagrams for explaining the second embodiment.

図7Aでは、補償フィルタ27が2枚の金属板を有する場合について説明する。図7Aに示すように、補償フィルタ27は、独立して移動可能な、金属板27aと金属板27bとを有する。なお、図7Aでは図示を省略するが、補償フィルタ27は、各金属板の回転移動及び水平移動を制御する駆動機構を有する。 FIG. 7A describes a case where the compensation filter 27 has two metal plates. As shown in FIG. 7A, the compensation filter 27 has a metal plate 27a and a metal plate 27b that can be moved independently. Although not shown in FIG. 7A, the compensation filter 27 has a drive mechanism for controlling the rotational movement and horizontal movement of each metal plate.

また、第1の実施形態に係る金属板と同様に、金属板27a及び金属板27bの材質は、例えば、銅板、アルミニウム等である。なお、金属板27a及び金属板27bの材質は、X線を減衰させることが可能であれば、銅板やアルミニウム以外であってもよい。また、金属板27a及び金属板27bは、例えば長方形状であり、長方形の一部に切欠きを有する。この金属板27a及び金属板27bは、絞り制御回路20による制御の下、駆動機構を介して回転移動又は水平移動する。 Further, similarly to the metal plate according to the first embodiment, the material of the metal plate 27a and the metal plate 27b is, for example, a copper plate, aluminum, or the like. The material of the metal plate 27a and the metal plate 27b may be other than a copper plate or aluminum as long as it can attenuate X-rays. Further, the metal plate 27a and the metal plate 27b are, for example, rectangular in shape, and have a notch in a part of the rectangle. The metal plate 27a and the metal plate 27b rotate or move horizontally via a drive mechanism under the control of the aperture control circuit 20.

そして、操作者が入力インターフェース22を介して金属板27a及び金属板27bを操作すると、絞り制御回路20による制御の下、金属板27a及び金属板27bが移動する。ここで、操作者は、例えば、図7Bに示すように、金属板27a及び金属板27bが関心領域27cを囲むように操作する。或いは、操作者は、図7Cに示すように、金属板27a及び金属板27bが関心領域27cを囲むように移動する。 Then, when the operator operates the metal plate 27a and the metal plate 27b via the input interface 22, the metal plate 27a and the metal plate 27b move under the control of the throttle control circuit 20. Here, for example, as shown in FIG. 7B, the operator operates the metal plate 27a and the metal plate 27b so as to surround the region of interest 27c. Alternatively, the operator moves the metal plate 27a and the metal plate 27b so as to surround the region of interest 27c, as shown in FIG. 7C.

関心領域27cを囲むように金属板27a及び金属板27bが移動した後、操作者から関心領域として設定する指示を受付けることで、絞り制御回路20は、金属板27a及び金属板27bの位置関係を保持した状態で、開口部を有する1つの金属板として動かすように制御する。 After the metal plate 27a and the metal plate 27b move so as to surround the region of interest 27c, the aperture control circuit 20 determines the positional relationship between the metal plate 27a and the metal plate 27b by receiving an instruction from the operator to set the region of interest. In the held state, it is controlled to move as one metal plate having an opening.

また、第2の実施形態に係る制御機能212は、第1の実施形態に係る制御機能212と同様の機能を実行する。例えば、第2の実施形態に係る制御機能212は、操作者から関心領域として設定する指示を受付けることで、関心領域27cをABC制御ROIとして設定する。ここで、制御機能212は、ディスプレイ23上に表示されるX線画像において、開口部より開口部の中心側にABC制御ROIを設定する。 Further, the control function 212 according to the second embodiment executes the same function as the control function 212 according to the first embodiment. For example, the control function 212 according to the second embodiment sets the region of interest 27c as the ABC control ROI by receiving an instruction to set the region of interest as the region of interest from the operator. Here, the control function 212 sets the ABC control ROI on the center side of the opening from the opening in the X-ray image displayed on the display 23.

また、制御機能212は、設定したABC制御ROIを調整機能211に通知する。これにより、調整機能211は、設定されたABC制御ROI内の輝度値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する。かかる場合、調整機能211は、圧縮後のX線画像におけるABC制御ROI内の輝度値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する。 Further, the control function 212 notifies the adjustment function 211 of the set ABC control ROI. As a result, the adjustment function 211 adjusts the X-ray irradiation condition based on the comparison result between the brightness value in the set ABC control ROI and the predetermined threshold value. In such a case, the adjustment function 211 adjusts the X-ray irradiation condition based on the comparison result between the brightness value in the ABC control ROI and the predetermined threshold value in the compressed X-ray image.

また、制御機能212は、ABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。そして、第2の実施形態に係る制御機能212は、金属板27a及び27bの移動に伴い開口部の位置が移動した場合、移動後の開口部に対応するABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。これにより、第2の実施形態によれば、被検体への被曝量を低減させつつ関心領域の設定を容易にすることができる。 Further, the control function 212 causes the display 23 to display information indicating the position of the ABC control ROI. Then, when the position of the opening moves with the movement of the metal plates 27a and 27b, the control function 212 according to the second embodiment displays information indicating the position of the ABC control ROI corresponding to the moved opening. Display on 23. Thereby, according to the second embodiment, it is possible to easily set the region of interest while reducing the exposure dose to the subject.

なお、制御機能212は、X線管12とX線検出器16との間の距離が変更された場合、X線検出器16に投影される開口部の大きさに応じたABC制御ROIをX線画像に設定する。また、制御機能212は、X線検出器16の有効視野が変更された場合、X線画像において設定したABC制御ROIを変更せず、かつ、変更後の有効視野の大きさに応じたABC制御ROIの位置を示す情報をディスプレイ23に表示させる。 The control function 212 sets the ABC control ROI according to the size of the opening projected on the X-ray detector 16 when the distance between the X-ray tube 12 and the X-ray detector 16 is changed. Set to line image. Further, the control function 212 does not change the ABC control ROI set in the X-ray image when the effective field of view of the X-ray detector 16 is changed, and ABC control according to the size of the changed effective field of view. Information indicating the position of the ROI is displayed on the display 23.

また、上述した第2の実施形態では、金属板27a及び27bの移動に伴い、ABC制御ROIが追従して設定される。このため、補償フィルタ27の開口部におけるX線画像の明るさを適切に輝度値に維持することができる。この結果、X線画像の画質を向上させることが可能になる。 Further, in the second embodiment described above, the ABC control ROI is set following the movement of the metal plates 27a and 27b. Therefore, the brightness of the X-ray image at the opening of the compensation filter 27 can be appropriately maintained at the brightness value. As a result, it becomes possible to improve the image quality of the X-ray image.

(その他の実施形態)
実施形態は、上述した実施形態に限られるものではない。
(Other embodiments)
The embodiment is not limited to the above-described embodiment.

上述した実施形態では、補償フィルタ27は、独立して移動可能な金属板を複数有するものとして説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、補償フィルタ27が有する金属板は、一枚板で形成されてもよい。また、補償フィルタ27が有する金属板が一枚板で形成される場合、この金属板には開口部が形成されるようにしてもよい。 In the above-described embodiment, the compensation filter 27 has been described as having a plurality of independently movable metal plates, but the embodiment is not limited to this. For example, the metal plate included in the compensation filter 27 may be formed of a single plate. Further, when the metal plate of the compensation filter 27 is formed of a single plate, an opening may be formed in the metal plate.

また、上述した実施形態では、減衰フィルタ28が有する金属板28aは、水平移動するものとして説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、減衰フィルタ28が有する金属板28aは、回転移動してもよい。 Further, in the above-described embodiment, the metal plate 28a included in the damping filter 28 has been described as horizontally moving, but the embodiment is not limited to this. For example, the metal plate 28a included in the damping filter 28 may be rotationally moved.

図1に示す例では、補償フィルタ27は、コリメータ13と減衰フィルタ28との間に設けられるものとして図示しているが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、補償フィルタ27や減衰フィルタ28が設けられる位置は、X線管12と被検体Pとの間であれば任意に変更可能である。 In the example shown in FIG. 1, the compensation filter 27 is shown as being provided between the collimator 13 and the attenuation filter 28, but the embodiment is not limited to this. For example, the position where the compensation filter 27 and the attenuation filter 28 are provided can be arbitrarily changed as long as it is between the X-ray tube 12 and the subject P.

また、上述した実施形態では、X線診断装置100が、補償フィルタ27と減衰フィルタ28とを有するものとして説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、X線診断装置100は、第1の実施形態で説明した減衰フィルタ28及び第2の実施形態で説明した補償フィルタ27のいずれか一方を有するようにしてもよい。 Further, in the above-described embodiment, the X-ray diagnostic apparatus 100 has been described as having the compensation filter 27 and the attenuation filter 28, but the embodiment is not limited to this. For example, the X-ray diagnostic apparatus 100 may have either the attenuation filter 28 described in the first embodiment or the compensation filter 27 described in the second embodiment.

また、上述した実施形態では、血管内インターベンション治療を行う場合を例に説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。すなわち、上述した実施形態は、X線診断装置100において、ABC機能を実行する際に、開口部を有する補償フィルタ27や減衰フィルタ28が視野内に挿入される場合に適用可能である。 Further, in the above-described embodiment, the case where the intravascular intervention treatment is performed has been described as an example, but the embodiment is not limited to this. That is, the above-described embodiment is applicable when the compensation filter 27 or the attenuation filter 28 having an opening is inserted into the field of view when the ABC function is executed in the X-ray diagnostic apparatus 100.

上記の実施形態の説明において、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況等に応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、CPUおよび当該CPUにて解析実行されるプログラムにて実現され、或いは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。 In the description of the above-described embodiment, each component of each of the illustrated devices is a functional concept, and does not necessarily have to be physically configured as shown in the figure. That is, the specific form of distribution / integration of each device is not limited to the one shown in the figure, and all or part of the device is functionally or physically distributed in arbitrary units according to various loads and usage conditions. It can be integrated and configured. Further, each processing function performed by each device may be realized by a CPU and a program analyzed and executed by the CPU, or may be realized as hardware by wired logic.

また、上記の実施形態で説明した制御方法は、予め用意された制御プログラムをパーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することによって実現することができる。この制御プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。また、この制御プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク(FD)、CD−ROM、MO、DVD等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。 Further, the control method described in the above embodiment can be realized by executing a control program prepared in advance on a computer such as a personal computer or a workstation. This control program can be distributed via a network such as the Internet. Further, this control program can also be executed by being recorded on a computer-readable recording medium such as a hard disk, flexible disk (FD), CD-ROM, MO, or DVD, and being read from the recording medium by the computer.

以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、被検体への被曝量を低減させつつ関心領域の設定を容易にすることができる。 According to at least one embodiment described above, it is possible to easily set the region of interest while reducing the exposure dose to the subject.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention as well as the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.

16 X線検出器
21 処理回路
28 減衰フィルタ
100 X線診断装置
211 調整機能
212 制御機能
16 X-ray detector 21 Processing circuit 28 Attenuation filter 100 X-ray diagnostic device 211 Adjustment function 212 Control function

Claims (4)

X線を照射するX線管から照射され、被検体を透過したX線を検出して電気信号を生成するX線検出器と、
前記X線管と前記被検体との間に設けられ、前記X線管から被曝低減対象の部位に照射されるX線を減衰させる移動可能な複数のフィルタを備えた補償フィルタと、
前記X線管と前記被検体との間に設けられ、前記X線管から照射されたX線を通過させる開口部を有し、開口部以外の部分に照射されたX線を減衰させて透過させる減衰フィルタと、
前記電気信号を用いて生成された画像において前記開口部に対応する関心領域内の輝度値と所定の閾値との比較結果に基づいて、X線照射条件を調整する調整部と、
前記関心領域の位置を示す情報をディスプレイに表示させ、前記減衰フィルタの移動に伴い前記開口部の位置が移動した場合、移動後の前記開口部に対応する前記関心領域の位置を示す情報をディスプレイに表示されるX線画像上に表示させる制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記X線管と前記X線検出器との間の距離が変更された場合、変更前後の前記距離の比に基づいて、前記X線検出器に投影される前記開口部の大きさに応じて変更した関心領域を前記画像に設定し、設定した前記関心領域の位置を示す情報を前記X線画像上に表示させる、X線診断装置。
An X-ray detector that is irradiated from an X-ray tube that irradiates X-rays, detects X-rays that have passed through the subject, and generates an electrical signal.
A compensating filter provided between the X-ray tube and the subject and provided with a plurality of movable filters for attenuating X-rays emitted from the X-ray tube to a site to be exposed to radiation.
Wherein said X-ray tube is provided between the subject and have a opening for passing the X-rays irradiated from the X-ray tube, the transmittance attenuates the X-rays irradiated to the portion other than the opening Attenuation filter to make
An adjustment unit that adjusts the X-ray irradiation conditions based on the comparison result between the brightness value in the region of interest corresponding to the opening and a predetermined threshold value in the image generated by using the electric signal.
Information indicating the position of the region of interest is displayed on the display, and when the position of the opening moves with the movement of the attenuation filter, information indicating the position of the region of interest corresponding to the opening after the movement is displayed. The control unit to be displayed on the X-ray image displayed in
With
When the distance between the X-ray tube and the X-ray detector is changed, the control unit of the opening projected onto the X-ray detector based on the ratio of the distances before and after the change . An X-ray diagnostic apparatus that sets an area of interest changed according to the size on the image and displays information indicating the position of the set area of interest on the X-ray image .
前記制御部は、前記X線検出器の有効視野が変更された場合、前記画像において設定した前記関心領域を変更せず、かつ、変更後の有効視野の大きさに応じた前記関心領域の位置を示す情報を前記X線画像上に表示させる、請求項1に記載のX線診断装置。 When the effective field of view of the X-ray detector is changed, the control unit does not change the area of interest set in the image, and the position of the area of interest according to the size of the changed effective field of view. The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1, wherein the information indicating the above is displayed on the X-ray image . 前記制御部は、前記画像において、前記開口部より前記開口部の中心側に前記関心領域を設定する、請求項1又は2に記載のX線診断装置。 The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1 or 2, wherein the control unit sets the region of interest from the opening to the center side of the opening in the image. 前記制御部は、前記電気信号を用いて生成された画像を圧縮し、圧縮後の画像において前記関心領域を設定する、請求項1〜3のいずれか一つに記載のX線診断装置。 The X-ray diagnostic apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the control unit compresses an image generated by using the electric signal and sets the region of interest in the compressed image.
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